【技术实现步骤摘要】
一种自动标记坏点的芯片测试机
[0001]本技术涉及芯片测试
,具体为一种自动标记坏点的芯片测试机。
技术介绍
[0002]众所周知,芯片,又称微电路、微芯片、集成电路。是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分设计初期系统级芯片测试,由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
[0003]现今的芯片测试机,大多数无法实现根据不同的芯片尺寸进行固定与调节,而且多半是固定的,不方便将芯片拿取,芯片还要根据标点装置的位置进行移动,导致局限性较高。
技术实现思路
[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足,本技术提供了一种可以实现根据不同芯片尺寸进行固定与调节,方便拿取,不需要根据标点装置的位置进行移动,降低局限性的自动标记坏点的芯片测试机。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种自动标记坏点的芯片测试机,包括底座,其特征在于:所述底座的顶端设置有放置台 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种自动标记坏点的芯片测试机,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶端设置有放置台(2),所述放置台(2)的顶端设置有放置板(3),并且放置板(3)的顶端开设有滑轨(4),并且滑轨(4)的上部设置有安装板(5),并且滑轨(4)与安装板(5)滑动连接,所述安装板(5)的后端设置有拉杆(6),所述放置板(3)的左端与右端均设置有第一固定杆(7),并且第一固定杆(7)内部套装有第二固定杆(8),所述底座(1)的顶端设置有支撑杆(9),并且支撑杆(9)的左端设置有电动伸缩杆(10),并且电动伸缩杆(10)的底端设置有自动标记点(11),所述自动标记点(11)的底端固定连接有喷墨头(12),所述支撑杆(9)的内壁开设有滑槽(13),并且电动伸缩杆(10)的底端设置有滑块,并且电...
【专利技术属性】
技术研发人员:甘性会,
申请(专利权)人:深圳市思核科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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