器件导通测试方法、装置、存储介质及终端制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种器件导通测试方法、装置、存储介质及终端，其中，所述方法包括：接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。本实施例在老化处理阶段增加了器件预测试，通过向与主板连接的各个器件发送握手信号来测试器件的导通性，在老化处理前便能发现导通性异常的次品器件。所述方法无需等待老化处理结束后才能在功能测试阶段发现次品器件，一方面解决了次品器件发现时间滞后的问题，提高了器件检测效率，另一方面避免了对导通性异常的次品器件的无效测试，节省了测试成本。省了测试成本。省了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
器件导通测试方法、装置、存储介质及终端


[0001]本申请涉及计算机
，尤其涉及一种器件导通测试方法、装置、存储介质及终端。

技术介绍

[0002]智能终端从生产到出库一般包括四个阶段：终端装配、老化处理、功能测试以及包装出库。为提升终端品质，终端出库前都要进行老化处理以及功能测试。老化处理即等效模仿产品的使用状态；老化处理后，功能测试可以检查出产品器件的连接情况。当某项功能无法实现时，表明器件连接出现问题，终端将被扣留并由测试人员进行拆机检查。
[0003]终端的老化过程一般在8小时左右，若产线出现批量装配不良问题，则只能在8小时之后的功能测试阶段才能被发现，问题发现滞后，在此过程中已经生产了大量次品，导致成本增加。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种器件导通测试方法、装置、存储介质及终端，所述方法可以解决上述仅能在功能测试阶段发现器件连接问题，问题发现滞后，在此过程中已经生产了大量次品，导致成本增加的问题。所述技术方案如下：
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种器件导通测试方法，所述方法包括：
[0006]接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；
[0007]获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。
[0008]第二方面，本申请实施例提供了一种器件导通测试装置，所述装置包括：
[0009]第一握手信号发送模块，用于接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；
[0010]导通性确定模块，用于获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。
[0011]第三方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述任一项方法的步骤。
[0012]第四方面，本申请实施例提供了一种终端，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述任一项方法的步骤。
[0013]本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
[0014]本申请实施例提供的器件导通测试方法，接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。本实施例在老化处理阶段增加了器件预测试，通过向与主板连接的各个器件发送握手信号来测试器件的导通性，在老化处理前便能发现导
通性异常的次品器件。所述方法无需等待老化处理结束后才能在功能测试阶段发现次品器件，一方面解决了次品器件发现时间滞后的问题，可以快速发现次品以节省成本，并提高了器件检测效率，另一方面避免了对导通性异常的次品器件的无效测试，节省了测试成本。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本申请实施例提供的一种器件导通测试方法的流程示意图；
[0017]图2是本申请实施例提供的一种器件导通测试方法的流程示意图；
[0018]图3是本申请实施例提供的一种终端生产流程概括示意图；
[0019]图4是本申请实施例提供的一种器件导通测试装置的结构示意图；
[0020]图5是本申请实施例提供的一种器件导通测试装置的结构示意图；
[0021]图6是本申请实施例提供的一种器件导通测试装置的结构示意图；
[0022]图7是本申请实施例提供的一种终端结构框图。
具体实施方式
[0023]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
[0024]下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0025]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0026]下面将结合附图1-附图3，对本申请实施例提供的器件导通测试方法进行详细介绍。
[0027]请参见图1，为本申请实施例提供的一种器件导通测试方法的流程示意图。
[0028]如图1所示，本申请实施例的所述方法可以包括以下步骤：
[0029]S101，接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号。
[0030]终端内部包含大量的板对板连接器，例如显示屏与主板的连接、摄像头与主板的连接或者麦克风组件与主板的连接等。
[0031]终端装配过程实际上就是对所述各个板对板连接器进行连接。当板对板连接器未扣合好或者出现用错物料等情况时，终端相应的功能将无法实现。
[0032]终端上的各个器件均与主板存在主从通信，因此，利用通信功能可以实现器件预测试。本实施例是在老化处理阶段增加器件预测试功能，终端完成装配进入老化处理前，要先进行器件预测试。
[0033]老化处理耗费的时间较长，一般为8小时，若终端内部器件连接存在问题，该问题将被滞后至少8小时才能在功能测试阶段被发现，这就导致了器件次品检测效率较低；所述器件预测试可以在老化处理前提前筛查出连接异常的器件，不良问题提前被发现，缩短8小时的滞后时长，提升器件导通性检测效率。
[0034]所述器件预测试是基于总线协议(Inter－Integrated Circuit，I2C)进行的，通过向与主板连接的各个器件发送握手信号来测试器件的导通性。
[0035]具体的，测试人员通过蓝牙或者遥控器组合键输入老化指令，终端接收所述老化指令并控制主板向与主板连接的各个器件发送第一握手信号。用于通信的所述第一握手信号视不同连接器件而有所不同，例如，对于摄像头，主板可以向所述摄像头发送一个打开摄像头的信号；对于显示屏，主板可以向所述显示屏发送一个增大显示屏亮度的信号。
[0036]S102，获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。
[0037]主板与器件进行主从通信，第一握手信号发出后，主板会接收到器件反馈回来的信本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种器件导通测试方法，其特征在于，所述方法包括：接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性，包括：若所述第一应答信号指示所述器件导通正常，则对所述器件进行老化处理，并在老化处理结束后，控制主板向所述器件发送第二握手信号；接收所述器件返回的第二应答信号，根据所述第二应答信号确定所述器件的导通性。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二应答信号确定所述器件的导通性，包括：若所述第二应答信号指示所述器件导通异常，则确定所述导通性为异常导通，禁止所述器件进入功能测试阶段；若所述第二应答信号指示所述器件导通正常，则确定所述导通性为正常导通，允许所述器件进入功能测试阶段。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述禁止所述器件进入功能测试阶段之后，还包括：锁定所述器件，并输出器件次品提示信息。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性，包括：若所述第一应答信号指示所述器件导通异常，则确定所述导通性为异常导通，停止对所述器件进行老化处理，并...

【专利技术属性】
技术研发人员：周炎，黄友林，
申请(专利权)人：OPPO重庆智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：