本发明专利技术公开了一种光模块低温性能测试装置，包括高低温老化机本体、设置于高低温老化机本体内部的置物组件和设置于置物组件上方的盖体，所述置物组件包括置物槽和设置于置物槽内部的支撑块，所述盖体的内部开设有吸附槽，任意两个所述吸附槽通过流通道连接，具体涉及光模块测试技术领域。该光模块低温性能测试装置，通过设置有盖体，在高低温老化机本体工作时，通过入料口向盖体内部加入活性炭，然后通过弹簧的弹性晃动盖体使活性炭较为均匀的分布在各置物槽中，从而可干燥置物槽内部，避免光模块受到冰霜凝固和冰霜液化成水导致的伤害，同时也解决了光模块冻结于置物槽内部难以取出的问题。难以取出的问题。难以取出的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种光模块低温性能测试装置
[0001]本专利技术属于光模块测试
，具体涉及一种光模块低温性能测试装置。
技术介绍
[0002]光模块是进行光电和电光转换的光电子器件。光模块的发送端把电信号转换为光信号，接收端把光信号转换为电信号。光模块按照封装形式分类，常见的有SFP，SFP+，SFF，千兆以太网路界面转换器(GBIC)等。
[0003]当光模块低温性能测试装置工作时，空气内部的水分会因急速的低温而凝结成冰霜，附着在光模块低温性能测试装置的内部，导致光模块结冰卡住，不便于光模块的取放，故现有的光模块低温性能测试装置在取出光模块时，会加温一段时间便于光模块取出，但加温的过程中凝结的冰霜容易熔化成水滴并滴落到光模块上，导致光模块损坏。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种光模块低温性能测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光模块低温性能测试装置，包括高低温老化机本体、设置于高低温老化机本体内部的置物组件和设置于置物组件上方的盖体，所述置物组件包括置物槽和设置于置物槽内部的支撑块，所述盖体的内部开设有吸附槽，任意两个所述吸附槽通过流通道连接，所述吸附槽的端壁设置有滤板，所述吸附槽与置物槽相适配。
[0006]优选的，所述置物组件的底壁安装有扶手，所述高低温老化机本体的侧壁铰接有门体，所述门体的侧壁固定安装有电源，所述门体远离电源的侧壁设置有加热组件，所述加热组件包括套设于扶手外侧的线圈罩和设置于线圈罩内部的线圈，所述线圈通过连接导线与电源的输出端固定连接。
[0007]优选的，还包括抽拉组件，所述抽拉组件包括设置于高低温老化机本体内壁的滑轨和设置于滑轨内部的滚轮，所述滚轮的顶端与置物组件固定连接。
[0008]优选的，还包括运动组件，所述运动组件包括设置于置物组件侧壁的铰链和设置于铰链内部的弹簧，所述置物组件通过铰链与盖体铰接。
[0009]优选的，所述盖体的侧壁设置有密封边，所述置物组件的顶壁开设有密封槽，所述密封边与密封槽相匹配。
[0010]优选的，所述支撑块的顶端设置有支撑角。
[0011]优选的，所述连接轨的侧壁安装有插杆，所述盖体的内部开设有插孔，所述插杆与插孔相适配。
[0012]优选的，所述电源的外侧套设有保护罩。
[0013]优选的，所述盖体的顶壁设置有入料口。
[0014]优选的，所述入料口的端口处设置有口盖。
[0015]本专利技术与现有技术相比，具有以下有益效果：
[0016](1)、该光模块低温性能测试装置，通过设置有盖体，在高低温老化机本体工作时，通过入料口向盖体内部加入活性炭，然后通过弹簧的弹性晃动盖体使活性炭较为均匀的分布在各置物槽中，从而可干燥置物槽内部，避免光模块受到冰霜凝固和冰霜液化成水导致的伤害，同时也解决了光模块冻结于置物槽内部难以取出的问题。
[0017](2)、该光模块低温性能测试装置，通过设置带有线圈的线圈罩，且扶手为钢材料制作，在光模块测试完毕需要取出时，通过线圈通电产生涡流热效应可提升扶手的温度，待扶手回归至常温使便于取出，从而节省了等待时间，提升了测试效率。
[0018](3)、该光模块低温性能测试装置，由于铰链设置为可拆卸组件，在活性炭过期或潮湿后，通过插杆与插孔的配合可将盖体取下，然后将盖体内部的活性炭倒出并更换新的活性炭，结构简单，操作便捷，同时，通过设置有滚轮，。
附图说明
[0019]图1为本专利技术的结构示意图；
[0020]图2为本专利技术高低温老化机本体内部装置的示意图；
[0021]图3为本专利技术置物组件的结构示意图；
[0022]图4为本专利技术盖体与置物组件展开的结构示意图；
[0023]图5为本专利技术吸附槽和流通道的结构示意图；
