【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】导电线之间的水平可编程导电桥
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2019年5月16日提交的美国临时申请号62/848,657和于2019年8月08日提交的美国申请号16/535,225的权益,这些美国申请的全部内容通过援引并入本文。
[0003]本披露内容涉及包括半导体器件、晶体管、和集成电路的微电子器件,包括微细加工的方法。
技术介绍
[0004]微电子器件通常具有器件层或平面,比如晶体管,这些晶体管可以是场效应晶体管(FET)。这些晶体管通过使用形成在这些器件上方的几个布线层级连接在一起。布线层级中的层或平面通常具有水平延伸的线(又称为水平导线、水平导电线、导电线)。在水平导线的层之间存在竖直互连(例如,通孔),这些竖直互连本质上是较短的线,用于将一个平面中的给定导电线连接到另一平面中的对应导电线或器件。通孔和导电线的特定几何形状和安置基于逻辑应用或存储器应用的电路设计。
技术实现思路
[0005]在常规电路中,在微细加工之后对电路元件的功能进行修改具有局限性。目前,为了启用新的电路元件,设计需要导通或关断晶体管以启用特定的数据路径。这意味着始终需要电力来使添加的电路元件保持(例如)导通或关断。当添加的电路元件通电时,导通或关断电路块的数据必须以硬代码或使用非易失性存储器短路。如果设计人员想要从一条金属线(或一条导电线)将单条路径连接到另一条金属线(或一条不同的导电线),则需要新的光掩模形成这种连接。此外,如果设计人员想要去除电路,则需要新的金属掩模(金属层的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种半导体器件,包括:第一层级,该第一层级具有多个晶体管器件;以及第一布线层级,该第一布线层级定位在该第一层级上,该第一布线层级包括平行于该第一层级延伸的多条导电线、以及平行于该第一层级延伸的一个或多个可编程水平桥,该一个或多个可编程水平桥中的每一个可编程水平桥电连接该第一布线层级中的该多条导电线中的两条相应导电线,该一个或多个可编程水平桥包括具有可变电阻率的可编程材料,具有可变电阻率是在于该一个或多个可编程水平桥在导电与非导电之间改变。2.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该一个或多个可编程水平桥中的一个可编程水平桥进一步连接到定位在该一个或多个可编程水平桥中的这一个水平桥下方并且垂直于该第一层级延伸的导电垂直互连。3.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该一个或多个可编程水平桥根据输送到该一个或多个可编程水平桥的电流模式而在导电与非导电之间改变。4.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该可编程材料是相变材料,该相变材料根据输送到该一个或多个可编程水平桥的电流模式在导电与非导电之间改变。5.如权利要求4所述的半导体器件,其中,该电流模式包括使该相变材料变为非晶态的第一电流模式、以及使该相变材料变为结晶态的第二电流模式。6.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该可编程材料填满该一个或多个可编程水平桥中的每一个可编程水平桥。7.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该一个或多个可编程水平桥中的一个可编程水平桥替换该多条导线中的一条导电线的一段。8.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该一个或多个可编程水平桥包括基于响应于第三电流模式改变电阻率的第一可编程材料形成的第一可编程水平桥、以及基于响应于第四电流模式改变电阻率的第二可编程材料形成的第二可编程水平桥。9.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该一个或多个可编程水平桥中的一个可编程水平桥的侧壁从连接到该一个或多个可编程水平桥中的这一个可编程水平桥的多条导线中的一条导电线的侧壁突出。10.如权利要求1所述的半导体器件,其中,该一个或多个可编程水平桥中的每一个可编程水平桥定位在相应的位置以切换对应的集成电路的预定功能。11.一种用于形成半导体器件的方法,该方法包括:形成多条导电线作为该半导体器件的第一布线层级的一部分,该第一布线层定位在具有多个晶体管器件的第一层级上,该多条导电线平行于该第一层级延伸;以及形成可编程水平桥,该可编程水平桥平行于该第一层级延伸,并且电连接该第一布线层级中的该多条导电线中的两条导电线,基于可编程材料形成该可编程水平桥,该可编程材料根据输送到该可编程水平桥的电流模式而在导电状态与非导电状态之间变相。12.如权利要求11所述的方法,其中,形成该可编程水平桥包括:在定位在衬底上的介电材料中形成浮雕图案,该浮雕图案具有多个沟槽;沉积该可编程材料以填充该浮雕图案的多个沟槽中的一个沟槽;通过第一掩模覆盖填充该浮雕图案的多个沟槽中的那一个沟槽的可编程材料...
【专利技术属性】
技术研发人员:H,
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。