易拉盖防爆舌、泄露加工工艺及其生产出的易拉盖制造技术

本发明专利技术公开了一种易拉罐防爆舌、泄露加工工艺及其生产出的易拉盖，包括以下步骤：制盖、灌装、倒罐、暖罐、吹气、正罐、吹气、包装；在上述工艺步骤中或个步骤之间对易拉盖的盖面喷洒缓蚀剂，使得易拉盖的盖面覆盖有缓蚀物质。由于本发明专利技术在易拉盖加工工艺中在易拉盖盖面上添加缓蚀剂，缓蚀剂对应力腐蚀具有较好抑制效果，添加缓蚀剂的均未发生爆舌或泄露，缓蚀效果好，且都在食品级添加范围内，无需对生产设备进行改造，操作简单、投入少并可达很好的防爆舌、泄露效果。泄露效果。泄露效果。

【技术实现步骤摘要】
易拉盖防爆舌、泄露加工工艺及其生产出的易拉盖


[0001]本专利技术涉及食品包装领域，特别是涉及一种易拉盖防爆舌、泄露加工工艺及其生产出的易拉盖。

技术介绍

[0002]铝易拉盖广泛应用于两片铝罐或三片铁罐的封口，用于对食品饮料进行包装，便于常温下进行销售和消费。SOT盖实际应用过程中，绝大部分是含汽的产品，由于其内在的压力，加上盖面的残留水，会对易拉盖的刻线产生应力腐蚀作用，严重时导致产品“爆舌”。目前，这是个行业共性难题，暂时没有有效的技术手段进行杜绝。
[0003]目前，对铝易拉盖应力腐蚀问题的技术改善，大致有以下几种，但均收效甚微。
[0004]1)增加刻线的余厚易拉盖刻线的目的是便于启破和开启，增加刻线余厚，在一定程度上可以改善应力腐蚀，但超过临界限度时导致开启不完全，改善空间十分有限。
[0005]2)降低易拉盖材料的Mg含量铝易拉盖所用的材料为铝镁合金（5182），属于应力腐蚀的敏感材料，通过降低合金中Mg的含量，可以减少β相的析出，从而减少腐蚀活性点。但Mg属于5182合金的主要强化元素，降低到一定程度时，所制成盖的耐压会满足不了含汽产品的要求，容易产生“凸罐”。因此，此途径的改善空间也有限。
[0006]3)降低易拉盖的残留水在两片/三片金属罐产品实际生产过程中，由于经过了暖罐/巴氏杀菌的过程，盖表面包括刻线区域，很容易残留水分，水中的离子成分例如Cl
‑
、F
‑
、Br
‑
等敏感因子会加速应力腐蚀。因此，采用盖面吹气的方式降低残留水作为首选的技术改善手段。但是，由于水分在刻线区域的残留是以毛细作用、吸附作用等方式存在，很难通过吹气手段去除，此种技术手段历经多年，改善效果也有限。
[0007]以上三种技术手段，受到实际应用和条件的限制，空间有限。

