用于优化集成电路的布局的方法技术

本公开涉及用于优化集成电路的布局的方法。本公开中提供了一种方法。该方法包括几个操作：生成具有用于集成电路的多个宏的布局；根据插入在引脚之间的通道区域来调整宏；将宏用通道区域的通道宽度分开；以及根据宏与多个寄存器之间的相关性来调整布局中的宏。寄存器之间的相关性来调整布局中的宏。寄存器之间的相关性来调整布局中的宏。

【技术实现步骤摘要】
用于优化集成电路的布局的方法


[0001]本公开涉及用于优化集成电路的布局(floor plan)的方法。

技术介绍

[0002]在电子电路设计过程中，可以使用一个或多个电子设计自动化(EDA)工具来设计、优化和验证半导体器件设计，例如半导体芯片中的电路设计。物理设计中的第一个并且也是最重要的任务是布局规划(floorplanning)，其确定存储器宏位置以优化高级电路模块位置。然而，目前大多数布局规划工作仍然严重依赖人工工作，并且需要智能自动化。在布局规划之后，设计将经历放置和布线主要阶段。在放置期间，放置器工具可以基于给定电路设计来产生放置布图，该给定电路设计可以由电路设计人员开发，并且可以包括例如电路设计信息，例如电气图、电路设计的高级电气描述、网表(netlist)等。放置布图包括指示半导体器件的各种电路元件的物理位置的信息。在完成器件的放置后，可以执行布线。在布线期间，可以形成导线或互连以连接放置布图的各种电路元件。在布线之后，检查所得电子器件设计以符合各种设计规则、设计规范等。

