结构微裂缝动态位移的高精度测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种结构微裂缝动态位移的高精度测量装置及方法，其通过将拱形弹性基座跨设在微裂缝开裂预计位置上方，并在拱形弹性基座顶部的弧形内壁和弧形外壁上分别对应贴附设置第一应变片和第二应变片，从而将结构表面微裂缝的张合产生的横向动态位移变化转化为拱形弹性基座顶部上下表面的弯曲应变变化，通过第一应变片和第二应变片分别作为半桥电阻与应变测量模块电性连接组成半桥测量电路，测量得到第一应变片和第二应变片的弯曲应变变化，即拱形弹性基座顶部的弯曲应变变化，基于拱形弹性基座的端部位移变化与其弯曲应变变化呈线性关系，确定拱形弹性基座的端部位移变化，即测量得到微裂缝动态位移变化。即测量得到微裂缝动态位移变化。即测量得到微裂缝动态位移变化。

【技术实现步骤摘要】
结构微裂缝动态位移的高精度测量装置及方法


[0001]本专利技术涉及工程结构抗震
，尤其是涉及一种结构微裂缝动态位移的高精度测量装置及方法。

技术介绍

[0002]土木工程结构模型或水利工程结构模型的地震动模拟振动台试验是研究实际土木工程结构或水利工程结构抗震特性的直接有效的方法之一。结构在地震下破坏特性，特别是结构破坏的非线性特性是目前研究难点和热点。模型结构在振动台的模拟地震中振动破坏的动态变化过程，特别是结构破坏开裂后，裂隙的位移演变过程能够有效揭示结构破坏机理。由于模型几何比尺关系，实际结构的开裂变化在模型表现只是微裂缝动态位移变化，比如大坝模型与原型的几何比尺为1/250，如果原型出现2.5mm的明显微裂缝，在模型上体现出来仅仅是1μm。因此这种微裂缝动态位移变化测量需要试验的测量装置具有非常高的灵敏度，涉及位移精度要达到百分之一或者千分之一μm级别；另外，由于测量目标是模型结构上微裂缝的动态位移变化，这种变化是微裂缝两侧的相对运动，因此测量装置必须能够安装在模型结构的微裂缝两侧。由于一些土工试验的模型结构几何比尺较小，加上模型本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种结构微裂缝动态位移的高精度测量装置，其特征在于，包括：拱形弹性基座；第一应变片和第二应变片，所述第一应变片和第二应变片分别对应贴附在所述拱形弹性基座顶部的弧形内壁和弧形外壁上；应变测量模块，所述第一应变片和第二应变片分别作为半桥电阻与应变测量模块电性连接组成半桥测量电路，所述应变测量模块用于根据半桥测量电路的输出电压计算所述第一应变片和第二应变片的弯曲应变值变化量。2.根据权利要求1所述结构微裂缝动态位移的高精度测量装置，其特征在于，所述第一应变片和第二应变片均沿拱形弹性基座的中心线对称设置。3.根据权利要求1所述结构微裂缝动态位移的高精度测量装置，其特征在于，所述第一应变片和第二应变片分别作为半桥电阻按半桥接线法联入应变测量模块的桥路相邻边。4.一种利用权利要求1至3中任意一项所述结构微裂缝动态位移的高精度测量装置进行的结构微裂缝动态位移的高精度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：将所述拱形弹性基座以微裂缝开裂预计位置所在直线为中心线，跨设设置在微裂缝开裂预计位置上方；采集微裂缝产生时半桥测量电路的输出电压，计算得到第一应变片和第二应变片的弯曲应变值变化量；根据第一应变片和第二应变片的弯曲应变值变化量推算出拱形弹性基座两端的间距变化量，即结构微裂缝动态位移值。5.根据权利要求4所述结构微裂缝动态位移的高精度测量装置，其特征在于，所述拱形弹性基座的开合方向与微裂缝开裂预计方向垂直设置。6.根据权利要求4所述结构微裂缝动态位移的高精度测量装置，其特征在于，所述第一应变片和第二应变片的拉压受力方...

【专利技术属性】
技术研发人员：许亮华，罗国虎，李春雷，王海波，王少华，曾新翔，高建勇，任绍成，李金伟，姜明利，王熙，瞿洁，倪马兵，赵文俊，李红涛，王雄飞，孙铭君，刘扬，
申请(专利权)人：安徽金寨抽水蓄能有限公司，
类型：发明
国别省市：