【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及在基板上形成有薄膜元件和其表面上具有薄膜图形 的薄膜器件及其制造方法。
技术介绍
在基板上设有薄膜晶体管或光传感器等薄膜元件的薄膜器件中, 在上述薄膜元件的表面,防止带电、或检测静电用的导电膜等薄膜图 形形成在基底膜上,该基底膜用于保护上述薄膜元件、且用于支持形 成在上层的薄膜图形。例如,在日本特开2003 — 91510号公报中所示的指纹认正装置 中,在构成光传感器的晶体管和表面静电去除电极之间设有绝缘保护 膜。该绝缘保护膜保护上述晶体管,并成为支持薄膜图形的静电去除 电极的基底膜。上述指纹认正装置中的静电去除电极膜由透明电极形成,其膜厚 薄到几百A到几千A左右。上述绝缘保护膜为了保护上述晶体管厚 到足够的厚度,例如其膜厚为从几pm到几十(im。上述静电去除电 极膜至少在上述晶体管的形成区域的周边区域被构图成预定的形状。 因此,在上述绝缘保护膜上形成的薄的静电去除电极膜不能追随上述 绝缘保护膜的从几到几十pm的膜厚部分的台阶,从而发生未被 覆盖的所谓台阶缺口 (段切tl)部。另外,为了通过光刻构图成规定的形状的图形,当使光致抗蚀剂 覆盖静电去除电极膜时,难以使光致抗蚀剂追随上述台阶来覆盖,从 而发生因光致抗蚀剂的脱落而引起的构图不良。
技术实现思路
本专利技术的目的在于,提供一种降低设置在薄膜元件的上层的薄膜 图形发生的缺陷、合格率及可靠性高的薄膜器件及其制造方法。采用该专利技术的第l观点的薄膜器件,其特征在于,由如下构成-形成有薄膜元件的基板;基底膜,由至少一层绝缘膜构成,该绝缘膜配置在上述基板的薄 膜元件的上侧,通过由感光性树脂材料构成的 ...
【技术保护点】
一种薄膜器件,其特征在于,包括:形成有薄膜元件的基板;基底膜,由至少一层绝缘膜构成,该绝缘膜配置在上述基板的薄膜元件的上侧,通过由感光性树脂材料构成的薄膜的粘合、曝光及蚀刻而形成为预定的形状;及薄膜图形,在上述基底膜上形成为预定的形状。
【技术特征摘要】
JP 2006-6-30 180760/20061.一种薄膜器件,其特征在于,包括形成有薄膜元件的基板;基底膜,由至少一层绝缘膜构成,该绝缘膜配置在上述基板的薄膜元件的上侧,通过由感光性树脂材料构成的薄膜的粘合、曝光及蚀刻而形成为预定的形状;及薄膜图形,在上述基底膜上形成为预定的形状。2. 如权利要求1所述的薄膜器件,其特征在于,上述基底膜由 依次层叠的绝缘膜构成,该绝缘膜通过由感光性树脂材料构成的多个 干膜的层叠膜形成,并依次层叠成各层的各干膜具有不同的大小、且 端面相互不一致。3. 如权利要求2所述的薄膜器件,其特征在于,在形成上述基 底膜的多个层的各绝缘膜中,上述基板侧的下层绝缘膜的面积比上层 绝缘膜小,覆盖上述下层绝缘膜而层叠了上层绝缘膜。4. 如权利要求2所述的薄膜器件,其特征在于,在形成上述基 底膜的多个层的各绝缘膜中,基板侧的下层绝缘膜的面积比上层绝缘 膜大,在上述下层绝缘膜上层叠了上层绝缘膜。5. 如权利要求4所述的薄膜器件,其特征在于,上述基底膜的 多个绝缘膜被去除了基板侧的下层绝缘膜端面的边缘部。6. 如权利要求l所述的薄膜器件,其特征在于, 在上述基板上形成有用于检测被检验者的指纹的多个光传感器和覆盖这些光传感器的透明绝缘膜;上述基底膜由形成在上述透明绝缘膜上的、实质上透明的多个干 膜的层叠膜形成;上述薄膜图形由在上述基底膜上形成为规定图形的透明导电膜 构成,并形成被检验者的手指与表面接触的静电保护膜。7. —种指纹检测装置,其特征在于,具备基板,形成有用于检测被检验者的指纹的多个光传感器和覆盖这些光传感器的透明绝缘膜;基底膜,由多个绝缘膜构成,该多个绝缘膜通过由感光性树脂构 成的干膜分别形成为预定的形状,并分别层叠成大小相互不同、且端 面相互不一致,上述预定的形状包括在上述基板上形成的上述透明绝缘膜上的与上述光传感器对应的部分;及静电保护膜,由透明导电膜构成,该透明导电膜在上述基底膜和 上述基板上的上述透明绝缘膜上被形成为预定的图形。8. 如权利要求7所述的指纹检测器件,其特征在于,在上述基 底膜的多个绝缘膜中,基板侧的下层绝缘膜的面积比上层绝缘膜小, 并覆盖上述下层绝缘膜而层叠了上层绝缘膜。9. 如权利要求7所述的指纹检测器件,其特征在于,在上述基 底膜的多个绝缘膜中,基板侧的下层绝缘膜的面积比上层绝缘膜大, 在上述下层绝缘膜上层叠上层绝缘膜。10. 如权利要求9所述的指纹检测器件,其特征在于,上述基底膜的多个绝缘膜被去除了基板侧的下层绝缘膜端面的边缘部。11. 一种薄膜器件的制造方法,其特征在于,具备 准备形成有薄膜元件的基板的工序;形成基底膜的工序,...
【专利技术属性】
技术研发人员:腰塚靖雄,
申请(专利权)人:卡西欧计算机株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。