技术实现思路

[0008]本专利技术的一个目的在于提供一种防爆舌效果好的易拉盖防爆舌、泄露加工工艺。
[0009]本专利技术的另一个目的在于提供一种不易爆舌的易拉盖。
[0010]为实现上述目的，本专利技术的技术解决方案是：本专利技术是一种易拉盖防爆舌、泄露加工工艺，包括以下步骤：制盖、灌装、倒罐、暖罐、吹气、正罐、吹气、包装；在上述工艺步骤中或各步骤之间对易拉盖的盖面添加缓蚀剂，使得易拉盖的盖面覆盖有缓蚀物质。
[0011]所述缓蚀剂中含有硫酸根、磷酸根、磷酸氢根、碳酸根、碳酸氢根、苯甲酸根、肉桂酸根、亚硝酸根中的一种或一种以上，单种添加物质的浓度范围为0.00001%
‑
10%。
[0012]所述缓蚀剂的浓度和种类都是在对应的食品级范围内。
[0013]本专利技术是一种由上述工艺生产出的易拉盖，所述易拉盖的盖面上存在缓蚀物质。
[0014]采用上述方案后对易拉盖盖面添加缓蚀剂，缓蚀剂能有效降低易拉罐铝合金的腐蚀电位，对应力腐蚀具有较好抑制效果，添加缓蚀剂的均未发生爆舌或泄露，缓蚀效果好，且无需对生产设备进行改造，操作简单、投入少并可达很好的防爆舌、泄露效果。
[0015]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步的说明。
附图说明
[0016]图1是本专利技术的工艺流程图；图2是本专利技术第一个实施例爆舌数量测试图；图3是本专利技术第二个实施例爆舌数量测试图。
具体实施方式
[0017]如图1所示，本专利技术是一种易拉罐防爆舌、泄露加工工艺，包括以下步骤：制盖、灌装、倒罐、暖罐、吹气、正罐、吹气、包装。在上述工艺步骤中或各步骤之间对易拉盖的盖面添加缓蚀剂，使得易拉盖的盖面覆盖有缓蚀物质。所述缓蚀剂中含有硫酸根、磷酸根、磷酸氢根、碳酸根、碳酸氢根、苯甲酸根、肉桂酸根、亚硝酸根中的一种或一种以上。
[0018]所述缓蚀剂中含有硫酸根、磷酸根、磷酸氢根、碳酸根、碳酸氢根、苯甲酸根、肉桂酸根、亚硝酸根中的一种或一种以上，单种添加物质的浓度范围为0.00001%
‑
10%，如：硫酸根添加浓度为0.00001%；磷酸根添加浓度为1%；磷酸氢根添加浓度为10%。上述缓蚀剂的浓度和种类都是在对应的食品级范围内。
[0019]需要说明的是：本专利技术主要应用在汽水（可乐等）和啤酒的罐装生产线，其他含气的食品等产品生产线也可应用。
[0020]本专利技术的工作原理：通过在易拉盖加工过程中添加缓蚀剂以形成缓蚀物质，从而有效降低易拉盖铝合金的腐蚀电位，当易拉盖的刻线残留有敏感腐蚀因子的水时，由于有缓蚀剂的存在，降低了腐蚀效率，从加速测试的数据来看，可以达到非常好的效果。本专利技术中可以使用硫酸根、磷酸根、磷酸氢根、碳酸根、碳酸氢根、苯甲酸根、肉桂酸根、亚硝酸根中的一种或一种以上，所选用的缓蚀剂都属于食品添加剂，且添加量为ppm级别，都在对应的食品允许添加范围内，也无需对生产线设备进行投资改造，总体成本很低。同时，对环境的影响也微乎其微。
[0021]本专利技术是一种由上述工艺生产出的易拉盖，所述易拉盖的盖面上存在缓蚀物质。
[0022]本专利技术的效果测试：本专利技术通过实验室的加速测试，配置应力腐蚀因子溶液对易拉盖进行模拟应力腐蚀，通过不添加和添加缓蚀剂，对比其缓蚀效果，从而得到实际产线的技术方案。测试方案和结果如下：1) 实际产线上水的离子种类和含量收集发生“爆舌、泄露”的产品生产线罐水，用离子色谱检测其中的离子种类和含量，发现主要以Cl
‑
和NO3‑
为主，Cl
‑
和NO3‑
属于敏感的腐蚀因子，这两种离子作为主要加速测试的因子，详见表1。
[0023]表1：
2)应力腐蚀测试方法内压：460
‑
480KPa。
[0024]盖面：不同类型和浓度的离子，用薄膜封住防止水分过快蒸发。每组数量各30罐。
[0025]环境：38℃下保温1个月。
[0026]观察：每天观察并记录爆舌或泄露。
[0027]3)缓蚀剂对应力腐蚀的抑制效果实施例1：应力腐蚀模拟液为500ppmNO3‑
，缓蚀剂成分为重量比1:1的碳酸钠和苯甲酸钠混合物。单纯添加腐蚀模拟液，爆舌数量为24/30，额外添加300ppm和200ppm缓蚀剂的均未发生爆舌或泄露，缓蚀效果好，实验重复性好，详见图2。
[0028]实施例2：应力腐蚀模拟液为50ppmNO3‑
+50ppmCl
‑
，缓蚀剂成分为重量比7:3的碳酸钠和硫酸钠。单纯添加腐蚀模拟液，爆舌数量为15/30，额外添加300ppm和200ppm缓蚀剂的均未发生爆舌或泄露，缓蚀效果好，实验重复性好，详见图3。
[0029]以上所述，仅为本专利技术较佳实施例而已，故不能以此限定本专利技术实施的范围，即依本专利技术申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本专利技术专利涵盖的范围内。
[0030]本专利技术还提供了一种易拉盖，这种易拉盖盖面上存在通过在权利要求1
‑
3所述的加工工艺所形成的缓蚀物质。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种易拉盖防爆舌、泄露加工工艺，包括以下步骤：制盖、灌装、倒罐、暖罐、吹气、正罐、吹气、包装；其特征在于：在上述工艺步骤中或各步骤之间对易拉盖的盖面添加缓蚀剂，使得易拉盖的盖面覆盖有缓蚀物质。2.根据权利要求1所述的易拉盖防爆舌、泄露加工工艺，其特征在于：所述缓蚀剂中含有硫酸根、磷酸根、磷酸氢根、碳酸根、碳酸氢根、苯甲酸根、肉桂酸根...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡水根，方可，骆洋洋，赵婉茹，李宏，
申请(专利权)人：厦门保沣实业有限公司，
类型：发明
国别省市：