【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磁电阻薄膜的制备方法,特别是涉及各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备。
技术介绍
各向异性磁电阻(Anisotropic Magnetoresistance,AMR)坡莫合金薄膜(Ni81Fe19)通常选用Ta作为Ni81Fe19薄膜的(111)织构诱导层,亦即种子层,所以,其结构简单、制作相对容易、价廉、稳定性好,在体积、质量及成本上有很大优势,即使在发现了巨磁电阻(Giant Magnetoresistance,GMR)效应并且其产品迅速开发的今天,用传统AMR薄膜制做的磁传感器等器件在市场上仍然占主流。目前,国际上在不断地挖掘AMR薄膜的潜力,提高其磁场灵敏度、降低噪音等,以扩大其应用领域。为了达到这个目的,AMR坡莫合金薄膜必须沉积的更薄,矫顽力更小,且AMR值尽可能大。中国专利技术专利ZL 02 1 03673.X中提出的“一种冷阴极溅射制备薄膜的方法及装置”,虽然可以制备出性能良好的较薄坡莫合金薄膜,然而该方法需要镀膜设备本底真空为2×10-7~8×10-7Pa的超高真空,这在工业生产中是很难达到的,即使达到,代价也很高。《科学通报》,4 ...
【技术保护点】
一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法,采用磁控溅射方法,溅射室本底真空度为1×10↑[-5]~6×10↑[-5]Pa,在清洗干净的玻璃基片或单晶硅基片上依次沉积1.0~12.0nmTa、10.0~200.0nmNi↓[y]Fe↓[1-y]和5.0~9.0nmTa,其特征在于,选取不同成分的Ni↓[x]Fe↓[1-x]合金靶;溅射前通入镀膜室99.99%纯度氩气0.5~1小时,维持在气压0.1~0.5Pa;通过对Ni↓[y]Fe↓[1-y]化学分析,找出薄膜成分符合81Ni∶19Fe、并且薄膜杂质含量小于0.1%的情况下所对应的Ni↓[x]Fe↓[1-x]合金靶,利用这个 ...
【技术特征摘要】
1.一种各向异性磁电阻坡莫合金薄膜的制备方法,采用磁控溅射方法,溅射室本底真空度为1×10-5~6×10-5Pa,在清洗干净的玻璃基片或单晶硅基片上依次沉积1.0~12.0nmTa、10.0~200.0nmNiyFe1-y和5.0~9.0nmTa,其特征在于,选取不同成分的NixFe1-x合金靶;溅射前通入镀膜室99.99%纯度氩气0.5~1...
【专利技术属性】
技术研发人员:于广华,滕蛟,朱逢吾,张辉,王立锦,
申请(专利权)人:北京科技大学,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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