金属无损探伤设备、方法及存储介质技术

本发明专利技术公开了一种金属无损探伤设备、方法及存储介质，该设备包括：NV色心传感器探头，所述NV色心传感器探头设置在待测物体的待测位置上；控制装置，所述控制装置与所述NV色心传感器探头连接，用于向所述NV色心传感器探头提供激励，以使所述NV色心传感器探头产生荧光信号，以及采集所述荧光信号，根据所述荧光信号确定所述待测物体的损伤情况。该设备通过向设置在待测物体测量位置上的NV色心传感器探头提供激励，以使NV色心传感器探头产生荧光信号，采集NV色心传感器探头产生荧光信号，根据NV色心传感器探头产生荧光信号，确定待测物体的损伤情况。该设备具有设备体积小、成本低、可探测待测物体深层缺陷的优点。探测待测物体深层缺陷的优点。探测待测物体深层缺陷的优点。

【技术实现步骤摘要】
金属无损探伤设备、方法及存储介质


[0001]本申请涉及金属探伤领域，尤其涉及一种金属无损探伤设备、方法及存储介质。

技术介绍

[0002]在电力系统中，出于加工简单、材料可靠性强的原因，人们经常用金属外壳来包裹电气设备。在高压环境下，金属外壳表面会带电，而外壳表面的毛刺和裂隙周围会出现明显的放电现象，引发种种潜在的安全隐患。因此，电气设备的外壳应当尽量光滑平整，并在出厂时检查外壳的平整性，尽量降低金属外壳表面发生尖端放电现象的可能性。
[0003]在检测电气设备的外壳是否光滑平整时常采用金属探伤技术。现有金属探伤技术，如检测涡旋电流分布、X光照射、光学平整度检测等，都不能深入地探测出金属板存在的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种金属无损探伤设备，该设备具有设备体积小、成本低、可探测待测物体深层缺陷的优点。
[0005]本专利技术的第二个目的在于提出一种金属无损探伤方法。
[0006]本专利技术的第三个目的在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属无损探伤设备，其特征在于，所述设备包括：NV色心传感器探头，所述NV色心传感器探头设置在待测物体的待测位置上；控制装置，所述控制装置与所述NV色心传感器探头连接，用于向所述NV色心传感器探头提供激励，以使所述NV色心传感器探头产生荧光信号，以及采集所述荧光信号，根据所述荧光信号确定所述待测物体的损伤情况。2.根据权利要求1所述的金属无损探伤设备，其特征在于，所述激励包括激光和微波，所述控制装置包括主控单元、激光单元、微波单元和信号采集单元，所述主控单元分别与所述激光单元、所述微波单元和所述信号采集单元连接，所述主控单元具体用于：控制所述激光单元向所述NV色心传感器探头提供激光，控制所述微波单元向所述NV色心传感器探头提供微波，以及通过所述信号采集单元接收所述NV色心传感器探头反馈的荧光信号，并根据所述荧光信号计算磁场强度，根据所述磁场强度确定所述待测物体的损伤情况。3.根据权利要求1所述的金属无损探伤设备，其特征在于，所述激励包括激光和微波，所述NV色心传感器探头包括含有NV色心的金刚石、激光组件、微波辐射组件和光电探测器，所述激光组件、所述微波辐射组件和所述光电探测器均与所述控制装置连接，所述金刚石用于测量磁场，其中，所述控制装置具体用于：通过所述激光组件向所述金刚石提供激光，通过所述微波辐射组件向所述金刚石提供微波，以使所述金刚石产生荧光信号，以及通过所述光电探测器用接收所述荧光信号。4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙峰，胡江波，万传奇，许克标，
申请(专利权)人：国仪量子合肥技术有限公司，
类型：发明
国别省市：