一种高压检测电路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种高压检测电路，包括电压处理单元、信号产生单元、检测单元和钳位单元；除静电装置通过电压处理单元与信号产生单元连接，除静电装置将工作电压传输至电压处理单元；电压处理单元对工作电压进行降压处理，输出处理后的工作电压至所述信号产生单元，信号产生单元接收工作电压，并根据工作电压输出电平信号至钳位单元和检测单元；钳位单元与信号产生单元连接。通过电容C1进行充放电再经过二极管D1进行整流滤波后，利用三极管Q1的导通或截止对电平的高低进行调节，然后通过单片机监控电平的高低，以判断除静电装置是否存在千伏电压，从而简化高压检测电路。从而简化高压检测电路。从而简化高压检测电路。

【技术实现步骤摘要】
一种高压检测电路


[0001]本技术涉及高压检测
，特别是涉及一种高压检测电路。

技术介绍

[0002]在电子元件制造、纺织、薄膜、印刷等工业领域，静电往往会由于接触和摩擦等原因形成于电子元器件的表面，这种附着在电子元器件表面的静电会将灰尘等细小颗粒吸附到电子元件表面，导致无法对其实施相关的加工工艺；并且，当静电累计到一定程度后，容易吸附灰尘，还会产生静电放电而对电子元件造成损坏。此外静电放电会有引发火灾的隐患以及人体疾病的隐患。
[0003]常见的消除静电的产品，为了达到消除静电的目的通常需要把电压抬高到数千伏特，因此，使用时需要在保证安全的情况下判断消除静电的产品内部是否产生了高压。
[0004]现有技术中，通常是采用高压采集电路的电阻分压采集法，再通过单片机识别是否产生高压，但是，其中必须加入运放电路、隔离供电电路、高压隔离电路才能保证安全输入单片机，从而导致整个电路过于复杂。

