显示面板的缺陷识别装置、方法、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请公开了一种显示面板的缺陷识别装置、方法、电子设备和可读存储介质。缺陷识别装置包括第一图像采集单元、缺陷检测单元、第二图像采集单元和缺陷识别单元。第一图像采集单元用于采集显示面板的特征图像，缺陷检测单元用于根据特征图像测定显示面板的缺陷坐标，第二图像采集单元用于根据缺陷坐标拍摄缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像，缺陷识别单元包括处理器和存储有缺陷识别模型的计算机指令的存储器，处理器执行计算机指令实现利用缺陷识别模型对局部彩色图像识别得到缺陷类型以对缺陷进行分类。本申请通过对显示面板进行检测，从而将由刺伤、异物产生的不良进行精确分类，降低漏检风险，节省人力成本，降低不良造成的损失。良造成的损失。良造成的损失。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的缺陷识别装置、方法、电子设备及介质


[0001]本申请涉及显示技术，特别涉及一种显示面板的缺陷识别装置、缺陷识别方法、控制装置和计算机存储介质。

技术介绍

[0002]通常，柔性AMOLED完成TFE工序后，被切割好的面板下表面贴附的背膜(bottom film)被移除，并贴附U型膜(U
‑
Lami)来取代背膜。U
‑
型膜的作用是保证柔性AMOLED的面板在弯折的时候U
‑
型膜和面板不出现分离，保护面板在后面的工序免受损伤。然而，U型膜工艺过程中容易出现异物、划伤等不良现象，目前的检测设备难以对柔性AMOLED面板上出现的不良进行检测并分类。

