一种测试方法、测试系统、设备及可读存储介质技术方案

本发明专利技术提供了一种测试方法、测试系统、设备及可读存储介质，包括：生成第一测试指令，第一测试指令用于控制对设计的测试用例执行第一测试；获取第一测试的执行过程中产生的测试日志并分析测试日志；根据分析结果确定是否生成第二测试指令，第二测试指令用于控制对设计的测试用例执行第二测试，第二测试的测试结果与第一测试的测试结果不同。也就是说，本发明专利技术中，不需要人工对测试日志进行分析，并根据分析结果确定是否生成第二测试指令，而是自动对测试日志进行分析，并根据测试日志的分析结果自动确定是否生成第二测试指令，即根据测试日志的分析结果自动确定是否执行第二测试，因此，可以缩短仿真测试时间，提高仿真测试效率。提高仿真测试效率。提高仿真测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、测试系统、设备及可读存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及集成电路设计
，具体涉及一种测试方法、测试系统、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]集成电路设计中，需要用硬件描述语言(即硬件编程语言)将硬件电路描述成寄存器传输级逻辑代码，使用仿真工具对逻辑代码进行仿真测试后，再通过综合工具将逻辑代码转换为门级电路网表，然后再使用自动布局布线工具将网表转换为要实现的电路布线结构。
[0003]但是，随着集成电路规模和复杂度的不断提升，仿真测试的时间越来越长。基于此，如何提高仿真测试效率、缩短仿真测试时间已经成为本领域亟待解决的问题之一。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种测试方法、测试系统、设备及可读存储介质，以提高测试的效率。
[0005]为解决上述问题，本专利技术实施例提供如下技术方案：
[0006]本专利技术一方面，提供了一种测试方法，包括：
[0007]生成第一测试指令，所述第一测试指令用于控制对设计的测试用例执行第一测试；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：生成第一测试指令，所述第一测试指令用于控制对设计的测试用例执行第一测试；获取所述第一测试的执行过程中产生的测试日志并分析所述测试日志；根据分析结果确定是否生成第二测试指令，所述第二测试指令用于控制对所述设计的测试用例执行第二测试，所述第二测试的测试结果与所述第一测试的测试结果不同。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述第二测试的测试结果与所述第一测试的测试结果不同包括：所述第二测试的测试结果包含波形数据，所述第一测试的测试结果不包含所述波形数据。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述根据分析结果确定是否生成第二测试指令包括：若分析结果指示所述测试用例存在测试错误信息，判断所述测试错误信息是否为第一测试错误信息，所述第一测试错误信息为通过对其分析能够确定错误原因的错误信息；若是，不生成第二测试指令；若否，生成第二测试指令。4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述根据分析结果确定是否生成第二测试指令包括：若分析结果指示所述测试用例存在测试错误信息，判断所述测试错误信息是否为第一测试错误信息，所述第一测试错误信息为通过分析能够确定错误原因的错误信息；若是，不生成第二测试指令；若否，将所述测试错误信息与已记录的测试错误信息进行匹配，根据匹配结果确定是否生成第二测试指令，其中，所述已记录的测试错误信息具有对应的波形数据。5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述根据匹配结果确定是否生成第二测试指令包括：若所述测试错误信息与已记录的测试错误信息匹配，不生成第二测试指令；若所述测试错误信息与已记录的测试错误信息不匹配，生成第二测试指令；所述方法还包括：若所述测试错误信息与已记录的测试错误信息匹配，获取所述已记录的测试错误信息对应的波形数据。6.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述将所述测试错误信息与已记录的测试错误信息进行匹配包括：将所述测试错误信息与错误数据库进行匹配，所述错误数据库至少记录有至少一个测试错误信息及其与波形数据的对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：车胜，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：