一种物体轮廓线提取方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种物体轮廓线提取方法，包括：获取物体的表面模型；在表面模型上获取特征点；从特征点中选择至少一个特征点作为生长点；选取生长点第一预设范围内的不包括生长点的特征点作为待选点；根据生长点的生长方向从待选点中选取新生长点；将新生长点作为生长点进行下一次新生长点的选取；根据所有的生长点生成物体轮廓线。本发明专利技术还公开了一种物体轮廓线提取系统。本发明专利技术通过被赋值的特征点进行数据处理后，就可以生成物体轮廓线，相比于现有技术而言，由于特征点的生长方向有了基础的参照，所以极大的简化的后续运算过程，并且对轮廓线细节精度有了很大提高。廓线细节精度有了很大提高。廓线细节精度有了很大提高。

【技术实现步骤摘要】
一种物体轮廓线提取方法及系统


[0001]本专利技术涉及轮廓线提取技术，具体涉及一种物体轮廓线提取方法及系统。

技术介绍

[0002]基于三维模型的轮廓线提取技术已经被普遍应用于几何处理、逆向工程、航拍路线规划和计算机可视化等诸多领域之中。
[0003]现有技术中，对于轮廓线的提取普遍基于特征点之间的几何关系，如投影、曲率、PCA、视角提取等方式，普遍具有时间代价高、参数设置复杂、微细特征提取能力弱等缺陷。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例所要解决的技术问题是现有的轮廓线提取技术存在诸多缺陷，目的在于提供一种物体轮廓线提取方法及系统，解决上述问题。
[0005]本专利技术实施例通过下述技术方案实现：
[0006]一种物体轮廓线提取方法，包括：
[0007]获取物体的表面模型；
[0008]在所述表面模型上获取特征点；
[0009]从所述特征点中选择至少一个特征点作为生长点；
[0010]选取所述生长点第一预设范围内的不包括生长点的特征点作为待选点；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物体轮廓线提取方法，其特征在于，包括：获取物体的表面模型；在所述表面模型上获取特征点；从所述特征点中选择至少一个特征点作为生长点；选取所述生长点第一预设范围内的不包括生长点的特征点作为待选点；根据所述生长点的生长方向从所述待选点中选取新生长点；将所述新生长点作为生长点进行下一次新生长点的选取；根据所有的所述生长点生成物体轮廓线；获取所述生长点的生长方向包括：提取特征点对应的法向量；特征点对应的法向量为所述特征点对应的网格单元朝向所述表面模型外部的法向量；根据所述法向量生成生长方向；所述生长方向垂直于所述法向量，且位于所述预设截面上。2.根据权利要求1所述的一种物体轮廓线提取方法，其特征在于，所述表面模型为网格模型；所述网格模型包括多个设置于所述物体表面的网格单元；在所述表面模型上获取特征点包括：获取预设截面与所述网格单元的交点，形成特征点。3.根据权利要求1任意一项所述的一种物体轮廓线提取方法，其特征在于，根据所述生长点的生长方向从所述待选点中选取新生长点包括：将夹角最小的待选点作为新生长点；所述夹角为所述生长点到所述待选点的方向与所述生长点的生长方向的夹角；或者，从生长点预设范围内的待选点中获得正向待选点，将夹角最小的正向待选点作为新生长点；正向待选点为夹角在90度范围的待选点。4.根据权利要求3所述的一种物体轮廓线提取方法，其特征在于，根据所述生长点的生长方向从所述待选点中选取新生长点还包括：当最小的所述夹角大于90度时，停止当前新生长点选取，并从最初始的生长点进行反向生长；所述反向生长包括：选取生长点第一预设范围内的待选点；将夹角最大的待选点作为新生长点；或者，当生长点没有正向待选点之后，从最初始的生长点开始以生长方向的反方向为生长方向继续选取新生长点。5.根据权利要求3所述的一种物体轮廓线提取方法，其特征在于，根据所有的所述新生长点生成物体轮廓线包括：对所述新生长点进行处理生成预处理轮廓线；当所述预处理轮廓线为多条时，将多条...

【专利技术属性】
技术研发人员：程登桀，胡东，李小龙，李润，徐芳龙，
申请(专利权)人：成都睿铂科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：