数据的写入方法及其数据存储装置制造方法及图纸

一种数据的写入方法及其数据存储装置。数据存储装置包括数据存储媒体及耦接于数据存储媒体的控制单元，其中数据存储媒体包括多个数据列及至少一损坏数据列。控制单元依据周期参数及损坏参数，以将数据写入至数据存储媒体的多个数据列，其中周期参数存储具有第一错误率的预定周期，损坏参数存储在预定周期中错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列的位置。位置。位置。

【技术实现步骤摘要】
数据的写入方法及其数据存储装置


[0001]本专利技术涉及一种数据的写入方法及其数据存储装置，尤其涉及一种具有周期性损坏数据列的数据存储媒体的数据的写入方法及其数据存储装置。

技术介绍

[0002]一般而言，存储装置，例如是固态硬盘(Solid State Drive，SSD)、SD存储卡(Secure Digital Memory Card)或闪存盘(USB)等，主要是由控制单元与数据存储媒体所构成。数据存储媒体是由多个数据列(column)所构成，而这些数据列则是用来存储数据。存储装置在制造的过程中，难免会生产出一些未达原厂合格标准的数据存储媒体，而被归类为次级(Downgrade)品。这些次级品在贩卖给消费者之前，都会先将数据存储媒体中损坏数据列(bad column)侦测出来，并将它标注或记录至损坏数据列表。控制单元便可根据损坏数据列表，跳过这些已标注或已记录的损坏数据列，不对这些损坏数据列进行数据的写入，借此避免发生存取数据错误的情况。
[0003]然而，在这些次级品中通常会出现周期性损坏数据列的现象，亦即每隔一段区间会出现一个损坏数据列。值得注意的是，当周期很短时，将产生大量的损坏数据列，而这些大量的损坏数据列远远超过硬件可以标注的数量。倘若使用旧有的方式将侦测出来的损坏数据列一个一个地标注或记录下来，将需要花费大量的内存空间来记录损坏数据列的位置。举例来说，倘若一个数据页(page)有18000个数据列，而每间隔8个数据列会有一个数据列是损坏的，总共会有2250个损坏数据列。因此一个存储矩阵(plane)需要2250个字节(4500Bytes)来记录损坏数据列的位置。更进一步来说，倘若数据存储媒体配置16颗规格颗粒及4个存储矩阵，则数据存储媒体需要288KBytes来记录损坏数据列的位置，而此容量却远大于一般控制器所内建的静态随机存取内存(SRAM)的容量大小。此外，损坏数据列的标注或记录的数量受限于硬件，倘若可标注的数量用完时，数据存储媒体中这些剩余未标注的损坏数据列，将可能消耗糾錯碼(Error Correcting Code，ECC)的糾錯能力，造成原本可以糾錯的数据无法被适当的糾錯。
[0004]因此，对于具有周期性损坏数据列的数据存储媒体，如何在有限的硬件可标注的损坏数据列的数量限制下，提供一种可以大幅降低记录损坏数据列位置所需花费的内存容量的方法，将是本案所要着重的问题与解决的重点。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种数据的写入方法，适用于数据存储媒体，数据存储媒体耦接于控制单元，且数据存储媒体包括多个数据列及至少一损坏数据列，数据的写入方法包括：控制单元依据周期参数及损坏参数，以将数据写入至数据存储媒体的多个数据列，其中周期参数存储具有第一错误率的预定周期，损坏参数存储在预定周期中错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列的位置。
[0006]在本专利技术的一实施例中，其中周期参数及损坏参数存储于数据存储媒体中。
[0007]在本专利技术的一实施例中，在控制单元依据周期参数及损坏参数，以将数据写入至数据存储媒体的多个数据列的步骤前，还包括：控制单元设定侦测至少一损坏数据列的预定周期范围；控制单元依据预定周期，将多个数据列划分为X个周期，其中预定周期是选自于预定周期范围，X为多个数据列除以预定周期且X为正整数，以及X个周期中的每一个周期具有T个数据列，其中T为预定周期且T为正整数；控制单元分别统计多个数据列在X个周期中损坏的数量，以取得多个数据列所对应的损坏数据列总数；控制单元分别将多个数据列所对应的损坏数据列总数作归一化，以分别计算出多个数据列在预定周期条件下的错误率，并分别将多个错误率记录至错误率记录表中；控制单元判断预定周期的数值是否大于等于预定周期范围的上限值；以及当判断为是时，控制单元从错误率记录表中选取具有第一错误率，即最高错误率的预定周期并存储至周期参数，以及在预定周期中选取错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列并将至少一损坏数据列的位置存储至损坏参数。
[0008]在本专利技术的一实施例中，在控制单元判断预定周期的数值是否大于等于预定周期范围的上限值的步骤后，还包括：当判断为否时，控制单元调整预定周期的数值，并执行控制单元依据预定周期将多个数据列划分为X个周期的步骤。
