【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术是涉及一种。
技术介绍
目前,使用集成电路的各种设备已广泛普及,并且还在积极致力于进一步的高集成、高密度化。其中之一,尝试发展三维集成技术。然而,任何设备均以晶片等硬基板作为基本构成要素。既然以硬基板作为基材,其制造方法势必受到一定的限制,集成度也会有限度。而且,设备也会受限于某些特定的形状。此外,在棉或绢丝的表面电镀或包覆上金或银等导电材料的导电性纤维,也为众所熟知的技术。然而,目前尚未公开在一条线的内部形成有电路元件的技术。而且,导电性纤维也以棉线或绢丝等丝主体作为基本构成要素,丝主体位于其中心。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种,其形状不受限制,具有柔软性与可挠性,并可形成具有任意形状的各种装置。本专利技术的线状元件,其特征在于,在长度方向上连续或间隔形成有电路元件。此外,本专利技术的线状元件,其特征在于,在长度方向上连续或间隔形成有具有形成电路的多个区域的剖面。再者,本专利技术的线状元件的制造方法,其特征在于,将形成电路元件区域的材料进行溶解或熔融;并以所需的形状线状地压出该材料。亦即,本专利技术中具有在一个剖面内形成电路的多个区域。另外,本专利技术线状元件也包括前端为针状或其他形状的线状元件。(电路元件) 在此,作为电路元件,例如也可举例能量转换元件。能量转换元件是将光能转换成电能、或将电能转换成光能的元件。例如电子电路、磁回路或光回路元件。电路元件与只传送信号的光纤不同,而且也与导线不同。作为电路元件,例如可举例电子电路元件或光回路元件。更具体地说,例如为半导体元件。从现有工艺技术的差异来分类,可举例如分立元件(半导体)、光 ...
【技术保护点】
一种线状元件,其特征在于,在长度方向上连续或间隔形成有电路元件。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2002-5-2 131011/20021.一种线状元件,其特征在于,在长度方向上连续或间隔形成有电路元件。2.一种线状元件,其特征在于,在长度方向上连续或间隔形成有具有形成电路的多个区域的剖面。3.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为能量转换元件。4.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为电子电路元件或光回路元件。5.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为半导体元件。6.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为二极管、三极管或晶闸管。7.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为发光二极管、半导体激光器件或受光器件。8.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为DRAM、SRAM、闪存及其他存储器。9.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为光电元件。10.如权利要求1或2所述的线状元件,其中,上述元件为图象传感器元件或二次电池元件。11.如权利要求1~10中任一项所述的线状元件,其中,纵向剖面形状为圆形、多边形、星形、新月形、花瓣状、文字形状及其他任意形状。12.如权利要求1~11中任一项所述的线状元件,其中,在线侧面上具有多个暴露区。13.如权利要求1~12中任一项所述的线状元件,其中,上述线状元件的全部或一部分是通过压出加工形成的。14.如权利要求13所述的线状元件,其中,上述线状元件的全部或一部分是经压出加工之后再进行延伸加工形成的。15.如权利要求12~14中任一项所述的线状元件,其中,上述线状元件是在压出加工后再进行拉伸加工形成的。16.如权利要求15所述的线状元件,其中,在上述拉伸加工后,形成环状或螺旋状。17.如权利要求16所述的线状元件,其中,上述环为多重环。18.如权利要求17所述的线状元件,其中,上述多重环由不同材料形成。19.如权利要求16~18中任一项所述的线状元件,其中,环或螺旋的一部分形成暴露区。20.如权利要求16~19中任一项所述的线状元件,其中,在上述环或螺旋的空隙部的一部分或全部填入其他材料。21.如权利要求1~20中任一项所述的线状元件,其中,外径为10mm或10mm以下。22.如权利要求1~21中任一项所述的线状元件,其中,外径为1mm或1mm以下。23.如权利要求1~20中任一项所述的线状元件,其中,外径为1μm或1μm以下。24.如权利要求1~23中任一项所述的线状元件,其中,长宽比为10或10以上。25.如权利要求1~24中任一项所述的线状元件,其中,长宽比为100或100以上。26.如权利要求1~25中任一项所述的线状元件,其中,在剖面内形成有栅电极区、绝缘区、源极与漏极区、半导体区。27.如权利要求26所述的线状元件,其中,在中心具有栅电极区,在其外侧依次形成有绝缘区、源极及漏极区、半导体区。28.如权利要求26所述的线状元件,其中,在中心具有中空区域或绝缘区,在其外侧形成有半导体区,并在上述半导体区内形成有部分暴露在外侧的源极及漏极区,在该源极及漏极区外侧形成有绝缘区及栅电极区。29.如权利要求1~26中任一项所述的线状元件,其中,在剖面中形成有至少具有pn接合或pin接合的区域。30.如权利要求1~29中任一项所述的线状元件,其中,形成...
【专利技术属性】
技术研发人员:笠间泰彦,藤本谕,表研次,
申请(专利权)人:理想星株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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