微颗粒质量确定方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种微颗粒质量确定方法、装置、电子设备及存储介质，其中，微颗粒质量确定方法包括：获取处在连续相流体中的目标对象的载体图像；所述目标对象为所述微颗粒；所述载体图像为待确定质量的所述目标对象的载体对应的图像；对所述载体图像进行处理，得到所述载体图像对应的轮廓包络线；对所述轮廓包络线进行处理，得到所述目标对象对所述载体的附着力；根据所述目标对象所承受的浮力和所述附着力，确定所述目标对象的质量；所述浮力为所述目标对象在所述连续相流体中所受到的浮力。通过上述方法能够提高质量确定的精度。过上述方法能够提高质量确定的精度。过上述方法能够提高质量确定的精度。

【技术实现步骤摘要】
微颗粒质量确定方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及参数测量
，尤其涉及一种微颗粒质量确定方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着参数测量技术的发展，该技术被广泛应用到众多领域，例如，化学化工、生物医药或者食品领域等，通过对上述领域中涉及到的参数进行测量，从而得到该领域中所需要测量对象的性能等。多相流传质过程在上述领域广泛存在，传质行为对过程调控与产品质量有着重要影响，对两相浓度变化的实时确定是传质行为机理研究的基础，然而，单一流体颗粒中的浓度变化难以原位测定，而针对颗粒群开展研究只能得到平均性、表观化的结果，难以实现对多相流传质过程的精确描述与预测。由于颗粒浓度与质量直接相关，若能实现微颗粒质量的原位精确测量将为上述问题提供新的解决方案。
[0003]目前的商用电子天平分辨率通常仅到10
‑4g，精度较低，不能探测微小颗粒的质量变化，同时也难以用于测量传质过程中微颗粒质量的原位变化，因此，发展一种灵敏的流体颗粒质量原位测量方法具有重要意义。

技术实现思路

[0004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微颗粒质量确定方法，其特征在于，包括：获取处在连续相流体中的目标对象的载体图像；所述目标对象为所述微颗粒；所述载体图像为待确定质量的所述目标对象的载体对应的图像；对所述载体图像进行处理，得到所述载体图像对应的轮廓包络线；对所述轮廓包络线进行处理，得到所述目标对象对所述载体的附着力；根据所述目标对象所承受的浮力和所述附着力，确定所述目标对象的质量；所述浮力为所述目标对象在所述连续相流体中所受到的浮力。2.根据权利要求1所述的微颗粒质量确定方法，其特征在于，所述根据所述目标对象所承受的浮力和所述附着力，确定所述目标对象的质量包括：在所述附着力的力方向上，得到所述浮力和所述附着力的合力；将所述合力确定为所述目标对象的重力；基于所述重力，确定所述目标对象的质量。3.根据权利要求1所述的微颗粒质量确定方法，其特征在于，所述对所述轮廓包络线进行处理，得到所述目标对象对所述载体的附着力包括：在预设坐标系下，获取所述轮廓包络线的坐标参数；基于所述坐标参数与所述附着力的对应关系，确定所述附着力。4.根据权利要求3所述的微颗粒质量确定方法，其特征在于，所述坐标参数包括曲率半径值；所述基于所述坐标参数与所述附着力的对应关系，确定所述附着力包括：基于所述曲率半径值与所述附着力的相关关系，确定所述附着力。5.根据权利要求3所述的微颗粒质量确定方法，其特征在于，所述预设坐标系包括柱坐标系，所述在预设坐标系下，获取所述轮廓包络线的坐标参数包括：在所述柱坐标系下，获取所述轮廓包络线对应的柱体高度值；所述基于所述坐标参数与所述附着力的对应关系，确定所述附着力包括：根据所...

【专利技术属性】
技术研发人员：兰文杰，蔡品希，
申请(专利权)人：中国石油大学北京，
类型：发明
国别省市：