HIL测试设备用扩展式高压采集板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种HIL测试设备用扩展式高压采集板，包括高压采集板卡（1）及设置在高压采集板卡（1）上的高压接口（2）、状态模拟接口（3）和驱动接口（4）；高压采集板卡（1）通过高压接口（2）与HIL测试设备（5）的高压接口连接，高压采集板卡（1）通过状态模拟接口（3）与移动充电桩控制器（6）的采样接口（61）连接，高压采集板卡（1）通过驱动接口（4）与移动充电桩控制器（6）的继电器驱动接口（62）连接。本实用新型专利技术通过在HIL测试设备与移动充电桩控制器之间引入高压采集板卡，在对移动充电桩控制器做测试验证时，减少了对HIL测试设备高压采样资源的需求，从而节省硬件成本，且能更方便的模拟各种故障场景。种故障场景。种故障场景。

【技术实现步骤摘要】
HIL测试设备用扩展式高压采集板


[0001]本技术涉及一种电池包测试设备，尤其涉及一种HIL（Hardware In the Loop，意为硬件在环，以下简称HIL）测试设备用可扩展高压采集板。

技术介绍

[0002]现有技术的移动充电桩一般有ACDC模块、DCDC模块和储能电池包等部分组成。每个模块的输出都需要有继电器进行控制，每个继电器都需要有高压采样点进行诊断控制，如高压继电器的常开和粘连的故障诊断、电池是否反接、保险丝是否故障等都需要用到高压采样点来做诊断。且随着移动充电桩技术的不断发展，其功能模块的扩展，所需的高压采样点会越来越多。因此在采用现有技术的HIL测试设备（即整车硬件在环测试设备）对移动充电桩控制器做测试验证时，需要HIL测试设备有足够的高压采样资源用于对这些高压采样点进行检测，需要占用HIL测试设备上大量的高压资源，造成硬件成本的大幅上升。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种HIL测试设备用扩展式高压采集板，在对移动充电桩控制器做测试验证时，能减少对HIL测试设备高压采样资源的需求，从而节省硬件成本。
[0004]本技术是这样实现的：
[0005]一种HIL测试设备用扩展式高压采集板，包括高压采集板卡及设置在高压采集板卡上的高压接口、状态模拟接口和驱动接口；高压采集板卡通过高压接口与HIL测试设备的高压接口连接，高压采集板卡通过状态模拟接口与移动充电桩控制器的采样接口连接，高压采集板卡通过驱动接口与移动充电桩控制器的继电器驱动接口连接。
[0006]所述的高压接口包括第一高压接口和第二高压接口，第一高压接口和第二高压接口的高压正端口分别连接至HIL测试设备的高压正端口，第一高压接口和第二高压接口的高压负端口分别连接至HIL测试设备的高压负端口。
[0007]所述的状态模拟接口包括主负继电器状态模拟接口，主负继电器状态模拟接口串接在高压接口的第一高压接口和第二高压接口的高压负端口之间；所述的驱动接口包括第一光MOS继电器，第一光MOS继电器的输出端连接至主负继电器状态模拟接口，第一光MOS继电器的输入端连接至继电器驱动接口的第一继电器驱动接口和第二继电器驱动接口。
[0008]所述的状态模拟接口包括主正继电器状态模拟接口，主正继电器状态模拟接口串接在高压接口的第一高压接口和第二高压接口的高压正端口之间；所述的驱动接口包括第三光MOS继电器，第三光MOS继电器的输出端连接至主正继电器状态模拟接口，第三光MOS继电器的输入端连接至继电器驱动接口的第三继电器驱动接口和第四继电器驱动接口。
[0009]所述的状态模拟接口包括主负继电器触点状态模拟接口，所述的驱动接口包括第二光MOS继电器；第二光MOS继电器的输出端连接至主负继电器触点状态模拟接口，第二光MOS继电器的输入端连接至继电器驱动接口的第一继电器驱动接口和第二继电器驱动接
口。
[0010]所述的状态模拟接口包括主正继电器触点状态模拟接口，所述的驱动接口包括第四光MOS继电器；第四光MOS继电器的输出端连接至主正继电器触点状态模拟接口，第四光MOS继电器的输入端连接至继电器驱动接口的第三继电器驱动接口和第四继电器驱动接口。
[0011]所述的状态模拟接口包括保险丝状态模拟接口，保险丝状态模拟接口与状态模拟接口的主正继电器状态模拟接口串接在高压接口的第一高压接口与第二高压接口的高压正端口之间。
[0012]本技术与现有技术相比，具有如下有益效果：
[0013]1、本技术能检测保险丝的正常和熔断状态、继电器的常开和粘连状态、继电器的控制功能，满足移动充电桩控制器的测试要求，通过引入板卡的方式扩展HIL测试设备高压采样资源，从而降低对HIL测试设备的硬件要求。
[0014]2、本技术具有可扩展性，能快捷的连接在HIL测试设备与移动充电桩控制器之间，板卡各端口的组合更加灵活，能够模拟各种继电器故障情况，从而更好的适应于不同的项目要求。
