一种按键测试控制器制造技术

本实用新型专利技术旨在提供一种能够调节释放力度、敲击力度稳定、响应速度快的按键测试控制器。本实用新型专利技术包括流源模块、ADC模块、MCU模块以及DAC模块，所述恒流源模块的输出端与待控制的敲击杆中电磁铁线圈连接，所述ADC模块与所述恒流源模块连接并采集高低电平的数据采集，所述MCU模块与所述ACD模块连接并读取采集的数据进行处理，所述MCU模块控制所述DAC模块输出控制电压至所述恒流源模块的控制端。本实用新型专利技术应用于控制装置的技术领域。用新型应用于控制装置的技术领域。用新型应用于控制装置的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种按键测试控制器


[0001]本技术应用于控制装置的
,特别涉及一种按键测试控制器。

技术介绍

[0002]随着计算机被广泛地使用，键盘等按键配件的生产量也逐渐增多，对有按键的电子产品、配件的检测被重视起来。在这些产品的生产过程中随着对品质要求原来越高，一种高效的、稳定的按键测试方法就变得重要了。按键属于一种机械机构，需要力的按压来让其闭合，在按键测试设备中，一种高效的、稳定的按压方式就变得重要。好的按键测试方法可以让按键在生产中品质越好产量越高。当然按键种类繁多，需要的按压力度也是不一样的，一种可控敲击力的设计的测试设备就会得到众多按键产品的青睐。
[0003]现有检测采用固定重量的敲击杆方式，控制固定重量的敲击杆下坠模拟按压按键来测试。敲击杆重量固定，不能随意更改敲击按键的力度；敲击杆下降做自由落体运动，对按键有一定冲击力，导致接触按键瞬间力度大于敲击杆自身重量。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种能够调节释放力度、敲击力度稳定、响应速度快的按键测试控制器。
[0005]本技术所采用的技术方案是：本技术包括恒流源模块、ADC模块、MCU模块以及DAC模块，所述恒流源模块的输出端与待控制的敲击杆中电磁铁线圈连接，所述ADC模块与所述恒流源模块连接并采集高低电平的数据采集，所述MCU模块与所述ACD模块连接并读取采集的数据进行处理，所述MCU模块控制所述DAC模块输出控制电压至所述恒流源模块的控制端。
[0006]由上述方案可见，所述MCU模块构成最小系统，所述ADC模块进行所述恒流源模块的输出端电压测量，进而采集电压数据反馈至所述MCU模块，由所述MCU模块进行数据处理，与设定的参数值有差异时通过所述DAC模块输出控制电压至所述恒流源模块，进而控制所述恒流源模块输出在测试按键所需要的恒定电流。所述MCU模块通过接口与外部的计算机进行通讯，进而实现根据不同的测试需求调整输出，提高测试的灵活性，同时无需频繁切换配重块以及制备不同重量的配重块，使调节更方便快捷，降低成本。采用恒定电流源控制电磁铁线圈，实现敲击机构的快速响应，提高测试效率。
[0007]一个优选方案是，所述恒流源模块包括运算放大器、仪表放大器、场效应管以及四线电阻，所述场效应管控制待控制的敲击杆中电磁铁线圈的导通和切断，所述运算放大器和所述仪表放大器配合控制所述四线电阻的阻值，实现调整电流大小。
[0008]由上述方案可见，所述恒流源模块是让电磁铁的电路处于恒流状，按照恒流电源的特征工作。所述运算放大器和所述场效应管两个主要器件，另外加上所述仪表放大器配合四线电阻精准构成反馈等外围电路。由所述MCU模块控制所述DAC模块输出电压信号给到所述恒流源模块来设定指定电流，进而控制恒流源电路电流大小，从而达到控制电磁铁下
压力度目的。
[0009]一个优选方案是，所述MCU模块包括型号为STM32F103RCT6的处理芯片U15。
[0010]一个优选方案是，所述ADC模块包括型号为AD7175
‑
2BRUZ的模数转换芯片U14。
[0011]一个优选方案是，所述DAC模块包括型号为AD5681RBCPZ
‑
RL7的数模转换芯片U18。
附图说明
[0012]图1是本技术的系统框图；
[0013]图2是所述恒流源模块的电路原理图；
[0014]图3是所述ADC模块的电路原理图；
[0015]图4是所述MCU模块的电路原理图；
[0016]图5是所述DAC模块的电路原理图。
具体实施方式
[0017]如图1至图5所示，在本实施例中，本技术包括恒流源模块1、ADC模块2、MCU模块3以及DAC模块4，所述恒流源模块1的输出端与待控制的敲击杆中电磁铁线圈连接，所述ADC模块2与所述恒流源模块1连接并采集高低电平的数据采集，所述MCU模块3与所述ACD模块连接并读取采集的数据进行处理，所述MCU模块3控制所述DAC模块4输出控制电压至所述恒流源模块1的控制端。
[0018]所述恒流源模块1包括型号为ADA4666的运算放大器U16A、型号为INA826的仪表放大器U17、型号为BUZ11的场效应管Q2以及四线电阻RY2，所述运算放大器U16A的正脚与所述DAC模块4的输出端口连接，所述仪表放大器U17的VOUT端口与所述运算放大器U16A的负脚连接，电磁铁线圈串联在供电电源与所述场效应管Q2的漏极之间，所述场效应管Q2的栅极G与所述运算放大器U16A的输出端连接，所述场效应管Q2的源极通过所述四线电阻RY2接地，所述场效应管Q2控制待控制的敲击杆中电磁铁线圈的导通和切断，所述运算放大器U16A控制所述场效应管Q2的通断，同时所述运算放大器U16A和所述仪表放大器U17配合控制所述四线电阻RY2的阻值，实现调整电流大小。所述ADC模块2与所述四线电阻RY2的两端连接，采集电压数据。
[0019]所述MCU模块3包括型号为STM32F103RCT6的处理芯片U15。所述ADC模块2包括型号为AD7175
‑
2BRUZ的模数转换芯片U14。所述DAC模块4包括型号为AD5681RBCPZ
‑
RL7的数模转换芯片U18。
[0020]本技术的工作原理：
[0021]在其他条件恒定的情况下磁场中产生的力与线圈中电流成正比，通过控制导通的电流大小实现控制按压的力。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种按键测试控制器，其特征在于：它包括恒流源模块（1）、ADC模块（2）、MCU模块（3）以及DAC模块（4），所述恒流源模块（1）的输出端与待控制的敲击杆中电磁铁线圈连接，所述ADC模块（2）与所述恒流源模块（1）连接并采集高低电平的数据采集，所述MCU模块（3）与所述ADC模块连接并读取采集的数据进行处理，所述MCU模块（3）控制所述DAC模块（4）输出控制电压至所述恒流源模块（1）的控制端。2.根据权利要求1所述的一种按键测试控制器，其特征在于：所述恒流源模块（1）包括运算放大器、仪表放大器、场效应管以及四线电阻，所述场效应管控制待控制的敲...

【专利技术属性】
技术研发人员：周泽明，张琛星，赵勇刚，
申请(专利权)人：欧拓飞科技珠海有限公司，
类型：新型
国别省市：