一种多探头天线测试暗箱制造技术

本申请公开了一种多探头天线测试暗箱，包括屏蔽暗箱、安装在屏蔽暗箱内且位于屏蔽暗箱顶部的多探头阵列、固定在屏蔽暗箱内且位于屏蔽暗箱底部的三维承载台、以及在屏蔽暗箱外部的接驳台；所述多探头阵列中的多个双极化天线探头在垂直于地面的方向上近距离对准三维承载台上的待测天线阵列，所述多探头阵列中的探头间距可调整以使每个探头的结构中心与待测天线阵列的每个通道相对应。上述测试暗箱采用了多探头测试技术，测试效率高；并能针对不同尺寸不同阵元分布的待测天线进行多探头间距调整，适用范围广。适用范围广。适用范围广。

【技术实现步骤摘要】
一种多探头天线测试暗箱


[0001]本申请涉及一种天线测试暗箱，尤其涉及一种多探头天线测试暗箱。

技术介绍

[0002]天线测试技术包括远场测试法、近场测试法、紧缩场测试法等。其中，近场测试需搭建微波暗室。小型化的微波暗室也称为微波暗箱。近场测试是通过在微波暗室中使用伺服系统和已知探头，在离开待测天线几个波长的近场区域内，提取天线幅度与相位信息，通过换算得出待测天线的远场方向图等信息。近场测试时需对测试探头进行修正，并且伺服系统中的安装架也会对测试结果造成一定影响。
[0003]探头天线测试系统分为单探头测试系统和多探头测试系统。单探头测试系统采用单个探头扫描进行数据采集，相对于多探头测试系统具有耗时较长、效率较低的缺点。多探头测试系统采用多个探头，可以同时采集多个待测通道的数据，相对于单探头系统具有测试效率根据探头数量成倍增加的优点，但需要对各探头进行校准，校准数据的准确性对测试结果有一定影响。