[0024]图6为本专利技术加热组件的结构示意图；
[0025]图7为本专利技术运动组件的结构示意图；
[0026]图8为本专利技术抽拉组件的结构示意图；
[0027]图9为本专利技术电源的结构示意图；
[0028]图中：1、高低温老化机本体；2、置物组件；21、置物槽；22、支撑块；23、支撑角；24、密封槽；3、加热组件；31、线圈罩；32、线圈；33、连接导线；4、门体；41、保护罩；42、电源；5、扶手；6、盖体；61、密封边；62、插孔；63、吸附槽；64、流通道；65、滤板；66、入料口；67、口盖；7、运动组件；71、连接轨；72、插杆；73、铰链；74、弹簧；8、抽拉组件；81、滑轨；82、滚轮。
具体实施方式
[0029]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]请参阅图1
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图9所示，本专利技术提供如下技术方案：一种光模块低温性能测试装置，包括高低温老化机本体1、设置于高低温老化机本体1内部的置物组件2和设置于置物组件2上方的盖体6，置物组件2包括置物槽21和设置于置物槽21内部的支撑块22，盖体6的内部开设有吸附槽63，任意两个吸附槽63通过流通道64连接，吸附槽63的端壁设置有滤板65，吸附槽63与置物槽21相适配。
[0031]根据图4和图5所示，在一些实施例中，活性炭具备很好的吸水作用，通过活性炭可将置物槽21内部的水分吸走，避免水分凝结成冰霜后或冰霜液化为水珠后造成光模块伤
害。
[0032]进一步的，置物组件2的底壁安装有扶手5，扶手5为钢材料，高低温老化机本体1的侧壁铰接有门体4，门体4的侧壁固定安装有电源42，门体4远离电源42的侧壁设置有加热组件3，加热组件3包括套设于扶手5外侧的线圈罩31和设置于线圈罩31内部的线圈32，线圈32通过连接导线33与电源42的输出端固定连接。
[0033]进一步的，还包括抽拉组件8，抽拉组件8包括设置于高低温老化机本体1内壁的滑轨81和设置于滑轨81内部的滚轮82，滚轮82的顶端与置物组件2固定连接。
[0034]根据图8所示，在一些实施例中，相较于滑动模型的结构，滚轮82通过减少与滑轨81的接触面积可降低冰霜的粘结效果，从而降低了置物组件2卡死的问题。
[0035]进一步的，还包括运动组件7，运动组件7包括设置于置物组件2侧壁的铰链73和设置于铰链73内部的弹簧74，置物组件2通过铰链73与盖体6铰接。
[0036]进一步的，盖体6的侧壁设置有密封边61，置物组件2的顶壁开设有密封槽24，密封边61与密封槽24相匹配。
[0037]进一步的，支撑块22的顶端设置有支撑角23。
[0038]根据图3所示，在一些实施例中，支撑角23通过降低与光模块的接触面积可避免光模块沾附于置物槽21本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光模块低温性能测试装置，其特征在于：包括高低温老化机本体(1)、设置于高低温老化机本体(1)内部的置物组件(2)和设置于置物组件(2)上方的盖体(6)，所述置物组件(2)包括置物槽(21)和设置于置物槽(21)内部的支撑块(22)，所述盖体(6)的内部开设有吸附槽(63)，任意两个所述吸附槽(63)通过流通道(64)连接，所述吸附槽(63)的端壁设置有滤板(65)，所述吸附槽(63)与置物槽(21)相适配。2.根据权利要求1所述的一种光模块低温性能测试装置，其特征在于：所述置物组件(2)的底壁安装有扶手(5)，所述高低温老化机本体(1)的侧壁铰接有门体(4)，所述门体(4)的侧壁固定安装有电源(42)，所述门体(4)远离电源(42)的侧壁设置有加热组件(3)，所述加热组件(3)包括套设于扶手(5)外侧的线圈罩(31)和设置于线圈罩(31)内部的线圈(32)，所述线圈(32)通过连接导线(33)与电源(42)的输出端固定连接。3.根据权利要求2所述的一种光模块低温性能测试装置，其特征在于：还包括抽拉组件(8)，所述抽拉组件(8)包括设置于高低温老化机本体(1)内壁的滑轨(81)和设置于滑轨(81)内部的滚轮(82)，所述滚轮(82)的顶端与置物组件(2)...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘依，
申请(专利权)人：武汉东湖学院，
类型：发明
国别省市：
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