一种材料透射率测试支架及测试系统技术方案

本申请涉及透射率测试技术领域，尤其涉及一种材料透射率测试支架及测试系统。该透射率测试支架由支架本体、滑轨、至少四个支撑件和固定座构成。其中，滑轨设置于支架本体上，支撑件用于支撑透射率测试用的天线，固定架用于支撑待测试的板材，支撑件可沿滑轨移动；当确定好待测试的板材后，通过移动支撑件将与待测试板材频段不匹配的测试用的天线移动至非测试区域，将与待测试板材频段相匹配的测试用的天线移动至测试位置，参与板材的透射率测试。该申请提供的材料透射率测试支架测试及系统操作简便，测试效率及测试精度高。测试效率及测试精度高。测试效率及测试精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种材料透射率测试支架及测试系统


[0001]本申请涉及透射率测试
，特别涉及一种材料透射率测试支架及测试系统。

技术介绍

[0002]现有技术中，常用的材料透射率的测试方法测试系统不够稳定，操作复杂且对测试环境要求较高，难以快速准确的测量材料的透射率。
[0003]因此，目前亟待需要一种材料透射率测试支架来解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种材料透射率测试支架及测试系统，能够快速准确的测量材料的透射率。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种材料透射率测试支架，包括：
[0006]支架本体，滑轨，至少四个支撑件和固定座；
[0007]所述滑轨设置于所述支架本体上，每个所述支撑件均可移动地设置于所述滑轨上，每个所述支撑件均用于支撑透射率测试用的天线，所述固定座设置于所述支架本体上，所述固定座用于固定待测试板材；
[0008]在对所述待测试板材进行测试时，其中两个所述透射率测试用天线通过与其连接的支撑件在所述滑轨上滑动至所述固定座的两侧，该两个所述透射率测试用天线中的一个透射率测试用发射天线用于向所述待测试板材发出微波，另一个透射率测试用接收天线用于接收经所述待测试板材透射出的微波。
[0009]在一种可能的设计中，所述支架本体包括第一支架本体、第二支架本体和第三支架本体，所述第一支架本体和所述第二支架本体设置于所述第三支架本体的两侧，所述第三支架本体的顶部设置有支撑平台，所述支撑平台用于支撑所述固定座。
[0010]在一种可能的设计中，所述第一支架本体和所述第二支架本体相对于所述第三支架本体互为对称结构，所述第一支架本体和所述第二支架本体均包括两个沿竖直方向延伸的支撑架、一个沿竖直方向延伸的第二支撑架、设置于两个所述支撑架之间的第一横梁以及设置于所述第一横梁和所述第二支撑架之间的第二横梁；
[0011]所述滑轨设置于所述第一横梁和所述第二横梁上。
[0012]在一种可能的设计中，所述支撑件包括支撑板和四个滚轮，四个所述滚轮设置于所述支撑板的底部；
[0013]所述支撑板用于支撑透射率测试用的天线，所述支撑件通过四个所述滚轮沿所述滑轨滑动。
[0014]在一种可能的设计中，所述滑轨位于所述第一横梁的部分和位于所述第二横梁的部分的轨距相同，四个所述滚轮的连线为正方形。
[0015]在一种可能的设计中，所述第三支架本体包括两个对称设置的分体结构，两个所
述分体结构均包括第三横梁和所述支撑平台，其中一个所述第三横梁和所述第一支架本体一体成型，另一个所述第三横梁和所述第二支架本体一体成型，所述第三横梁用于支撑所述支撑平台的下端，所述支撑平台顶部的一侧支撑于所述第二支撑架上。
[0016]在一种可能的设计中，所述支架本体还包括多个相同的第四支架本体，所述第四支架本体用于支撑并加高所述第一支架本体、所述第二支架本体和所述第三支架本体。
[0017]在一种可能的设计中，所述固定座包括箱体、手柄、调节组件和固定架；
[0018]所述箱体设置于所述支撑平台上，所述手柄设置于所述箱体上，所述调节组件设置于所述箱体内，所述固定架设置于所述箱体上，所述固定架包括底边和垂直设置于所述底边的两条侧边，所述底边和所述侧边的内侧均设置有用于固定所述待测试板材的凹槽；
[0019]所述手柄、所述调节组件和所述固定架依次连接，通过转动手柄带动所述调节组件和所述固定架运动，以带动所述待测试板材旋转。
[0020]第二方面，本申请实施例提供了一种材料透射率测试系统，包括：
[0021]计算机、矢量网络分析仪、透射率测试用的天线和透射率测试支架；
[0022]所述计算机、所述矢量网络分析仪和所述透射率测试用的天线依次电连接，所述透射率测试用的天线可移动地设置于所述透射率测试支架上；
