一种用于集成电路测试的表面扫描设备制造技术

本发明专利技术公开了一种用于集成电路测试的表面扫描设备，其结构包括隔离窗、扫描设备、控制面板、扫描台，隔离窗嵌固在扫描设备上端侧面，控制面板卡合在扫描设备侧面，扫描设备下端安装于扫描台上端，滑动板在形变板的伸缩下进行活动，使得集成电路与移动条表面产生间隙，避免移动条产生反向作用力对集成电路的固定形成波动，防止集成电路受到惯性力与反作用力而偏移水平线，集成电路侧面与支撑结构侧面卡合时，贴合结构对集成电路的侧面进行吸附，继而在弹力块的弹力下对弹簧形成挤压，在对挤压力下使吸附孔左侧形成真空状态，同时在弹簧的弹力下对集成电路两侧进行固定移动，防止集成电路侧面固定移动时进行滑动，避免集成电路偏移水平状态。水平状态。水平状态。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路测试的表面扫描设备


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，具体涉及一种用于集成电路测试的表面扫描设备。

技术介绍

[0002]集成电路在安装前需要对其表面进行扫描，检测集成电路电路流通的可靠性，且检测扫描郭晨中与外界的光线进行光学隔离，继而集成电路检测时不会受到外界光线干扰，从而保证了检测精度极高的一致性。
[0003]扫描过程中集成电路在扫描设备内利用传送带进行平移，使扫描效果能从倾斜的角度进行扫描，但是集成电路需要校准位置，在移动作用力下产生的弹力容易使卡合结构受力偏移，使集成电路测试移动过程中产生波动，从而使集成电路偏移水平状态，容易导致集成电路表面扫描不精确的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术通过如下的技术方案来实现：一种用于集成电路测试的表面扫描设备，其结构包括隔离窗、扫描设备、控制面板、扫描台，所述隔离窗嵌固在扫描设备上端侧面，所述控制面板卡合在扫描设备侧面，所述扫描设备下端安装于扫描台上端，所述扫描设备设有卡合结构、扫描仪、转动轴、移动条、固定架，所述卡合结构下端嵌固在移动条表面，所述移动条与转动轴转动配合，所述转动轴下端安装于固定架内侧下端，所述扫描仪卡合在固定架上端，所述固定架下端安装于扫描台上端，所述扫描仪设有两个，分别为垂直状态和倾斜45度角状态安装。
[0005]作为本专利技术进一步改进，所述卡合结构设有固定板、受力板、支撑结构、滑动结构、第一弹簧杆，所述第一弹簧杆左侧嵌固在固定板右侧，所述第一弹簧杆右侧焊接在受力板左侧，所述滑动结构上端安装于受力板下端，所述支撑结构贴合在受力板右侧，所述固定板下端嵌固在移动条表面，所述固定板为垂直状态，所述第一弹簧杆上下两侧设有褶皱板，褶皱板安装于固定板右侧。
[0006]作为本专利技术进一步改进，所述滑动结构设有橡胶板、挤压板、弹力结构，所述橡胶板贴合在挤压板内部，所述弹力结构嵌固在挤压板下端，所述挤压板上端安装于受力板下端，所述橡胶板内部设有密封状态的槽。
[0007]作为本专利技术进一步改进，所述弹力结构设有第二弹簧杆、滑动板、形变板，所述形变板贴合在滑动板侧面，所述第二弹簧杆安装于第二弹簧杆内侧，所述滑动板上端嵌固在挤压板下端，所述滑动板为铝合金材质，具有韧性强容易弯曲的特性，所述形变板为橡胶材质，具有容易弯曲的特性。
[0008]作为本专利技术进一步改进，所述支撑结构设有弹力块、弹簧、贴合结构、支撑块，所述弹力块贴合在支撑块右侧，所述弹簧左侧嵌固在支撑块右侧，所述弹簧右侧安装于贴合结构左侧，所述贴合结构上下两侧与弹力块内侧相贴合，所述支撑块左侧贴合在受力板右侧，
所述弹力块为橡胶材质，具有拉伸效果。
[0009]作为本专利技术进一步改进，所述贴合结构设有吸附结构、密封板、伸缩板、活动块，所述吸附结构嵌固在密封板右侧，所述伸缩板安装于活动块外侧，所述吸附结构贴合在活动块右侧内部，所述弹簧右侧安装于活动块左侧，所述伸缩板为橡胶材质，具有形变效果，所述密封板为橡胶材质，具有容易压缩的特性。
[0010]作为本专利技术进一步改进，所述吸附结构设有吸附孔、压缩板、弯曲板，所述弯曲板右侧两端安装于压缩板左端内侧，所述吸附孔位于压缩板右侧中间内部，所述压缩板左侧嵌固在密封板右侧，所述弯曲板为铝合金材质，具有韧性大容易形变的特性，所述压缩板靠近吸附孔的位置为橡胶材质。
[0011]有益效果
[0012]与现有技术相比，本专利技术有益效果在于：
[0013]1、控制面板的控制下转动轴带动移动条进行转动，使卡合在卡合结构中的集成电路通过扫描仪的激光扫描，集成电路在安装时其侧面对支撑结构进行挤压，使受力板对第一弹簧杆进行压缩，从而滑动结构在移动条表面进行轻微的滑动，滑动板在形变板的伸缩下进行活动，使得集成电路与移动条表面产生间隙，避免移动条产生反向作用力对集成电路的固定形成波动，防止集成电路受到惯性力与反作用力而偏移水平线。
[0014]2、集成电路侧面与支撑结构侧面卡合时，贴合结构对集成电路的侧面进行吸附，继而在弹力块的弹力下对弹簧形成挤压，从而集成电路侧面对吸附结构挤压，从而集成电路侧面贴合在压缩板右侧，在对挤压力下使吸附孔左侧形成真空状态，同时在弹簧的弹力下对集成电路两侧进行固定移动，防止集成电路侧面固定移动时进行滑动，避免集成电路偏移水平状态。
附图说明
[0015]图1为本专利技术一种用于集成电路测试的表面扫描设备的结构示意图。
[0016]图2为本专利技术一种扫描设备的侧面结构示意图。
[0017]图3为本专利技术一种卡合结构的侧面结构示意图。
[0018]图4为本专利技术一种支撑结构的侧面结构示意图。
[0019]图5为本专利技术一种弹力结构的侧面结构示意图。
[0020]图6为本专利技术一种滑动结构的侧面结构示意图。
[0021]图7为本专利技术一种贴合结构的侧面结构示意图。
[0022]图8为本专利技术一种吸附结构的侧面结构示意图。
[0023]图中：隔离窗
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1、扫描设备
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2、控制面板
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3、扫描台
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4、卡合结构
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21、扫描仪