技术实现思路

[0005]鉴于上述问题，提出了本技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种高压检测电路。
[0006]为了解决上述问题，本技术公开了一种高压检测电路，应用于一千伏特以上电压的除静电装置，包括：电压处理单元、信号产生单元、检测单元和钳位单元；
[0007]所述除静电装置通过所述电压处理单元与所述信号产生单元连接，所述除静电装置将工作电压传输至所述电压处理单元；所述电压处理单元对所述工作电压进行降压处理，输出处理后的工作电压至所述信号产生单元；
[0008]所述钳位单元与所述信号产生单元连接，所述检测单元连接于所述信号产生单元以及所述钳位单元之间，当接收所述工作电压时，所述信号产生单元输出电平信号至所述钳位单元和所述检测单元；
[0009]当所述信号产生单元停止输出所述电平信号时，所述钳位单元发送高电平信号至所述检测单元；
[0010]当所述检测单元接收所述高电平信号时，所述工作电压小于一千伏特，当所述检测单元接收所述低电平信号时，所述工作电压大于一千伏特。
[0011]可选地，所述电压处理单元包括电容C1、二极管D1和电阻R2；所述电容C1的第二端与所述除静电装置连接，所述电容C1的第一端与所述二极管D1的正极连接，所述二极管D1的负极与所述电阻R2的第二端连接，所述电阻R2的第一端与所述信号产生单元连接。
[0012]可选地，所述电压处理单元还包括二极管D2，所述二极管D2的负极连接于所述电容C1第一端和所述二极管D1的正极之间，所述二极管D2的正极接地。
[0013]可选地，所述电压处理单元还包括电容C2，所述电容C2的第一端连接于所述二极
管D2的负极和所述二极管D1的正极之间，所述电容C2的第二端接地。
[0014]可选地，所述电压处理单元还包括电容C3，所述电容C3的第一端连接于所述二极管D1的负极和所述电阻R2的第二端之间，所述电容C2的第二端接地。
[0015]可选地，所述电压处理单元还包括电阻R3，所述电阻R3的第一端连接于所述信号产生单元和所述电阻R2的第一端之间，所述电阻R3的第二端接地。
[0016]可选地，所述电压处理单元还包括二极管D3，所述二极管D3的负极连接于所述信号产生单元和所述电阻R3的第一端之间，所述二极管D3的正极接地。
[0017]可选地，所述信号产生单元包括三极管Q1，所述三极管Q1的基极与所述二极管D3的负极连接，所述三极管Q1的集电极分别与所述钳位单元和所述检测单元连接，所述所述三极管Q1的发射极接地。
[0018]可选地，所述钳位单元包括电阻R1和电源VDD，所述电阻R1的第一端与所述电源VDD连接，所述电阻R1的第二端与所述三极管Q1的集电极和所述检测单元连接。
[0019]可选地，所述检测单元为单片机。
[0020]本技术包括以下优点：通过电压处理单元、信号产生单元、检测单元和钳位单元；所述除静电装置通过所述电压处理单元与所述信号产生单元连接，所述除静电装置将工作电压传输至所述电压处理单元；所述电压处理单元对所述工作电压进行降压处理，输出处理后的工作电压至所述信号产生单元；所述钳位单元与所述信号产生单元连接，所述检测单元连接于所述信号产生单元以及所述钳位单元之间，当接收所述工作电压时，所述信号产生单元输出电平信号至所述钳位单元和所述检测单元；当所述信号产生单元停止输出所述电平信号时，所述钳位单元发送高电平信号至所述检测单元；当所述工作电压小于一千伏特时，所述信号产生单元输出高电平信号至所述检测单元；当所述工作电压大于一千伏特时，所述信号产生单元输出低电平信号至所述检测单元。通过所述电容C1进行充放电再经过所述二极管D1进行半波整流滤波后，利用所述三极管Q1的导通或截止对电平的高低进行调节，然后通过单片机监控电平的高低，以判断除静电装置是否存在千伏电压，从而简化高压检测电路。
附图说明
[0021]图1是本技术的一种高压检测电路的结构示意图。
[0022]附图说明：1、除静电装置，2、电压处理单元，3、信号产生单元，4、检测单元，5、钳位单元。
具体实施方式
[0023]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。
[0024]本技术的核心构思之一在于，通过电压处理单元2、信号产生单元3、检测单元4和钳位单元5；所述除静电装置1通过所述电压处理单元2与所述信号产生单元3连接，所述除静电装置1将工作电压传输至所述电压处理单元2；所述电压处理单元2对所述工作电压进行降压处理，输出处理后的工作电压至所述信号产生单元3；所述钳位单元5与所述信号产生单元3连接，所述检测单元4连接于所述信号产生单元3以及所述钳位单元5之间，当接
收所述工作电压时，所述信号产生单元3输出电平信号至所述钳位单元5和所述检测单元4；当所述信号产生单元3停止输出所述电平信号时，所述钳位单元5发送高电平信号至所述检测单元4；当所述工作电压小于一千伏特时，所述信号产生单元3输出高电平信号至所述检测单元4；当所述工作电压大于一千伏特时，所述信号产生单元3输出低电平信号至所述检测单元4。通过所述电容C1进行充放电再经过所述二极管D1进行半波整流滤波后，利用所述三极管Q1的导通或截止对电平的高低进行调节，然后通过单片机监控电平的高低，以判断除静电装置1是否存在千伏电压，从而简化高压检测电路。
[0025]参照图1，示出了本技术的一种高压检测电路的结构示意图，具体可以包括：
[0026]电压处理单元2、信号产生单元3、检测单元4和钳位单元5；
[0027]所述除静电装置1通过所述电压处理单元2与所述信号产生单元3连接，所述除静电装置1将工作电压传输至所述电压处理单元2；所述电压处理单元2对所述工作电压进行降压处理，输出处理后的工作电压至所述信号产生单元3；
[0028]所述钳位单元5与所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高压检测电路，其特征在于，应用于一千伏特以上电压的除静电装置，包括：电压处理单元、信号产生单元、检测单元和钳位单元；所述除静电装置通过所述电压处理单元与所述信号产生单元连接，所述除静电装置将工作电压传输至所述电压处理单元；所述电压处理单元对所述工作电压进行降压处理，输出处理后的工作电压至所述信号产生单元；所述钳位单元与所述信号产生单元连接，所述检测单元连接于所述信号产生单元以及所述钳位单元之间，当接收所述工作电压时，所述信号产生单元输出电平信号至所述钳位单元和所述检测单元；当所述信号产生单元停止输出所述电平信号时，所述钳位单元发送高电平信号至所述检测单元；当所述工作电压小于一千伏特时，所述信号产生单元输出高电平信号至所述检测单元；当所述工作电压大于一千伏特时，所述信号产生单元输出低电平信号至所述检测单元。2.根据权利要求1所述的高压检测电路，其特征在于，所述电压处理单元包括电容C1、二极管D1和电阻R2；所述电容C1的第二端与所述除静电装置连接，所述电容C1的第一端与所述二极管D1的正极连接，所述二极管D1的负极与所述电阻R2的第二端连接，所述电阻R2的第一端与所述信号产生单元连接。3.根据权利要求2所述的高压检测电路，其特征在于，所述电压处理单元还包括二极管D2，所述二极管D2的负极连接于所述电容C1第一端和所述二极管D1的正极之间，所述二极管D2的正极接地。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张关德，
申请(专利权)人：深圳联合净界科技有限公司，
类型：新型
国别省市：