[0023]所述透射率测试支架为上述可能的设计方案中任一种所述的透射率测试支架。
[0024]由上述方案可知，本实施例提供了一种透射率测试支架及系统，该透射率测试支架由支架本体、滑轨、至少四个支撑件和固定座构成。其中，滑轨设置于支架本体上，支撑件用于支撑透射率测试用的天线，固定架用于支撑待测试的板材，支撑件可沿滑轨移动，当确定好待测试的板材后，通过移动支撑件将与待测试板材频段不匹配的测试用的天线移动至非测试区域，将与待测试板材频段相匹配的测试用的天线移动至测试位置，参与板材的透射率测试。该申请提供的材料透射率测试支架及系统操作简便，测试效率及测试精度高。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1是本专利技术实施例提供的透射率测试支架示意图；
[0027]图2是本专利技术实施例提供的一部分支架本体示意图；
[0028]图3是本专利技术实施例提供的滑轨示意图；
[0029]图4是本专利技术实施例提供的一个支撑件示意图；
[0030]图5是本专利技术实施例提供的固定座示意图；
[0031]图6是本专利技术实施例提供的透射率测试系统示意图。
[0032]附图标记：
[0033]1‑
支架本体；
[0034]11
‑
第一支架本体；
[0035]111
‑
第一支撑架；
[0036]112
‑
第二支撑架；
[0037]113
‑
第一横梁；
[0038]114
‑
第二横梁；
[0039]12
‑
第二支架本体；
[0040]13
‑
第三支架本体；
[0041]131
‑
支撑平台；
[0042]132
‑
第三横梁；
[0043]14
‑
第四支架本体；
[0044]2‑
滑轨；
[0045]3‑
支撑件；
[0046]31
‑
支撑板；
[0047]32
‑
滚轮；
[0048]33
‑
垫片；
[0049]4‑
固定座；
[0050]41
‑
箱体；
[0051]42
‑
手柄；
[0052]43
‑
调节组件；
[0053]44
‑
固定架；
[0054]441
‑
底边；
[0055]442
‑
侧边；
[0056]443
‑
凹槽；
[0057]5‑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种透射率测试支架，其特征在于，包括：支架本体(1)、滑轨(2)、至少四个支撑件(3)和固定座(4)；所述滑轨(2)设置于所述支架本体(1)上，每个所述支撑件(3)均可移动地设置于所述滑轨(2)上，每个所述支撑件(3)均用于支撑透射率测试用的天线(5)，所述固定座(4)设置于所述支架本体(1)上，所述固定座(4)用于固定待测试板材；在对所述待测试板材进行测试时，其中两个所述透射率测试用天线(5)通过与其连接的支撑件(3)在所述滑轨(2)上滑动至所述固定座(4)的两侧，该两个所述透射率测试用天线(5)中的一个透射率测试用发射天线(51)用于向所述待测试板材发出微波，另一个透射率测试用接收天线(52)用于接收经所述待测试板材透射出的微波。2.根据权利要求1所述的透射率测试支架，其特征在于，所述支架本体(1)包括第一支架本体(11)、第二支架本体(12)和第三支架本体(13)，所述第一支架本体(11)和所述第二支架本体(12)设置于所述第三支架本体(13)的两侧，所述第三支架本体(13)的顶部设置有支撑平台(131)，所述支撑平台(131)用于支撑所述固定座(4)。3.根据权利要求2所述的透射率测试支架，其特征在于，所述第一支架本体(11)和所述第二支架本体(12)相对于所述第三支架本体(13)互为对称结构，所述第一支架本体(11)和所述第二支架本体(12)均包括两个沿竖直方向延伸的第一支撑架(111)、一个沿竖直方向延伸的第二支撑架(112)、设置于两个所述第一支撑架(111)之间的第一横梁(113)以及设置于所述第一横梁(113)和所述第二支撑架(112)之间的第二横梁(114)；所述滑轨设置于所述第一横梁(113)和所述第二横梁(114)上。4.根据权利要求3所述的透射率测试支架，其特征在于，所述支撑件(3)包括支撑板(31)和四个滚轮(32)，四个所述滚轮(32)设置于所述支撑板(31)的底部；所述支撑板(31)用于支撑透射率测试用的天线(5)，所述支撑件(3)通过四个所述滚轮(32)沿所述滑轨(2)滑动。5.根据权利要求4所述的透射率测试支架，其特征在于，所述滑轨...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宁，苟菲，杨丽，徐向明，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：