一种全自动生成测试用例的系统、方法、电子设备及介质技术方案

本发明专利技术涉及软件测试技术领域，提出了一种全自动生成测试用例的系统、方法、电子设备及介质。所述全自动生成测试用例的方法，先对待测系统的程序代码进行扫描、分解处理，然后将分解处理后的代码与既定模型进行匹配分析，再结合功能特性库进行运算组合处理，得到测试用例数据集，从而实现测试用例的自动生成，大大提高测试的工作效率。提高测试的工作效率。提高测试的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种全自动生成测试用例的系统、方法、电子设备及介质


[0001]本专利技术属于软件测试
，具体地说，涉及一种全自动生成测试用例的系统、一种全自动生成测试用例的方法、一种运行全自动生成测试用例方法的电子设备以及一种用于存储实现全自动生成测试用例方法对应的计算机程序的计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]如今互联网行业如火如荼发展，互联网企业生产的各种代码软件产品层出不穷，人们对应用软件的质量和用户体验感的要求也越来越高。业界均知，软件测试正是保证软件产品质量的重要环节，而软件测试的主要依据和执行准则就是测试用例，换言之，好的测试用例能才能保证软件产品的高质量。为此，测试人员在编写测试用例事务中投入了大量人力、时间和学习成本，所花代价甚至高于软件开发团队。有怎样一种方法能解放测试设计和编写测试用例的劳动力，一直是一个热切的畅想！
[0003]近年来有相关技术人员在自动生成测试用例领域进行了探索。例如，公开号为CN103268285A；专利技术创造名称为针对API接口的健壮性测试用例自动生成方法和装置的中国专利技术专利，提出一种针本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全自动生成测试用例的系统，其特征在于：包括程序导入模块、测试类识别模块、特性库运算组合模块、数据存储模块；所述程序导入模块，用于导入待测系统的程序代码，并对待测系统的程序代码进行读取和分层处理；所述测试类识别模块，用于对分层处理后的层代码进行测试原子定位分析，先得到待测系统的配置测试数据集、功能验证数据集，再从数据存储模块中调取有效类模型、无效类模型对待测系统的配置测试数据集、功能验证数据集进行异常分析，得到配置类有效数据集、配置类无效数据集、功能类有效数据集、功能类无效数据集；所述特性库运算组合模块，用于存储或更新功能特性库，将功能特性库与从数据存储模块中调取的配置类有效数据集、配置类无效数据集、功能类有效数据集、功能类无效数据集进行运算组合处理，得到测试用例数据集，并将测试用例数据集发送至数据存储模块进行存储；所述数据存储模块，用于存储有效类模型、无效类模型、配置类模型、功能类模型、测试用例模型；其中，所述测试原子包括规则化的配置项和所述逻辑化的功能点；所述功能特性库包括功能定义和用法描述；所述配置类数据集、配置类有效数据集、配置类无效数据集均属于配置类模型；所述功能类数据集、功能类有效数据集、功能类无效数据集均属于功能类模型；所述测试用例数据集属于测试用例模型。2.一种基于如权利要求1所述的系统实现全自动生成测试用例的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：程序导入：程序导入模块导入待测系统的程序代码；步骤S2：分层处理：程序导入模块读取待测系统的程序代码，对程序代码进行分层处理，得到展示层代码、数据转发层代码、控制层代码三种层代码；步骤S3：类和测试原子识别处理：测试类识别模块对分层后的三种层代码分别由表及里递进地进行类识别和测试原子识别处理，将层代码按配置类、功能类、有效类、无效类进行划分；所述步骤S3具体包括以下步骤：步骤S31：测试类识别模块根据程序代码特征对分层后的层代码进行类识别处理，得到配置类数据集和功能类数据集；步骤S32：测试类识别模块对配置类数据集进行测试原子识别处理，得到规则化的配置项；测试类识别模块对功能类数据集进行测试原子识别处理，得到逻辑化的功能点；步骤S33：测试类识别模块从数据存储模块中调取有效类模型、无效类模型，将配置类数据集中的数据与有效类模型、无效类模型分别进行对比，根据对比结果得到配置类有效数据集、配置类无效数据集；测试类识别模块将功能类数据集中的数据与有效类模型、无效类模型分别进行对比，根据对比结果得到功能类有效数据集、功能类无效数据集；步骤S34：测试类识别模块发送配置类有效数据集、配置类无效数据集、功能类有效数据集、功能类无效数据集至数据存储模块进行分类存储；
步骤S4：运算组合：特性库运算组合模块将内置或更新的最新的功能特性库与从数据存储模块中调取的配置类有效数据集、配置类无效数据集、功能类有效数据集、功能类无...

【专利技术属性】
技术研发人员：王茜，范渊，吴永越，郑学新，刘韬，
申请(专利权)人：成都安恒信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：