一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪，包括底座，底座的一侧设置有X轴平台，X轴平台上设置有Y轴平台，Y轴平台上设置有Z轴平台，Z轴平台上设置有光学检测装置，Z轴平台的一端上设置有延伸平台，延伸平台上设置有转轴固定板，所述转轴固定板上穿接有转轴，驱动电机与转轴相驱动连接，转轴与光学检测装置相平行设置的连接杆的一端相连，连接杆的另一端上设置有背光灯板，在背光灯随连接杆翻转后，背光灯的光源与光学检测装置的检测镜头在同一轴线设置，底座的另一侧通过旋转轴设置有刀具转盘，刀具转盘上设置有刀具夹持机构，刀具夹持机构随刀具转盘旋转。本实用新型专利技术能提高对产品的检测效率和精确性。能提高对产品的检测效率和精确性。能提高对产品的检测效率和精确性。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪


[0001]本技术涉及一种刀具三维检测仪，尤其涉及一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪。

技术介绍

[0002]切削刀具是机械加工的牙齿。切削刀具生产后，需要对刀具的结构进行测量检测，来判断所生产的刀具是否符合设计要求，请参考专利CN110657756。
[0003]目前，测量刀片/刀具结构方法有，接触式测量法和非接触式测量法：
[0004]接触式测量法采用的仪器主要是轮廓仪和三坐标测量仪。轮廓仪由于采用触针与被测刀具表面进行滑移来实现测量，因此只能形成简单的轮廓线。无法实现复杂结构的精密测量，尤其是针对刀片/刀具的圆柱孔的几何中心截面测量、轮廓仪更是无法保证其触针与圆柱孔的圆心位置精准重合；而三坐标测量仪虽然能实现复杂结构的测量，但其探针直径影响了其可测量的内凹式结构尺寸，探针长度影响了其可测量的深度，同时其测量机构与被测物体往往存在空间位置干涉问题。
[0005]非接触式测量主要以光学为基础，在不接触刀具的情况下测量刀具结构。其中主要的是投影仪、光学电子显微镜及光学轮廓仪。由于此本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪，其特征在于：包括底座(1)，所述底座(1)的一侧设置有X轴平台(2)，所述X轴平台(2)上设置有Y轴平台(3)，所述Y轴平台(3)上设置有Z轴平台(4)，所述Z轴平台(4)上设置有光学检测装置(9)，所述光学检测装置(9)的工作端朝向底座(1)的另一侧设置，朝向底座(1)的另一侧所述Z轴平台(4)的一端上设置有延伸平台(10)，所述延伸平台(10)上设置有转轴固定板，所述转轴固定板上穿接有转轴(11)，所述延伸平台(10)上设置有驱动电机(12)，所述驱动电机(12)与转轴(11)相驱动连接，所述转轴(11)与光学检测装置(9)相平行设置的连接杆(13)的一端相连，所述连接杆(13)的另一端上设置有背光灯板(14)，所述背光灯板(14)上设置有微调整装置(15)，所述微调整装置(15)上设置有背光灯(8)，在背光灯(8)随连接杆翻转后，所述背光灯(8)的光源与光学检测装置(9)的检测镜头在同一轴线设置，所述底座(1)的另一侧通过旋转轴设置有刀具转盘(5)，所述刀具转盘(5)的中心轴与光学检测装置(9)的检测镜头在同一轴线设置，所述刀具转盘(5)上设置有刀具夹持机构(6)，所述刀具夹持机构(6)随刀具转盘旋转，其旋转的角度在
‑
60
°
度至240
°
。2.根据权利要求1所述的一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪，其特征在于：所述有X轴平台(2)、Y轴平台(3)和Z轴平台(4)均由光栅、丝杆以及导轨组成，其它们移动的精度≦0.001mm。3.根据权利要求1所述的一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪，其特征在于：所述底座(1)上设置有若干定位柱(7)，所述定位柱(7)围绕刀具转盘(5)的周边设置。4.根据权利要求3所述的一种适用于刀具的非接触式的光学检测仪，其特征在于：所述定位柱设有3块，它们分设在刀具转盘(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡琳，
申请(专利权)人：上海犹睿太克精密检测仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：