晶体粉末衍射图谱的聚类方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本申请是关于一种晶体粉末衍射图谱的聚类方法、装置及存储介质。该方法包括：获取待聚类的晶体XRPD图谱；获取聚类参数；去除所述待聚类的晶体XRPD图谱中的背景线，得到已去除背景线的晶体XRPD图谱；计算所述已去除背景线的晶体XRPD图谱的相似度矩阵，所述相似度矩阵的元素包括所述已去除背景线的晶体XRPD图谱中每两个晶体XRPD图谱的相似度值；根据所述相似度矩阵和所述聚类参数，对所述已去除背景线的晶体XRPD图谱进行聚类，得到聚类结果。本申请的技术方案能够提升衍射图谱聚类的准确性。的技术方案能够提升衍射图谱聚类的准确性。的技术方案能够提升衍射图谱聚类的准确性。

【技术实现步骤摘要】
晶体粉末衍射图谱的聚类方法、装置及存储介质


[0001]本申请涉及光谱处理
，尤其涉及一种晶体粉末衍射图谱的聚类方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]晶体粉末衍射图谱是一种分析晶体结构及性质的重要手段，其中最常见是X射线粉末衍射(X
‑
Ray Powder Diffraction，XRPD)图谱，其在判别物质是否为晶体、是何种晶体、物质的晶型以及物质结构的应力等方面均有着广泛的应用。由于不同类型的XRPD图谱(有时亦简称xrd图谱)对应不同的晶体粉末，因此，在对晶体粉末衍射图谱的分析中，有必要对晶体粉末衍射图谱进行聚类。然而，现有的晶体粉末衍射图谱的聚类方法容易将不属于同一类型的图谱聚为一类，聚类结果并不精准。

技术实现思路

[0003]为解决或部分解决相关技术中存在的问题，本申请提供一种晶体粉末衍射图谱的聚类方法、装置及存储介质，该技术方案能够提升衍射图谱聚类的准确性。
[0004]本申请第一方面提供一种晶体粉末衍射图谱的聚类方法，包括：
[0005]获取待聚类的晶体XRPD图谱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体粉末衍射图谱的聚类方法，其特征在于，所述方法包括：获取待聚类的晶体XRPD图谱；获取聚类参数；去除所述待聚类的晶体XRPD图谱中的背景线，得到已去除背景线的晶体XRPD图谱；计算所述已去除背景线的晶体XRPD图谱的相似度矩阵，所述相似度矩阵的元素包括所述已去除背景线的晶体XRPD图谱中每两个晶体XRPD图谱的相似度值；根据所述相似度矩阵和所述聚类参数，对所述已去除背景线的晶体XRPD图谱进行聚类，得到聚类结果。2.根据权利要求1所述的晶体粉末衍射图谱的聚类方法，其特征在于，所述去除所述待聚类的晶体XRPD图谱中的背景线，得到已去除背景线的晶体XRPD图谱，包括：对所述待聚类的晶体XRPD图谱进行多次采样和平滑处理，得到所述待聚类的晶体XRPD图谱的背景线；将所述待聚类的晶体XRPD图谱减去所述背景线，得到所述已去除背景线的晶体XRPD图谱。3.根据权利要求2所述的晶体粉末衍射图谱的聚类方法，其特征在于，所述对所述待聚类的晶体XRPD图谱进行多次采样和平滑处理，得到所述待聚类的晶体XRPD图谱的背景线，包括：以不同的采样间隔对所述待聚类的晶体XRPD图谱进行k次采样，得到所述待聚类的晶体XRPD图谱的k个采样点集，所述k为大于1的正整数；对所述k个采样点集中的每个采样点集进行平滑处理，得到k条背景线；将所述k条背景线叠加，得到所述待聚类的晶体XRPD图谱的背景线。4.根据权利要求3所述的晶体粉末衍射图谱的聚类方法，其特征在于，所述对所述k个采样点集中的每个采样点集进行平滑处理，包括：对于所述每个采样点集中任意一个采样点S
i
的衍射强度I
i
，比较所述衍射强度I
i
与的大小，所述J
i
＝(I
i
‑1+I
i+1
)/2，所述I
i
‑1和I
i+1
分别为所述采样点S
i
左右相邻的两个采样点S
i
‑1和S
i+1
的衍射强度；若则将所述J
i
取代所述采样点S
i
的衍射强度I
i
以平滑所述采样点S
i
‑1、S
i
和S
i+1
之间的连线。5.根据权利要求1所述的晶体粉末衍射图谱的聚类方法，其特征在于，所述去除所述待聚类的晶体XRPD图谱中的背景线，得到已去除背景线的晶体XRPD图谱，包括：步骤S1：以第一采样间隔对所述待聚类的晶体XRPD图谱进行采样和平滑处理，得到所述待聚类的晶体XRPD图谱的第一背景线；步骤S2：将所述待聚类的晶体XRPD图谱减去所述第一背景线，得到第一晶体XRPD图谱；步骤S3：以第二采样间隔对所述第一晶体XRPD图谱进行采样和平滑处理，得到所述第一晶体XRPD图谱的第二背景线；步骤S4：将所述第一晶体XRPD图谱减去所述第二背景线，得到第二晶体XRPD图谱；更换采样间隔，循环上述步骤S1至步骤S4，直至以第k采样间隔对第k
‑
1晶体XRPD图谱进行采样和平滑处理，得到所述第k
‑
1晶体XRPD图谱的第k背景线，所述k为大于1的正整数；
将所述第k
‑
1晶体XRPD图谱减去所述第k背景线，得到已去除背景线的晶体XRPD图谱。6.根据权利要求1所述的晶体粉末衍射图谱的聚类方法，其特征在于，在去除所述待聚类的晶体XRPD图谱中的背景线，得到已去除背景线的晶体XRPD图谱之后，所述方法还包括：对所述已去除背景线的晶体XRPD图谱进行曲线光滑处理，得到光滑的晶体XRPD图谱；所述计算所述已去除背景线的晶体XRPD图谱的相似度矩阵，包括：计算所述光滑的晶体XRPD图谱的相似度矩阵；所述根据所述相似度矩阵和所述聚类参数，对所述已去除背景线的晶体XRPD图谱进行聚类，得到聚类结果，包括：根据所述相似度矩阵和所述聚类参数，对所述光滑的晶体XRPD图谱进行聚类，得到聚类结果。7.根据权利要求1所述的晶体粉末衍射图谱...

【专利技术属性】
技术研发人员：王火斌，刘雪涛，阳卓岑，
申请(专利权)人：深圳晶泰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：