一种识别仪器指示状态的方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种识别仪器指示状态的方法、装置、设备及介质，所述方法包括：获取包含待处理的指示仪器的图像；所述指示仪器为包含指针和状态标志位的设备；基于所述图像对所述指示仪器进行目标检测；若检测到所述指示仪器中的第一级子目标和第二级子目标，则基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态；其中，所述第一级子目标基于所述指针确定，所述第二级子目标基于所述状态标志位确定。避免了现有技术中因为现场样本素材的限制造成的确定指示仪器的指示状态不准确的问题。提高了识别仪器指示状态的准确性。器指示状态的准确性。器指示状态的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种识别仪器指示状态的方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及图像处理
，尤其涉及一种识别仪器指示状态的方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]指示仪器是生产生活中常用的设备，指示仪器包括指针和两个不同的状态标志位，指针端部包括针尖。指针指向的状态标志位即为指示仪器当前所指示的状态。指示仪器当前所指示的状态是人们重点关注的内容。
[0003]早期确定指示仪器的指示状态时，主要是依靠工作人员去现场查看记录。这种方式工作量大、效率低，且在工作人员巡视过程中容易产生安全事故。随着技术的不断进步，出现了基于机器视觉、深度学习的指示状态识别方法。这种方法运算量大，抗干扰能力差，并且识别效果严重依赖现场样本素材。样本素材很难包含所有场景下指示仪器的指示状态识别，因此这种方法识别指示状态的准确性也是较差的。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种识别仪器指示状态的方法、装置、设备及介质，用以解决现有技术确定仪器指示状态不准确的问题。
[0005]本专利技术实施例提供了一种识别仪器指示状态的方法，所述方法包括：
[0006]获取包含待处理的指示仪器的图像；所述指示仪器为包含指针和状态标志位的设备；
[0007]基于所述图像对所述指示仪器进行目标检测；
[0008]若检测到所述指示仪器中的第一级子目标和第二级子目标，则基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态；其中，所述第一级子目标基于所述指针确定，所述第二级子目标基于所述状态标志位确定。
[0009]进一步地，所述方法还包括：
[0010]若未检测到所述指示仪器中的第一级子目标，则确定所述指示仪器指示异常；或若未检测到所述指示仪器中的第二级子目标，则确定所述指示仪器指示异常。
[0011]进一步地，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：
[0012]基于所述第一级子目标在所述图像中的参考位置点，确定所述第一级子目标的第一位置；以及基于所述第二级子目标在所述图像中的参考位置点，确定所述第二级子目标的第二位置；
[0013]基于所述第一位置和所述第二位置的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态。
[0014]进一步地，所述第一级子目标包括所述指针和所述指针的针尖中的至少一个；所述状态标志位包括第一子标志位和第二子标志位，所述第二级子目标包括所述第一子标志
位和所述第二子标志位中的至少一个。
[0015]进一步地，若所述第一级子目标包括所述指针，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：
[0016]所述第二级子目标包括所述第一子标志位，若所述指针与所述第一子标志位的距离小于预设的第一阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态；
[0017]所述第二级子目标包括所述第二子标志位，若所述指针与所述第二子标志位的距离小于预设的第二阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态；
[0018]所述第二级子目标包括所述第一子标志位和所述第二子标志位，若所述指针与所述第一子标志位的距离大于所述指针与所述第二子标志位的距离，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态。
[0019]进一步地，若所述第一级子目标包括所述指针的针尖，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：
[0020]所述第二级子目标包括所述第一子标志位，若所述针尖与所述第一子标志位的距离小于预设的第三阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态；
[0021]所述第二级子目标包括所述第二子标志位，若所述针尖与所述第二子标志位的距离小于预设的第四阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态；
[0022]所述第二级子目标包括所述第一子标志位和所述第二子标志位，若所述针尖与所述第一子标志位的距离大于所述针尖与所述第二子标志位的距离，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态。
[0023]进一步地，若所述第一级子目标包括所述指针和所述指针的针尖，所述第二级子目标包括所述第一子标志位和所述第二子标志位，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：
[0024]确定所述若所述针尖与所述第一子标志位的距离与所述针尖与所述第二子标志位的距离的差值的第一绝对值；
[0025]所述第一绝对值大于预设的第五阈值时，若所述针尖与所述第一子标志位的距离大于所述针尖与所述第二子标志位的距离，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态；
