一种IC管座外观检测装置，属于IC管座检测设备技术领域。其特征在于：包括旋转装置、进料装置、绝缘层检测装置、扁头检测装置、引脚检测装置以及出料装置，旋转装置侧部设置有若干放置元件的定位部，进料装置、绝缘层检测装置、扁头检测装置、引脚检测装置以及出料装置沿旋转装置的转动方向依次设置。本IC管座外观检测装置的旋转装置能够带动IC管座运动，使IC管座依次经过绝缘层检测装置、扁头检测装置和引脚检测装置，并依次对IC管座的绝缘层的完整性、扁头与扇形块的相对位置以及引脚进行检测，对IC管座的检测全面，且检测更加准确，检测的速度快。快。快。
【技术实现步骤摘要】
一种IC管座外观检测装置
[0001]一种IC管座外观检测装置，属于IC管座检测设备
技术介绍
[0002]IC管座在生产后需要对外观进行检测，以判断IC管座的外观是否合格。IC管座的一侧设置四个引脚，其中一个引脚的端部连接有扇形块，两个引脚的端部设置有扁头，且扁头对称设置在扇形块的两侧，扁头的侧部与扇形块的对应侧正对设置，与扁头相连的引脚的另一端要求向内倾斜，各引脚与主体之间设置有绝缘层，绝缘层通常采用透明的玻璃粉，目前对IC管座的检测主要依靠人工进行，检测速度慢，且检测的准确性较低。
[0003]申请号为201910413765.0的中国专利技术专利申请公开了一种转塔测试分选机，其实现了对IC产品的极性影响检测和极性测试，其在使用过程中存在如下问题：1）其通过入料轨道上的轨道吹气槽实现IC产品的进料，由于气流难以控制，导致IC产品的进料很不稳定；2）其仅通过第一影像摄像头实现对IC产品3D脚型的检测，无法满足IC产品的外观检测的要求。
技术实现思路
[0004]本专利技术要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种能够分别对IC管座的绝缘层、扁头和引脚进行检测，对IC管座检测全面，且检测准确的IC管座外观检测装置。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：该IC管座外观检测装置，其特征在于：包括旋转装置、进料装置、绝缘层检测装置、扁头检测装置、引脚检测装置以及出料装置，旋转装置侧部设置有若干放置元件的定位部，进料装置、绝缘层检测装置、扁头检测装置、引脚检测装置以及出料装置沿旋转装置的转动方向依次设置。
[0006]优选的，所述的进料装置包括元件仓、元件输出装置以及进料机械手，元件输出装置的进料口与元件仓相连通，进料机械手设置在元件输出装置与旋转装置之间，进料机械手上设置有吸取部，元件仓上安装有振动电机。元件输出装置能够将元件仓内的IC管座送出，进料机械手将元件输出装置送出的IC管座转运至旋转装置上，实现了IC管座的自动上料，且使IC管座的上料更加精确。
[0007]优选的，所述的进料机械手上安装有吸头，形成所述吸取部，吸头与进料机械手可滑动的连接，且吸头与进料机械手之间设置有吸头缓冲弹簧。通过吸头吸取IC管座，以实现IC管座的转运，避免采用夹取的方式损坏IC管座，吸头缓冲弹簧能够保证吸头与IC管座贴合，又能够避免吸头与IC管座之间的压力过大而损坏IC管座。
[0008]优选的，所述的元件输出装置包括输送槽、中转装置以及挡料装置，输送槽的进料口安装在元件仓上，中转装置设置在输送槽的出料口一侧，挡料装置设置在输送槽的出料口上侧。输送槽能够对IC管座进行输送，由于IC管座的头部两侧对称设置有凹槽，输送槽的宽度稍小于头部的直径，在输送槽随元件仓振动的过程中，IC管座沿输送槽运动，并通过输送槽实现了对IC管座的定位，保证IC管座的相对姿态保持一致，方便后续对IC管座的检测。
[0009]优选的，所述的挡料装置包括元件挡板以及挡料气缸，元件挡板设置在输送槽的上侧，挡料气缸的活塞杆与元件挡板相连，元件挡板的底部设置有伸入输送槽内的阻挡部。阻挡部能够对输送槽出料口的IC管座进行阻挡，避免IC管座掉落。
[0010]优选的，所述的中转装置包括往复架、往复电机以及凸轮传动机构，往复架设置在输送槽的出料端一侧，往复架的顶部设置有用于放置元件的内凹部，往复电机通过凸轮传动机构与往复架相连。往复电机通过凸轮传动机构推动往复架向靠近或远离输送槽的方向运动，以承接输送槽输出的IC管座，进料机械手在吸取IC管座时不会受到其余IC管座的妨碍。
[0011]优选的，所述的出料装置包括料盒输送装置、出料机械手以及废品收集装置，料盒输送装置和废品收集装置均设置在旋转装置的一侧。料盒输送装置能够输送料盒，出料机械手将检测后的IC管座进行分拣，合格的IC管座摆放至料盒上，并经料盒输送装置送出，不合格的IC管座送入到废品收集装置内。
[0012]优选的，所述的料盒输送装置和废品收集装置的侧部均对应设置有出料机械手。
[0013]优选的，所述的废品收集装置包括输送管以及废品盒，输送管的出料口位于废品盒的上侧，输送管的进料口位于旋转装置一侧。出料机械手将不合格的IC管座送入到输送管内，并经输送管送入到废品盒内，方便对不合格的IC管座的处理。
[0014]优选的，所述的废品收集装置还包括导料板以及推动气缸，废品盒并排设置有两个，导料板设置在输送管与废品盒之间，导料板的两侧均设置有由上至下逐渐往外的倾斜状的导料部，推动气缸水平设置，推动气缸的活塞杆与导料板相连。推动气缸推动导料板运用，以使两导料部分别与输送管的出料口正对，以将IC管座送入不同的废品盒内，从而能够对不合格的IC管座分类处理。