[0015]本技术通过在HIL测试设备与移动充电桩控制器之间引入高压采集板卡，在对移动充电桩控制器做测试验证时，减少了对HIL测试设备高压采样资源的需求，从而节省硬件成本，且能更方便的模拟各种故障场景。
附图说明
[0016]图1是本技术HIL测试设备用扩展式高压采集板的系统框图；
[0017]图2是本技术HIL测试设备用扩展式高压采集板的电路原理图。
[0018]图中，1高压采集板卡，2高压接口，3状态模拟接口，4驱动接口，5 HIL测试设备，6移动充电桩控制器，61采样接口，62继电器驱动接口，J1第一高压接口，J2第二高压接口，J3主负继电器状态模拟接口，J4主正继电器状态模拟接口，J5主负继电器触点状态模拟接口，J6主正继电器触点状态模拟接口，J7保险丝状态模拟接口，HV+高压正端口，HV
‑
高压负端口，MOS1第一光MOS继电器，M0S2第二光MOS继电器，MOS3第三光MOS继电器，MOS4第四光MOS继电器，drive1第一继电器驱动接口，drive2第二继电器驱动接口，drive3第三继电器驱动接口，drive4第四继电器驱动接口，HV1保险丝前端高压采样点，HV2保险丝后端高压采样点，HV3继电器后端高压采样点，HVN反接测试正高压采样点，HVP反接测试负高压采样点。
具体实施方式
[0019]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明。
[0020]请参见附图1，一种HIL测试设备用扩展式高压采集板，包括高压采集板卡1及设置在高压采集板卡1上的高压接口2、状态模拟接口3和驱动接口4；高压采集板卡1通过高压接口2与HIL测试设备5的高压接口连接，高压采集板卡1通过状态模拟接口3与移动充电桩控制器6的采样接口61连接，高压采集板卡1通过驱动接口4与移动充电桩控制器6的继电器驱动接口62连接。
[0021]请参见附图2，所述的高压接口2包括第一高压接口J1和第二高压接口J2，第一高
压接口J1和第二高压接口J2的高压正端口HV+分别连接至HIL测试设备5的高压正端口HV+，第一高压接口J1和第二高压接口J2的高压负端口HV
‑
分别连接至HIL测试设备5的高压负端口HV
‑
。
[0022]所述的状态模拟接口3包括主负继电器状态模拟接口J3，主负继电器状态模拟接口J3串接在高压接口2的第一高压接口J1和第二高压接口J2的高压负端口HV
‑
之间；所述的驱动接口4包括第一光MOS继电器MOS1，第一光MOS继电器MOS1的输出端连接至主负继电器状态模拟接口J3，第一光MOS继电器MOS1的输入端连接至继电器驱动接口62的第一继电器驱动接口drive1和第二继电器驱动接口drive2。
[0023]所述的状态模拟接口3包括主正继电器状态模拟接口J4，主正继电器状态模拟接口J4串接在高压接口2的第一高压接口J1和第二高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种HIL测试设备用扩展式高压采集板，其特征是：包括高压采集板卡（1）及设置在高压采集板卡（1）上的高压接口（2）、状态模拟接口（3）和驱动接口（4）；高压采集板卡（1）通过高压接口（2）与HIL测试设备（5）的高压接口连接，高压采集板卡（1）通过状态模拟接口（3）与移动充电桩控制器（6）的采样接口（61）连接，高压采集板卡（1）通过驱动接口（4）与移动充电桩控制器（6）的继电器驱动接口（62）连接。2.根据权利要求1所述的HIL测试设备用扩展式高压采集板，其特征是：所述的高压接口（2）包括第一高压接口和第二高压接口，第一高压接口和第二高压接口的高压正端口分别连接至HIL测试设备（5）的高压正端口，第一高压接口和第二高压接口的高压负端口分别连接至HIL测试设备（5）的高压负端口。3.根据权利要求1所述的HIL测试设备用扩展式高压采集板，其特征是：所述的状态模拟接口（3）包括主负继电器状态模拟接口，主负继电器状态模拟接口串接在高压接口（2）的第一高压接口和第二高压接口的高压负端口之间；所述的驱动接口（4）包括第一光MOS继电器，第一光MOS继电器的输出端连接至主负继电器状态模拟接口，第一光MOS继电器的输入端连接至继电器驱动接口（62）的第一继电器驱动接口和第二继电器驱动接口。4.根据权利要求1所述的HIL测试设备用扩展式高压采集板，其特征是：所述的状态模拟接口（3）包括主正继电器状态模拟接口，主正继...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓义，
申请(专利权)人：度普苏州新能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：