[0009]本专利技术实施例另提供一种数据存储装置，包括：数据存储媒体以及耦接于数据存储媒体的控制单元。数据存储媒体包括多个数据列及至少一损坏数据列。控制单元依据周期参数及损坏参数，以将数据写入至数据存储媒体的多个数据列，其中周期参数存储具有第一错误率(通常是最高错误率)的预定周期，损坏参数存储在预定周期中错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列的位置。
[0010]在本专利技术的另一实施例中，其中周期参数及损坏参数存储于数据存储媒体中。
[0011]在本专利技术的另一实施例中，控制单元还包括：设定侦测至少一损坏数据列的预定周期范围；依据预定周期，将多个数据列划分为X个周期，其中预定周期是选自于预定周期范围，X为多个数据列除以预定周期且X为正整数，以及X个周期中的每一个周期具有T个数据列，其中T为预定周期且T为正整数；分别统计多个数据列在X个周期中损坏的数量，以取得多个数据列所对应的损坏数据列总数；分别将多个数据列所对应的损坏数据列总数作归一化，以分别计算出多个数据列在预定周期条件下的错误率，并分别将多个错误率记录至错误率记录表中；判断预定周期的数值是否大于等于预定周期范围的上限值；以及当判断为是时，从错误率记录表中选取具有第一错误率(通常是最高错误率)的预定周期并存储至周期参数，以及在预定周期中选取错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列并将至少一损坏数据列的位置存储至损坏参数。
[0012]在本专利技术的另一实施例中，控制单元还包括：当判断为否时，调整预定周期的数值，并执行依据预定周期将多个数据列划分为X个周期。
[0013]本专利技术实施例所提供数据的写入方法及其数据存储装置，借由读取周期参数及损坏参数，以取得损坏数据列的位置，同时将数据准确地写入至数据存储媒体的数据列中，其中周期参数存储具有第一错误率(通常是最高错误率)的预定周期，损坏参数存储在预定周期中错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列的位置。借此，在写入数据的过程中，可以主动跳过损坏数据列，以避免将数据写入至数据存储媒体的损坏数据列中，同时达到大幅降低存储或记录损坏数据列位置所需花费的内存容量的目的。
[0014]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，
而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图,详细说明如下。
附图说明
[0015]图1为数据存储装置的示意图。
[0016]图2为数据存储媒体的示意图。
[0017]图3为依照本专利技术实施例数据存储媒体的周期性损坏数据列的侦测方法的流程示意图。
[0018]图4A为依照本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据的写入方法，适用于一数据存储媒体，所述数据存储媒体耦接于一控制单元，其特征在于，所述数据存储媒体包括多个数据列及至少一损坏数据列，所述数据的写入方法包括：所述控制单元依据一周期参数及一损坏参数，以将一数据写入至所述数据存储媒体的所述多个数据列，其中所述周期参数存储具有一第一错误率的一预定周期，所述损坏参数存储在所述预定周期中错误率大于等于一预定错误率的所述至少一损坏数据列的位置。2.如权利要求1所述的数据的写入方法，其特征在于，所述周期参数及所述损坏参数存储于所述数据存储媒体中。3.如权利要求1所述的数据的写入方法，其特征在于，在所述控制单元依据所述周期参数及所述损坏参数，以将所述数据写入至所述数据存储媒体的所述多个数据列的步骤前，还包括：所述控制单元设定侦测所述至少一损坏数据列的一预定周期范围；所述控制单元依据所述预定周期，将所述多个数据列划分为X个周期，其中所述预定周期是选自于所述预定周期范围，X为所述多个数据列除以所述预定周期且X为正整数，且所述X个周期中的每一个周期具有T个数据列，其中T为所述预定周期且T为正整数；所述控制单元分别统计所述多个数据列在所述X个周期中损坏的数量，以取得所述多个数据列所对应的一损坏数据列总数；所述控制单元分别将所述多个数据列所对应的所述损坏数据列总数作归一化，以分别计算出所述多个数据列在所述预定周期条件下的错误率，并分别将所述多个错误率记录至一错误率记录表中；所述控制单元判断所述预定周期的数值是否大于等于所述预定周期范围的上限值；以及当判断为是时，所述控制单元从所述错误率记录表中选取具有所述第一错误率的所述预定周期并存储至所述周期参数，以及在所述预定周期中选取错误率大于等于所述预定错误率的所述至少一损坏数据列并将所述至少一损坏数据列的位置存储至所述损坏参数。4.如权利要求3所述的数据的写入方法，其特征在于，在所述控制单元判断所述预定周期的数值是否大于等于所述预定周期范围的上限值的步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄圣元，
申请(专利权)人：慧荣科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：