一种COB测试架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种COB测试架，包括用于承载待测试COB的承载台，还包括用于驱动承载台在空间中运动的驱动装置，所述承载台包括COB承载工位，所述承载台上还设置有开口朝上的吸盘，所述吸盘为圆形结构，且由吸盘的上端至下端，吸盘内腔体的直径线性变小；吸盘的内腔提供所述COB承载工位，还包括与吸盘底部相接的负压管。本测试架结构简单，可实现COB自动化检测和实现COB与测试探针的准确对位，达到提升COB测试质量和效率的目的。提升COB测试质量和效率的目的。提升COB测试质量和效率的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种COB测试架


[0001]本技术涉及芯片组件测试
，特别是涉及一种COB测试架。

技术介绍

[0002]COB封装全称为板上芯片封装(Chips on Board,COB)，是将裸芯片用导电或非导电胶粘附在互连基板上，然后进行引线键合实现其电气连接。具体靠量为：COB封装如果裸芯片直接暴露在空气中，易受污染或人为损坏，影响或破坏芯片功能，于是就用胶把芯片和键合引线包封起来。故COB封装也被称之为芯片软包封。
[0003]现有COB测试技术中，无论是人工、半自动或自动化测试，均存在如下操作：在具体的测试操作点位(测试位)，完成测试探针与COB封装体体的对位。现有技术中，一般操作方式为移动COB完成对位，现有技术中也出现了通过移动测试探针的方式完成对位。
[0004]对COB测试技术进行进一步优化，无疑会促进光器件/光芯片组件制造、检验技术的发展。

技术实现思路

[0005]针对上述提出的对COB测试技术进行进一步优化，无疑会促进光器件/光芯片组件制造、检验技术的发展的技术问题，本技术提供了一种COB测试架。本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种COB测试架，包括用于承载待测试COB的承载台(2)，还包括用于驱动承载台(2)在空间中运动的驱动装置(3)，所述承载台(2)包括COB承载工位，其特征在于，所述承载台(2)上还设置有开口朝上的吸盘(4)，所述吸盘(4)为圆形结构，且由吸盘(4)的上端至下端，吸盘(4)内腔体的直径线性变小；吸盘的内腔提供所述COB承载工位，还包括与吸盘(4)底部相接的负压管(5)。2.根据权利要求1所述的一种COB测试架，其特征在于，还包括轨道架(1)，所述轨道架(1)上设置有用于支撑承载台(2)底面的支撑面(6)，所述轨道架(1)支撑于所述支撑面(6)上。3.根据权利要求2所述的一种COB测试架，其特征在于，所述轨道架(1)的数量为两条，承载台(2)的各端均设置有一条轨道架(1)，承载台(2)的各端均支撑于轨道架(1)上。4.根据权利要求2或3所述的一种COB测试架，其特征在于，所述驱动装置(3)包括行走齿轮及用于驱动所述行走齿轮转动的驱动电机，所述驱动电机与承载台(2)固定连接。5.根据权利要求2或3所述的一种COB测试架，其特征在于，还包括设置在轨道架(1)末端的位置传感器(8)，所述位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：项刚，雷双全，曾洁英，刁云刚，赵维，
申请(专利权)人：四川九华光子通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：