[0026]所述第一绝对值不大于预设的第五阈值时，根据所述指针、所述指针的针尖、所述第一子标志位和所述第二子标志位的相对位置关系，确定所述指示仪器的排列结构；其中，所述排列结构包括上下结构和左右结构；根据所述指示仪器的排列结构确定所述指针指向的状态标志位，确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述指针指向的状态标志位对应的状态。
[0027]进一步地，所述根据所述指针、所述指针的针尖、所述第一子标志位和所述第二子标志位的相对位置关系，确定所述指示仪器的排列结构，包括：
[0028]确定所述针尖的纵坐标与所述第一子标志位的纵坐标的差值的第二绝对值，所述针尖的纵坐标与所述第二子标志位的纵坐标的差值的第三绝对值，所述针尖的横坐标与所述第一子标志位的横坐标的差值的第四绝对值，所述针尖的横坐标与所述第二子标志位的横坐标的差值的第五绝对值；
[0029]若所述指针的纵坐标分别大于所述第一子标志位和所述第二子标志位的纵坐标，或所述指针在纵坐标分别不大于所述第一子标志位和所述第二子标志位的纵坐标，且所述第二绝对值与所述第三绝对值的差小于预设的第六阈值，所述第四绝对值与所述第五绝对值的差大于预设的第七阈值，确定所述指示仪器的排列结构为上下结构；
[0030]若所述指针的横坐标分别大于所述第一子标志位和所述第二子标志位的横坐标，或所述指针在横坐标分别不大于所述第一子标志位和所述第二子标志位的横坐标，且所述第四绝对值与所述第五绝对值的差小于预设的第八阈值，所述第二绝对值与所述第三绝对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种识别仪器指示状态的方法，其特征在于，所述方法包括：获取包含待处理的指示仪器的图像；所述指示仪器为包含指针和状态标志位的设备；基于所述图像对所述指示仪器进行目标检测；若检测到所述指示仪器中的第一级子目标和第二级子目标，则基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态；其中，所述第一级子目标基于所述指针确定，所述第二级子目标基于所述状态标志位确定。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：若未检测到所述指示仪器中的第一级子目标，则确定所述指示仪器指示异常；或若未检测到所述指示仪器中的第二级子目标，则确定所述指示仪器指示异常。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：基于所述第一级子目标在所述图像中的参考位置点，确定所述第一级子目标的第一位置；以及基于所述第二级子目标在所述图像中的参考位置点，确定所述第二级子目标的第二位置；基于所述第一位置和所述第二位置的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态。4.如权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述第一级子目标包括所述指针和所述指针的针尖中的至少一个；所述状态标志位包括第一子标志位和第二子标志位，所述第二级子目标包括所述第一子标志位和所述第二子标志位中的至少一个。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述第一级子目标包括所述指针，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：所述第二级子目标包括所述第一子标志位，若所述指针与所述第一子标志位的距离小于预设的第一阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态；所述第二级子目标包括所述第二子标志位，若所述指针与所述第二子标志位的距离小于预设的第二阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态；所述第二级子目标包括所述第一子标志位和所述第二子标志位，若所述指针与所述第一子标志位的距离大于所述指针与所述第二子标志位的距离，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态。6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述第一级子目标包括所述指针的针尖，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：所述第二级子目标包括所述第一子标志位，若所述针尖与所述第一子标志位的距离小于预设的第三阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态；所述第二级子目标包括所述第二子标志位，若所述针尖与所述第二子标志位的距离小
于预设的第四阈值，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态；所述第二级子目标包括所述第一子标志位和所述第二子标志位，若所述针尖与所述第一子标志位的距离大于所述针尖与所述第二子标志位的距离，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态。7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述第一级子目标包括所述指针和所述指针的针尖，所述第二级子目标包括所述第一子标志位和所述第二子标志位，所述基于检测到的第一级子目标和第二级子目标的相对位置关系，确定所述指示仪器指示的仪器状态，包括：确定所述若所述针尖与所述第一子标志位的距离与所述针尖与所述第二子标志位的距离的差值的第一绝对值；所述第一绝对值大于预设的第五阈值时，若所述针尖与所述第一子标志位的距离大于所述针尖与所述第二子标志位的距离，则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第二子标志位对应的状态，否则确定所述指示仪器指示的仪器状态为所述第一子标志位对应的状态；所述第一绝对值不大于预设的第五阈值时，根据所述指针、所述指针的针尖、所述第一子标志位和所述第二子标志位的相对位置关系，确定所述指...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宁钏，杨剑波，孙海涛，熊剑平，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：