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22、转动轴
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23、移动条
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24、固定架
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25、固定板
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211、受力板
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212、支撑结构
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213、滑动结构
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214、第一弹簧杆
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215、橡胶板
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a1、挤压板
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a2、弹力结构
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a3、第二弹簧杆
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a31、滑动板
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a32、形变板
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a33、弹力块
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w1、弹簧
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w2、贴合结构
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w3、支撑块
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w4、吸附结构
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w31、密封板
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w32、伸缩板
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w33、活动块
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w34、吸附孔
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e1、压缩板
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e2、弯曲板
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e3。
具体实施方式
[0024]下面结合附图对本专利技术技术做进一步描述：
[0025]实施例1：
[0026]如图1
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图5所示:
[0027]本专利技术一种用于集成电路测试的表面扫描设备，其结构包括隔离窗1、扫描设备2、控制面板3、扫描台4，所述隔离窗1嵌固在扫描设备2上端侧面，所述控制面板3卡合在扫描设备2侧面，所述扫描设备2下端安装于扫描台4上端，所述扫描设备2设有卡合结构21、扫描仪22、转动轴23、移动条24、固定架25，所述卡合结构21下端嵌固在移动条24表面，所述移动条24与转动轴23转动配合，所述转动轴23下端安装于固定架25内侧下端，所述扫描仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试的表面扫描设备，其结构包括隔离窗(1)、扫描设备(2)、控制面板(3)、扫描台(4)，所述隔离窗(1)嵌固在扫描设备(2)上端侧面，所述控制面板(3)卡合在扫描设备(2)侧面，所述扫描设备(2)下端安装于扫描台(4)上端，其特征在于：所述扫描设备(2)设有卡合结构(21)、扫描仪(22)、转动轴(23)、移动条(24)、固定架(25)，所述卡合结构(21)下端嵌固在移动条(24)表面，所述移动条(24)与转动轴(23)转动配合，所述转动轴(23)下端安装于固定架(25)内侧下端，所述扫描仪(22)卡合在固定架(25)上端，所述固定架(25)下端安装于扫描台(4)上端。2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的表面扫描设备，其特征在于：所述卡合结构(21)设有固定板(211)、受力板(212)、支撑结构(213)、滑动结构(214)、第一弹簧杆(215)，所述第一弹簧杆(215)左侧嵌固在固定板(211)右侧，所述第一弹簧杆(215)右侧焊接在受力板(212)左侧，所述滑动结构(214)上端安装于受力板(212)下端，所述支撑结构(213)贴合在受力板(212)右侧，所述固定板(211)下端嵌固在移动条(24)表面。3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路测试的表面扫描设备，其特征在于：所述滑动结构(214)设有橡胶板(a1)、挤压板(a2)、弹力结构(a3)，所述橡胶板(a1)贴合在挤压板(a2)内部，所述弹力结构(a3)嵌固在挤压板(a2)下端，所述挤压板(a2)上端安装于受力板(212)下端。4.根据权利要求3所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡玉蓉，
申请(专利权)人：蔡玉蓉，
类型：发明
国别省市：