【技术实现步骤摘要】
测量折射的装置和方法
[0001]相关应用的交叉引用
[0002]本专利技术是下述专利申请的部分延续申请或延续申请，并要求下述专利申请的权益和优先权日期：2021年4月6日提交的17/223.944专利申请，是2020年3月4日提交的16/809,482专利申请的部分延续申请；2020年3月4日提交的16/809,482专利申请是16/276,302专利申请的部分延续申请，16/276,302专利申请的授权号为10,588,507，其是2017年4月19日提交的15/491,577专利申请的部分延续申请；15/491,577专利申请的授权号为10,206,566，其要求2016年10月17日提交的分案62/409,276的优先权。本专利技术要求2020年7月16日提交的美国申请63052644的权益和优先权。优先权专利申请和专利的内容在此引入作为参考，如同在此全部重述。上述专利申请和专利在本文有时称为“相关申请”。
[0003]版权和商标声明
[0004]本申请包括受或可能受版权和/或商标保护的材料。版权和商标所有人不反对任何专利公开...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于校正光学系统中的误差的系统，所述系统不需要光学系统的校正透镜，所述系统包括：a)成像通道；b)测量通道。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述成像通道和测量通道共享公共光路。3.根据权利要求1所述的系统，包括单目设备，并且其中所述测量通道包括收集透镜、两个彩色透镜、两个狭缝和狭缝平面，所述狭缝平面与所述光学系统光学相关并且包含在所述单目设备内。4.根据权利要求3所述的系统，其中所述狭缝平面通过使用以4
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f配置布置的两个透镜而在光学上相关。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述成像通道包括光圈、设置在屏幕附近的第一透镜和设置在光学系统内的第二透镜。6.根据权利要求5所述的系统，其中所述光圈配置成调节所述成像通道的聚焦深度，允许具有折射误差的光学系统使用所述系统。7.根据权利要求5所述的系统，其中，所述第一透镜包括球面，所述第一透镜收集来自屏幕的光，并且所述第一透镜使用来自屏幕的光来创建包括畸变和像差的第二虚像平面，使得当所述第二虚像平面经由所述第二透镜成像到所述光学系统上时，消除所述光学系统的像差和畸变，并且所述成像通道的图像处于聚焦。8.根据权利要求1所述的系统，其中分束器将成像通道和测量通道组合。9.一种测量光学系统的光学特性的双目系统，所述系统包括：a)呈现给第一只眼睛的测量通道；所述测量通道包括窗口、光圈、两个滤色透镜、第三透镜和屏幕视图；b)呈现给第二只眼睛的成像通道；所述成像通道包括窗口、第一透镜、第二透镜、光圈和屏幕视图。10.一种测量光...
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