技术实现思路

[0003]根据本公开的一个实施例，提供了一种用于优化集成电路的布局的方法，包括：生成具有用于集成电路的多个宏的布局；根据插入在多个引脚之间的通道区域来调整所述多个宏；将所述多个宏用所述通道区域的通道宽度分开；以及根据所述多个宏和多个寄存器之间的相关性来调整所述布局中的所述多个宏。
[0004]根据本公开的另一实施例，提供了一种用于优化集成电路的布局的方法，包括：布置在第一方向延伸的多个通道；根据多个宏的多个权重，将所述多个宏的第一部分布置为比所述多个宏的第二部分更靠近集成电路的核心区域的质心；以及将所述多个宏布置在所述多个通道的相反侧，其中，所述多个宏具有耦合到所述多个通道的多个引脚，所述多个通道插入在所述多个宏之间。
[0005]根据本公开的又一实施例，提供了一种用于优化集成电路的布局的系统，包括：一个或多个处理单元；以及存储器单元，被配置为存储指令，所述指令在由所述一个或多个处理单元中的至少一个处理单元执行时，执行包括以下各项的操作：根据多个宏的多个权重，将所述多个宏放置在布局中的区域的质心周围；将所述多个宏的多个引脚调整为彼此面对；预测插入在所述多个宏之间的多个通道中的每个通道的通道宽度；根据所述多个通道中的每个通道的通道宽度来调整所述多个宏；检测所述多个宏与多个寄存器之间的相关性；以及根据所述相关性来调整所述多个宏。
附图说明
[0006]在结合附图阅读下面的具体实施方式时，可以从下面的具体实施方式中最佳地理解本公开的各方面。注意，根据行业的标准做法，各种特征不是按比例绘制的。事实上，为了
讨论的清楚起见，各种特征的尺寸可能被任意增大或减小。
[0007]图1是根据本公开的一些实施例的设计集成电路的布图的方法的流程图。
[0008]图2是根据一些实施例的集成电路的布局的一部分的示意图。
[0009]图3A是根据一些实施例的图1的方法的对准阶段中的示例的流程图。
[0010]图3B是根据一些实施例的与图3A相对应的组框(group box)的示意图。
[0011]图4A是根据一些实施例的图1的方法的定向优化阶段中的示例的流程图。
[0012]图4B至图4E是根据一些实施例的与图4A的定向优化阶段相对应的示例的示意图。
[0013]图5是根据一些实施例的图1的方法的通道资源检测阶段中的示例的详细流程图。
[0014]图6A至图6E是根据一些实施例的与图5的通道资源检测阶段相对应的示例的示意图。
[0015]图7是根据一些实施例的图1的方法的数据流宏调整阶段中的示例的流程图。
[0016]图8A至图8E是根据一些实施例的与图7的数据流宏调整阶段相对应的示例的示意图。
[0017]图9A是根据一些实施例的集成电路的布局的一部分的示意图。
[0018]图9B是根据一些实施例的集成电路的布局的一部分的示意图。
[0019]图10是根据本公开的一些实施例的用于设计集成电路布图设计的系统的框图。
[0020]图11是根据一些实施例的集成电路制造系统以及相关联的集成电路制造流程的框图。
具体实施方式
[0021]下面的公开内容提供了用于实现所提供的主题的不同特征的许多不同的实施例或示例。下文描述了组件和布置的具体示例以简化本公开。当然，这些仅是示例而不意图是限制性的。例如，在下面的描述中，在第二特征上方或之上形成第一特征可以包括以直接接触的方式形成第一特征和第二特征的实施例，并且还可以包括可以在第一特征和第二特征之间形成附加特征，使得第一特征和第二特征可以不直接接触的实施例。此外，本公开可以在各个示例中重复参考数字和/或字母。该重复是出于简单和清楚的目的，并且其本身不指示所讨论的各种实施例和/或配置之间的关系。
[0022]本说明书中使用的术语通常具有它们在本领域中和在使用每个术语的特定上下文中的普通含义。在本说明书中对示例(包括本文所讨论的任何术语的示例)的使用仅是说明性的，并且绝不限制本公开或任何示例性术语的范围和含义。同样，本公开不限于本说明书中给出的各种实施例。
[0023]如本文所使用的，术语“包括”、“拥有”、“具有”、“包含”、“涉及”等应当被理解为开放式的，即，意味着包括但不限于。
[0024]在整个说明书中对“一个实施例”、“实施例”或“一些实施例”的引用意味着结合(一个或多个)实施例描述的特定特征、结构、实现方式或特性包括在本公开的至少一个实施例中。因此，在整个说明书中的各个地方使用短语“在一个实施例中”或“在实施例中”或“在一些实施例中”不一定全部指同一实施例。此外，在一个或多个实施例中，可以用任何合适的方式来组合特定特征、结构、实现方式或特性。
[0025]此外，本文中可能使用了空间相关术语(例如，“下方”、“之下”、“低于”、“之上”、
“
上部”等)，以易于描述图中所示的一个要素或特征相对于另外(一个或多个)要素或(一个或多个)特征的关系。这些空间相关术语意在涵盖器件在使用或工作中除了图中所示朝向之外的不同朝向。装置可能以其他方式定向(旋转90度或处于其他朝向)，并且本文中所用的空间相关描述符同样可以被相应地解释。如本文所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关联列出的项目的任何和所有组合。
[0026]如本文所用，“大约”、“约”、“大概”或“基本上”应当通常指给定值或范围的任何近似值，其中，该近似值取决于所涉及的各种领域而变化，并且其范围应当与本领域技术人员所理解的最广泛解释相一致，以便涵盖所有这类修改和相似结构。在一些实施例中，这应当通常意味着在给定值或范围的百分之二十以内、优选地百分之十以内、或更优选地百分之五以内。本文给出的数值是近似的，意味着在没有明确说明时可以推断出术语“大约”、“约”、“大概”或“基本上”，或者意味着其他近似值。
[0027]电子设计自动化(EDA)软件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于优化集成电路的布局的方法，包括：生成具有用于集成电路的多个宏的布局；根据插入在多个引脚之间的通道区域来调整所述多个宏；将所述多个宏用所述通道区域的通道宽度分开；以及根据所述多个宏和多个寄存器之间的相关性来调整所述布局中的所述多个宏。2.根据权利要求1所述的方法，还包括：将所述多个宏组织成在第一方向延伸的多个第一组框和在第二方向延伸的多个第二组框；以及根据所述多个第一组框中的宏的最小总移动来对准所述多个第一组框中的宏。3.根据权利要求2所述的方法，还包括：移动所述多个第二组框中的宏，其中，所述宏的移动范围在第一空间和第二空间之间，其中，所述第一空间对应于所述宏中的一个宏与所述多个第二组框中每一者的左边界或所述宏中的另一个宏之间的空间，并且所述第二空间对应于所述宏中的一个宏与所述多个第二组框中每一者的右边界或所述宏中的另一个宏之间的空间。4.根据权利要求1所述的方法，其中，调整所述多个宏包括：生成所述多个宏的链图；以及响应于搜索所述链图，翻转所述多个宏中的相应宏以改变所述相应宏的所述多个引脚的定向，其中，所述多个宏之一的引脚和所述多个宏中的所述相应宏之一的引脚彼此面对。5.根据权利要求1所述的方法，其中，当所述多个宏的数量为奇数并且所述多个宏中的第一宏与所述布局的边界相邻时，所述第一宏的引脚的定向被布置为与所述布局的边界相反。6.根据权利要求1所述的方法，还包括：划分多个标准单元；根据针对所述多个宏中的每个宏的预测通道路径来估计多个缓冲器的数量，其中，所述预测通道路径在所述多个标准单元之一与所述多个宏中的相应的一个宏之间；基于所述多个缓冲器的数量和所述多个缓冲器中的每个缓冲器的面积...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄易霖，谭诗文，刘松，林士尧，方文源，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：