一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统技术方案

技术编号:31752697 阅读:30 留言:0更新日期:2022-01-05 16:34
本实用新型专利技术公开一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统,包括:测量单元、模拟单元、对比分析单元、数据处理单元;测量单元用于对辐射源的能谱进行能谱测量实验,获得辐射源的真实能谱;模拟单元用于对能谱测量实验进行蒙特卡洛模拟,获得辐射源的模拟能谱,模拟单元还基于参数优化后的蒙特卡洛模拟实验在不同能量下对辐射源进行模拟,获得辐射源的连续能谱;对比分析单元用于对比并分析真实能谱和模拟能谱,并对蒙特卡洛模拟实验进行参数优化;数据处理单元用于根据连续能谱进行能谱剂量转换,基于能谱剂量转换获得辐射剂量率。本实用新型专利技术仅通过一个高纯锗探测器就能实现辐射源测量,而且降低了能源浪费以及工作人员在实验中受到辐射的风险。实验中受到辐射的风险。实验中受到辐射的风险。

【技术实现步骤摘要】
一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统


[0001]本技术涉及辐射场剂量率测量领域,特别涉及一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统。

技术介绍

[0002]高纯锗(HPGe)探测器是半导体探测器,因其高能量分辨率,广泛用于核物理实验、核技术应用、环境辐射防护以及食品安全等领域中的伽马(γ)射线能谱测量。伽马射线具有很强的穿透能力,人体或生物机体在高强度γ场工作或长时间被低剂量γ射线辐射有可能会导致生命体中的DNA发生变化,甚至有可能会导致癌变等不可修复的辐射损伤。目前,主要采用气体电离室、闪烁计数器和G

M计数管来测量现场环境中总的辐射剂量,但无法测定环境中具体存在哪些核素。
[0003]在当前常用的技术中,如果要测量环境中的辐射剂量及其能谱分布,主要利用HPGe探测器测量辐射场中的γ能谱,同时用其他剂量率仪器进行剂量测量,结合两者的监测结果估计辐射场中核素种类及其辐射贡献。但这种方法存在较为繁琐,且浪费资源的问题,甚至工作人员有受到辐射的风险。

技术实现思路

[0004]本技术的为解决上述现有技术所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统,其特征在于,包括:测量单元、模拟单元、对比分析单元、数据处理单元;所述测量单元、模拟单元、对比分析单元依次相连;所述测量单元还与所述对比分析单元相连;所述模拟单元还与所述数据处理单元相连;所述测量单元用于对辐射源的能谱进行能谱测量实验,获得所述辐射源的真实能谱;所述模拟单元用于对能谱测量实验进行蒙特卡洛模拟,获得所述辐射源的模拟能谱,所述模拟单元还基于参数优化后的蒙特卡洛模拟实验在不同能量下对所述辐射源进行模拟,获得所述辐射源的连续能谱;所述对比分析单元用于对比并分析所述真实能谱和所述模拟能谱,并对所述蒙特卡洛模拟实验进行参数优化;所述数据处理单元用于根据所述连续能谱进行能谱剂量转换,基于所述能谱剂量转换获得辐射剂量率。2.根据权利要求1所述的基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统,其特征在于,所述测量单元包括供压模块、测量模块、放大模块;所述供压模块、测量模块、放大模块依次相连;所述放大模块还与所述对比分析单元相连;所述测量模块用于进行能谱测量实验;所述供压模块用于为所述测量模块提供电压;所述放大模块用于对所述测量模块测量到的结果进行放大处理。3.根据权利要求2所述的基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统,其特征在于,所述测量模块包括HPULB4S铅室和高纯锗探测器;所述高纯锗探测器置于所述HPULB4S铅室中。4.根据权利要求3所述的基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统,其特征在于,所述模拟单元包括第一模拟模块和第二模拟模块;所述测量模块、第一模拟模块、第二模拟模块依次相连;所述第二模拟模块还与所述数据处理单元相连;所述第一模拟模块用于对能谱测量实验进行蒙特卡洛模拟,获得所述辐射源的模拟能谱;所...

【专利技术属性】
技术研发人员:张苏雅拉吐王德鑫黄美容白力嘎
申请(专利权)人:内蒙古民族大学
类型:新型
国别省市:

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