[0015]与现有技术相比，本专利技术所具有的有益效果是：本IC管座外观检测装置的旋转装置能够带动IC管座运动，使IC管座依次经过绝缘层检测装置、扁头检测装置和引脚检测装置，并依次对IC管座的绝缘层的完整性、扁头与扇形块的相对位置以及引脚进行检测，对IC管座的检测全面，且检测更加准确，检测的速度快。
附图说明
[0016]图1为IC管座外观检测装置的立体示意图。
[0017]图2为图1中A处的局部放大图。
[0018]图3为图1中B处的局部放大图。
[0019]图4为元件仓与元件输出装置连接的立体示意图。
[0020]图5为图4中C处的局部放大图。
[0021]图6为图4中D处的局部放大图。
[0022]图7为元件输出装置的后视示意图。
[0023]图8为进料机械手和出料机械手的立体示意图。
[0024]图9为图8中E处的局部放大图。
[0025]图10为料盒输送装置的立体示意图。
[0026]图11为图10中F处的局部放大图。
[0027]图12为图10中G处的局部放大图。
[0028]图13为料盒输送装置的仰视示意图。
[0029]图14为料盒暂存装置的立体示意图。
[0030]图15为图14中H处的局部放大图。
[0031]图16为料盒暂存装置的仰视示意图。
[0032]图17为伸缩销的主视剖视示意图。
[0033]图18为元件的立体示意图。
[0034]图19为料盒的立体示意图。
[0035]图中：1、机架
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2、元件仓
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3、元件输出装置
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4、进料机械手
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5、料盒仓
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501、导向长孔
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6、料盒输送装置
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7、出料机械手
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8、料盒暂存装置
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9、废品盒
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10、输送管
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11、导料板
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12、推动气缸
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13、第一摄像头
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14、本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IC管座外观检测装置，其特征在于：包括旋转装置、进料装置、绝缘层检测装置、扁头检测装置、引脚检测装置以及出料装置，旋转装置侧部设置有若干放置元件的定位部，进料装置、绝缘层检测装置、扁头检测装置、引脚检测装置以及出料装置沿旋转装置的转动方向依次设置。2.根据权利要求1所述的IC管座外观检测装置，其特征在于：所述的进料装置包括元件仓（2）、元件输出装置（3）以及进料机械手（4），元件输出装置（3）的进料口与元件仓（2）相连通，进料机械手（4）设置在元件输出装置（3）与旋转装置之间，进料机械手（4）上设置有吸取部，元件仓（2）上安装有振动电机。3.根据权利要求2所述的IC管座外观检测装置，其特征在于：所述的进料机械手（4）上安装有吸头（38），形成所述吸取部，吸头（38）与进料机械手（4）可滑动的连接，且吸头（38）与进料机械手（4）之间设置有吸头缓冲弹簧（39）。4.根据权利要求2所述的IC管座外观检测装置，其特征在于：所述的元件输出装置（3）包括输送槽（21）、中转装置以及挡料装置，输送槽（21）的进料口安装在元件仓（2）上，中转装置设置在输送槽（21）的出料口一侧，挡料装置设置在输送槽（21）的出料口上侧。5.根据权利要求4所述的IC管座外观检测装置，其特征在于：所述的挡料装置包括元件挡板（22）以及挡料气缸（29），元件挡板（22）设置在输送槽（21）的上侧，挡料气缸（29）的活塞杆与元件挡板（...
【专利技术属性】
技术研发人员：李向东，
申请(专利权)人：山东才聚电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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