技术实现思路

[0004]本申请所要解决的技术问题是提供一种多探头天线测试暗箱，能够为有源阵列天线（即待测天线）及整机设备的生产提供完善的测试条件，具有小型化、测试快速化、可实现批量化测试的特点。
[0005]为解决上述技术问题，本申请提出了一种多探头天线测试暗箱，包括屏蔽暗箱、安装在屏蔽暗箱内且位于屏蔽暗箱顶部的多探头阵列、固定在屏蔽暗箱内且位于屏蔽暗箱底部的三维承载台、以及在屏蔽暗箱外部的接驳台；所述多探头阵列中的多个双极化天线探头在垂直于地面的方向上近距离对准三维承载台上的待测天线阵列，所述多探头阵列中的探头间距可调整以使每个探头的结构中心与待测天线阵列的每个通道相对应。上述测试暗箱采用了多探头测试技术，测试效率高；并能针对不同尺寸不同阵元分布的待测天线进行多探头间距调整，适用范围广。
[0006]进一步地，所述屏蔽暗箱呈长方体，具有六个矩形面；在屏蔽暗箱的正面设置有触摸屏一体机及进出料门，在屏蔽暗箱的至少一个侧面安装有波导窗，在屏蔽暗箱的背面设有维修门，在屏蔽暗箱的顶面设有维修天窗，在屏蔽暗箱的各个矩形面的内壁覆盖吸波材料。这是屏幕暗箱的一种优选结构示例。
[0007]优选地，所述吸波材料为角锥、劈锥、乳突、平板或楔形吸波材料的一种或多种的任意组合。这是吸波材料的一些优选结构示例。
[0008]进一步地，所述多探头阵列包括排列在同一平面上的多个双极化天线探头、用于固定双极化天线探头的多探头固定架、开关矩阵、探头移动单元以及连接线缆。这是多探头阵列的详细结构说明。
[0009]优选地，所述多探头阵列共有八个双极化天线探头，在水平面上沿X轴方向分为两
组，左右两边各设置四个双极化天线探头两两对齐；所述连接线缆为射频电缆，射频电缆一端连接探头，射频电缆另一端连接至开关矩阵。这是多探头阵列的一种优选结构示例。
[0010]进一步地，所述三维承载台包括升降台和XY滑台；升降台实现待测天线的垂直方向运动；XY滑台实现待测天线水平方向上运动。这是三维承载台的一种优选结构示例。
[0011]进一步地，所述接驳台包括托盘、以及固定在托盘上的上电装置；所述接驳台放置在屏蔽暗箱的进出料门处，托盘承载待测天线在接驳台上滑动，从进出料门进出屏蔽暗箱。这是接驳台的一种优选结构示例。
[0012]优选地，所述托盘具备多个限位装置，以固定不同尺寸的待测有源阵列天线及整机设备。这是为了扩大产品的适用范围。
[0013]进一步地，待测有源阵列天线及整机设备为双极化天线。这是一种优选的结构示例。
[0014]进一步地，每个探头覆盖一个子阵区域，每个子阵区域包含待测天线阵列的一个或多个通道，不同探头所覆盖的子阵区域无重叠；每个探头位于所覆盖子阵区域中心的正上方。这是一种优选的结构示例。
[0015]本申请取得的技术效果是：采用了多探头测试技术，测试效率高；针对不同尺寸不同阵元分布的待测天线进行多探头间距调整，适用范围广。
附图说明
[0016]图1是本申请提出的一种多探头天线测试暗箱的结构示意图。
[0017]图2是多探头测试时待测天线的运动流程示意图。
[0018]图中附图标记说明：1为屏蔽暗箱；11为触摸屏一体机；12为进出料门；13为波导窗；14为维修门；15为维修天窗；16为吸波材料；2为多探头阵列；3为三维承载台；31为升降台；32为XY滑台；4为接驳台；41为托盘；42为上电装置；5为待测天线。
具体实施方式
[0019]请参阅图1，本申请提出的一种多探头天线测试暗箱包括屏蔽暗箱1、安装在屏蔽暗箱1内且位于屏蔽暗箱1的顶部的多探头阵列2、固定在屏蔽暗箱1内且位于屏蔽暗箱1的底部的三维承载台3、以及在屏蔽暗箱1外部的接驳台4。
[0020]所述屏蔽暗箱1例如呈长方体，具有六个矩形面。作为一种优选示例，在屏蔽暗箱1的正面设置有触摸屏一体机11及进出料门12，在屏蔽暗箱1的至少一个侧面安装有波导窗13，在屏蔽暗箱1的背面设有维修门14，在屏蔽暗箱1的顶面设有维修天窗15，在屏蔽暗箱1的各个矩形面的内壁覆盖吸波材料16。吸波材料16例如是角锥、劈锥、乳突、平板或楔形吸波材料的一种或多种的任意组合。
[0021]所述多探头阵列2包括排列在同一平面（例如水平面）上的多个双极化天线探头、用于固定双极化天线探头的多探头固定架、开关矩阵、探头移动单元以及连接线缆。作为一种优选示例，多探头阵列2共有八个双极化天线探头，沿X轴方向分为两组，左右两边各设置四个双极化天线探头两两对齐。连接线缆例如为16根射频电缆，射频电缆一端连接探头，射频电缆另一端连接至开关矩阵。开关矩阵例如为2
×
16开关矩阵。探头安装机构的精度直接影响阵列校准的电性能。探头间距可在行程内任意设置。例如，探头间距可以等间距移动。
探头在Y轴方向可以任意间距调整。探头自动调节间距范围在X轴、Y轴方向例如均为110mm至250mm等间距范围可调，满足多种型号整机测试。在实际工作中可以根据需要，在程序中预先设置好多种探头分布模式，实现一键调整。
[0022]所述三维承载台3包括升降台31和XY滑台32。升降台31例如是基于刚性链的剪刀叉升降装置，可实现待测天线5的垂直方向运动。XY滑台32可实现待测天线5水平方向上运动。
[0023]所述多探头阵列2中，多个双极化天线探头安装在整个测试暗箱的顶部，将多探头阵列2在垂直于地面的方向上近距离对准待测天线阵列，多探头阵列2中的每个探头可以任意移动和定位，使每个双极化天线探头的结构中心与待测天线阵列的每个通道相对应，接收幅度和相位信号，对整个待测天线阵面的定距扫描校准以及空口测试数据采集。所述待测天线阵列的通道是指待测天线阵列的天线单元。所述三维承载台3承载待测天线在平行于地面的水平面移动，使待测天线整机各通道幅度和相位信息能够快速被多探头采集，实现有源阵列天线及整机设备的空口幅度和相位校准、射频指标及辐射方向图测试。多探头阵列2与待测天线阵列之间的“近距离”是指两者的距本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多探头天线测试暗箱，其特征是，包括屏蔽暗箱、安装在屏蔽暗箱内且位于屏蔽暗箱顶部的多探头阵列、固定在屏蔽暗箱内且位于屏蔽暗箱底部的三维承载台、以及在屏蔽暗箱外部的接驳台；所述多探头阵列中的多个双极化天线探头在垂直于地面的方向上近距离对准三维承载台上的待测天线阵列，所述多探头阵列中的探头间距可调整以使每个探头的结构中心与待测天线阵列的每个通道相对应。2.根据权利要求1所述的多探头天线测试暗箱，其特征是，所述屏蔽暗箱呈长方体，具有六个矩形面；在屏蔽暗箱的正面设置有触摸屏一体机及进出料门，在屏蔽暗箱的至少一个侧面安装有波导窗，在屏蔽暗箱的背面设有维修门，在屏蔽暗箱的顶面设有维修天窗，在屏蔽暗箱的各个矩形面的内壁覆盖吸波材料。3.根据权利要求2所述的多探头天线测试暗箱，其特征是，所述吸波材料为角锥、劈锥、乳突、平板或楔形吸波材料的一种或多种的任意组合。4.根据权利要求1所述的多探头天线测试暗箱，其特征是，所述多探头阵列包括排列在同一平面上的多个双极化天线探头、用于固定双极化天线探头的多探头固定架、开关矩阵、探头移动单元以及连接线缆。5.根据权利要求4所述的多探头天线测试暗箱...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾卓，鲍坤，王帅，毛小莲，周建华，
申请(专利权)人：上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：