技术实现思路

[0003]本申请实施方式提供了一种显示面板的缺陷识别装置，包括：
[0004]第一图像采集单元，用于采集所述显示面板的特征图像；
[0005]缺陷检测单元，用于根据所述特征图像测定所述显示面板的缺陷坐标；
[0006]第二图像采集单元，用于根据所述缺陷坐标采集所述缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像；
[0007]缺陷识别单元，包括处理器和存储有缺陷识别模型的计算机指令的存储器，所述处理器执行所述计算机指令实现利用所述缺陷识别模型对所述局部彩色图像识别得到缺陷类型以对所述缺陷进行分类。
[0008]在某些实施方式中，所述缺陷识别装置包括光源，所述光源用于向所述显示面板发射检测光线；
[0009]所述采集所述显示面板的特征图像包括：接收经过所述显示面板后的检测光线以获得所述特征图像；
[0010]所述根据所述缺陷坐标采集所述缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像包括：
[0011]接收经过所述显示面板中的缺陷坐标所在位置对应区域后的检测光线以得到所述局部彩色图像。
[0012]在某些实施方式中，所述缺陷识别装置包括第一载台和导轨，所述第一载台用于承载并固定所述显示面板；
[0013]所述导轨用于将所述第一图像采集单元从第一位置移动到预设位置，以扫描所述显示面板得到所述特征图像，以及将所述第一图像采集单元从所述预设位置移动到所述第一位置；
[0014]所述导轨还用于将所述第二图像采集单元从第二位置移动到所述预设位置，以采集所述显示面板得到所述局部彩色图像，以及将所述第二图像采集单元从所述预设位置移动到所述第二位置。
[0015]在某些实施方式中，所述缺陷识别装置包括第一载台、第二载台和连接所述第一载台和所述第二载台的传送单元，所述光源包括第一光源和第二光源；
[0016]所述第一载台用于承载并固定所述显示面板，所述第一图像采集单元用于接收经过所述第一载台上的所述显示面板的检测光线，以获得所述显示面板的所述特征图像；
[0017]所述传送单元用于将所述第一载台上的所述显示面板传送至所述第二载台；
[0018]所述第二载台承载并固定所述第一载台传送的所述显示面板，所述第二光源用于向所述第二载台上的所述显示面板发送所述检测光线，所述第二图像采集单元用于接收经过所述第二载台上的所述显示面板的检测光线，以获得所述显示面板的所述局部彩色图像。
[0019]在某些实施方式中，所述第一图像采集单元包括线扫描相机或面扫描相机。
[0020]在某些实施方式中，所述第二图像采集单元包括高倍镜头，所述第二图像采集单元通过所述高倍镜头拍摄预设放大倍数的所述局部彩色图像。
[0021]在某些实施方式中，所述缺陷识别单元的所述处理器执行所述计算机指令以实现获取分类好的局部彩色图像对所述缺陷识别模型进行训练。
[0022]在某些实施方式中，所述显示面板设置有标志，所述缺陷检测单元根据所述特征图像中所述标志的位置确定所述显示面板的缺陷坐标。
[0023]本申请实施方式还提供了一种显示面板的缺陷识别方法，包括：
[0024]扫描显示面板得到所述显示面板的特征图像；
[0025]根据所述特征图像测定所述显示面板的缺陷坐标；
[0026]根据所述缺陷坐标拍摄所述缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像；
[0027]利用缺陷识别模型对所述局部彩色图像识别得到缺陷类型以对所述缺陷进行分类。
[0028]在某些实施方式中，所述显示面板设置有标志，所述根据所述特征图像检测所述显示面板的缺陷坐标，包括：
[0029]根据所述特征图像中所述标志的位置确定所述显示面板的缺陷坐标。
[0030]在某些实施方式中，所述缺陷识别方法包括：
[0031]针对待检测的缺陷类型建立算法模型；
[0032]利用训练图像对所述算法模型进行训练，所述训练图像包括分类好的局部彩色图像；
[0033]利用经过训练的所述算法模型对验证图像进行检测得到验证检测结果以对所述算法模型进行优化；
[0034]重复上述训练步骤，在所述验证检测结果的准确率达到预设值的情况下，确定所述算法模型训练完成以作为所述缺陷识别模型。
[0035]本申请实施方式还提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，实现上述的缺陷识别方法。
[0036]本申请提供了一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行上述的缺陷识别方法。
[0037]本申请实施方式的显示面板的缺陷识别装置、缺陷识别方法和计算机可读存储介
质中，通过第一图像采集单元扫描显示面板，得到关于显示面板的特征图像，并由缺陷检测单元可根据显示面板的特征图像检测出显示面板的缺陷坐标位置，再通过第二图像采集单元根据检测得到缺陷坐标拍摄缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像，最后再通过缺陷识别单元利用预先设置的缺陷识别模型对局部彩色图像进行识别，得到缺陷类型以对缺陷进行分类。如此，能够对显示面板中由刺伤、异物产生的不良进行精确分类，从而，降低漏检风险，节省人力成本，降低不良造成的损失。
附图说明
[0038]本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0039]图1是本申请某些实施方式的缺陷识别装置的模块示意图。
[0040]图2是缺陷的特征图。
[0041]图3是本申请某些实施方式的缺陷识别装置的结构示意图。
[0042]图4是本申请某些实施方式的缺陷识别装置的又一结构示意图。
[0043]图5是本申请某些实施方式的显示面板的平面示意图。
[0044]图6是申请某些实施方式的缺陷识别方法的流程示意图。
[0045]图7是本申请某些实施方式的缺陷识别方法的流程示意图。
[0046]图8是本申请某些实施方式的缺陷识别模型的建模及优化的流程示意图。
[0047]附图主要元件标号：
[0048]缺陷识别装置10、第一图像采集单元11本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的缺陷识别装置，其特征在于，包括：第一图像采集单元，用于采集所述显示面板的特征图像；缺陷检测单元，用于根据所述特征图像测定所述显示面板的缺陷坐标；第二图像采集单元，用于根据所述缺陷坐标采集所述缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像；缺陷识别单元，包括处理器和存储有缺陷识别模型的计算机指令的存储器，所述处理器执行所述计算机指令实现利用所述缺陷识别模型对所述局部彩色图像识别得到缺陷类型以对所述缺陷进行分类。2.如权利要求1所述的缺陷识别装置，其特征在于，所述缺陷识别装置包括光源，所述光源用于向所述显示面板发射检测光线；所述采集所述显示面板的特征图像包括：接收经过所述显示面板后的检测光线以获得所述特征图像；所述根据所述缺陷坐标采集所述缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像包括：接收经过所述显示面板中的缺陷坐标所在位置对应区域后的检测光线以得到所述局部彩色图像。3.如权利要求2所述的缺陷识别装置，其特征在于，所述缺陷识别装置包括第一载台和导轨，所述第一载台用于承载并固定所述显示面板；所述导轨用于将所述第一图像采集单元从第一位置移动到预设位置，以扫描所述显示面板得到所述特征图像，以及将所述第一图像采集单元从所述预设位置移动到所述第一位置；所述导轨还用于将所述第二图像采集单元从第二位置移动到所述预设位置，以采集所述显示面板得到所述局部彩色图像，以及将所述第二图像采集单元从所述预设位置移动到所述第二位置。4.如权利要求2所述的缺陷识别装置，其特征在于，所述缺陷识别装置包括第一载台、第二载台和连接所述第一载台和所述第二载台的传送单元，所述光源包括第一光源和第二光源；所述第一载台用于承载并固定所述显示面板，所述第一图像采集单元用于接收经过所述第一载台上的所述显示面板后的检测光线，以获得所述显示面板的所述特征图像；所述传送单元用于将所述第一载台上的所述显示面板传送至所述第二载台；所述第二载台用于承载并固定所述第一载台传送的所述显示面板，所述第二光源用于向所述第二载台上的所述显示面板发送所述检测光线，所述第二图像采集单元用于接收经过所述第二载台上的所述显示面板的检测光线，以采集所述显示面板得到...

【专利技术属性】
技术研发人员：周全国，朱学辉，李凡，刘一泽，徐丽蓉，张青，唐浩，王志东，周丽佳，程久阳，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：