基于芯片的单因素方差分析方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本说明书实施例提出了一种基于芯片的单因素方差分析方法、装置以及电子设备。该方法包括：基于芯片的固定密钥对多条随机明文进行加密，获取加密过程中S盒变换时各采样时刻的多个能量迹数据；对所述各采样时刻的多个能量迹数据进行方差分析计算，得到检验统计量；根据所述检验统计量得到对应的单因素方差分析结果。根据本说明书实施例，能够对密码设备的安全性作出更为可靠的评估结论。安全性作出更为可靠的评估结论。安全性作出更为可靠的评估结论。

【技术实现步骤摘要】
基于芯片的单因素方差分析方法、装置及电子设备


[0001]本说明书实施例涉及密码分析
，更具体的，涉及一种基于芯片的单因素方差分析方法、一种基于芯片的单因素方差分析装置、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]密码分析学主要研究如何分析和破解密码算法或密钥，到达信息窃取、解读和利用等目的。近年来，侧信道分析成为密码分析学的研究热点，侧信道分析方法突破了传统密码分析方法的数学证明的安全性前提和分析攻击能力的假设，分析者可提取侧信道泄露信息，进而分析还原出密钥数据。
[0003]目前常用的侧信道分析方法主要是测试向量泄漏评估(TestVectorLeakageAssessment，TVLA)，TVLA主要基于独立样本t检验，通过采集加密设备在加密过程中的能量消耗，以统计学的方法判断密码设备的安全性。
[0004]TVLA主要用来评估加密芯片信息泄漏的严重程度。芯片中保存有一个固定密钥key，TVLA使用精心设计的两组测试向量A和B作为明文，用密钥key对A和B加密，在加密过程中采集泄漏数据，然后再使用t检验的方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于芯片的单因素方差分析方法，所述方法包括：基于芯片的固定密钥对多条随机明文进行加密，获取加密过程中S盒变换时各采样时刻的多个能量迹数据；对所述各采样时刻的多个能量迹数据进行方差分析计算，得到检验统计量；根据所述检验统计量得到对应的单因素方差分析结果。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述单因素方差分析结果包括：所述采样时刻对所述能量迹数据有显著影响；或者，所述采样时刻对所述能量迹数据没有显著影响。3.根据权利要求2所述的方法，其中，在所述单因素方差分析结果为所述采样时刻对所述能量迹数据有显著影响时，所述方法还包括：采用多重比较方法，从所述各采样时刻中确定出对所述能量迹数据产生影响的采样时刻。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述各采样时刻的多个能量迹数据进行方差分析计算，得到检验统计量，包括：分别计算各采样时刻的多个能量迹数据的均值；基于所述采样时刻的多个能量迹数据的均值，计算能量迹数据的总均值；计算各采样时刻的均值与所述总均值的组间平方和，以及各采样时刻的不同能量迹数据与所述采样时刻的均值间的组内平方和；计算所述组间平方和的组间方差和所述组内平方和组内方差；基于所述组间方差和所述组内方差，得到所述检验统计量。5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述计算所述组间平方和的组间方差和所述组内平方和组内方差，包括：计算所述组间平...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯汉文，周菁，张玉娟，林卫国，尚文倩，
申请(专利权)人：中国传媒大学，
类型：发明
国别省市：