一种芯片通用测试装置及其构建方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片通用测试装置，包括一测试母板、一测试子板和一通用接口连接器；测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与通用接口连接器的一端连接；测试子板唯一地与一种芯片结构对应，与通用接口连接器的另一端连接；通用接口连接器为采用统一接口标准的接口连接器。还公开了一种芯片通用测试装置的构建方法，按照设定的统一接口标准设置通用接口连接器；将测试母、子板的接口信号与通用接口连接器建立关联。通过本发明专利技术，实现了同一测试子板跨平台用于不同的测试母板，以及同一测试母板使用不同的测试子板；避免了测试母、子板的反复开发，使芯片测试转换测试平台时硬件无投入，节省了芯片测试开发的时间和成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体器件测试技术，尤其涉及。
技术介绍
为了保证半导体芯片的质量，降低开发成本，在芯片的开发初期一般会在自动测试设备(Automatic Test Equipment，缩写为ATE，简称测试机)上做测试，其一般测试装置如图1所示，包括插座(Socket)或机械手(HandlerContactor)B，用来固定住待测试的封装芯片(Device Under Test，简称DUT)A；器件接口板(Device Interface Board，简称DIB)C；测试平台E。如图1所示，DUT通过Socket与DIB连接，DIB又通过弹簧针(pogo pin)D与测试平台的连接通道连接。这样，测试平台能够把各种信号通过DIB上的布线传送到DUT的各个引脚。或者，测试装置包括探针卡(probe card)，用来连接待测试的未封装芯片(Wafer die)，DIB和测试平台。Wafer die通过探针卡与DIB连接，DIB又通过pogo pin与测试平台的连接通道连接，因此，测试平台能够把各种信号通过DIB上的布线传送到Wafer die晶元上。由于测试平台的生产厂商不同，型号也本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片通用测试装置，包括一测试母板和一测试子板，其特征在于还包括连接所述测试母板和所述测试子板的一通用接口连接器；所述测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与所述通用接口连接器的一端连接，用于转接测试平台通道和通用接口连接器通道上的 信号；所述测试子板唯一地与一种芯片结构对应，并与所述通用接口连接器的另一端连接，用于转接芯片与通用接口连接器通道上的信号，所述芯片结构包括芯片物理结构和芯片信号类型的分布结构；所述通用接口连接器为采用统一接口标准的接口连接器 ，其两端分别连接所述测试子板和所述测试母板。

【技术特征摘要】
1.一种芯片通用测试装置，包括一测试母板和一测试子板，其特征在于还包括连接所述测试母板和所述测试子板的一通用接口连接器；所述测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与所述通用接口连接器的一端连接，用于转接测试平台通道和通用接口连接器通道上的信号；所述测试子板唯一地与一种芯片结构对应，并与所述通用接口连接器的另一端连接，用于转接芯片与通用接口连接器通道上的信号，所述芯片结构包括芯片物理结构和芯片信号类型的分布结构；所述通用接口连接器为采用统一接口标准的接口连接器，其两端分别连接所述测试子板和所述测试母板。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于所述通用接口连接器包括至少一个电源接口模块，至少一个数字接口模块和/或至少一个模拟接口模块，所述数字接口模块、模拟接口模块和电源接口模块具有与所述统一接口标准匹配的固定位置，分别用于连接所述测试子板和所述测试母板通道上的数字信号、模拟信号和电源信号。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于所述通用接口连接器还包括至少一个控制开关接口模块，所述控制开关接口模块具有与所述统一接口标准相匹配的固定位置，用于连接所述测试子板和所述测试母板的继电器控制信号。4.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于所述任一接口模块分别设置有多个连接通道。5.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于所述任一接口模块为设定有优先级的模块。6.一种芯片通用测试装置的构建方法，其特征在于包括以下步骤步骤1、按照设定的统一接口标准设置通用接口连接器；步骤2、按照测试平台结构设置测试母板结构，使所述测试母板唯一地与所述测试平台对应，并将所述测试母板的接口信号与所述通用接口连接器建立关联；步骤3、按照芯片的物理结构及芯片信号类型的分布结构设置测试子板结构，使所述测试子板...

【专利技术属性】
技术研发人员：张欣，杨文进，李益欢，王宇，林建军，戈文，李春雷，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]