波长测量系统以及波长测量方法技术方案

本发明专利技术涉及一种波长测量系统和波长测量方法。该系统包括：第一信号发射器、第二信号发射器、偏振组件、信号接收器、移动导轨和处理器；第一信号发射器固定于移动导轨上，移动导轨上设置有刻度，第一信号发射器在移动导轨上沿第一方向移动，第一射电信号和第二射电信号相干；偏振组件位于射电信号的传输路径上，偏振组件用于将射电信号调制为线偏振信号；信号接收器位于第一信号发射器沿第一方向的延长线上，用于接收相干叠加信号；处理器与信号接收器电连接，用于将相干叠加信号转换为电信号，并根据电信号的电压值的变化趋势，确定射电信号的波长。该系统能够方法能够基于信号偏振度的变化达到测量信号波长的目的。振度的变化达到测量信号波长的目的。振度的变化达到测量信号波长的目的。

【技术实现步骤摘要】
波长测量系统以及波长测量方法


[0001]本公开涉及射频
，尤其涉及一种波长测量系统以及波长测量方法。

技术介绍

[0002]在实验教学中，光学实验测量可见光波长有迈克尔逊干涉仪、光栅、杨氏双缝等实验，一般是以可见光作为光源，利用偏振片等起偏器件获得线偏振光，椭圆偏振光往往要借助于晶片来产生，而晶片的厚度决定了正常光和非常光的光程差，晶片的厚度不能连续变化，意味着正常光和非常光的光程差是固定的，即正常光和非常光的光程差相位差不能连续变化。微波实验测量波导中微波波长有驻波法实验。
[0003]然而，上述光学实验和微波实验中均没有利用偏振度变化测量波长的实验。

技术实现思路

[0004]本公开提供了一种波长测量系统以及波长测量方法，能够基于信号偏振度的变化达到测量信号波长的目的。
[0005]第一方面，本公开提供了一种波长测量系统，包括：第一信号发射器、第二信号发射器、偏振组件、信号接收器、移动导轨和处理器；
[0006]所述第一信号发射器固定于所述移动导轨上，所述移动导轨上设置有刻度，所述第一信号发射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种波长测量系统，其特征在于，包括：第一信号发射器、第二信号发射器、偏振组件、信号接收器、移动导轨和处理器；所述第一信号发射器固定于所述移动导轨上，所述移动导轨上设置有刻度，所述第一信号发射器在所述移动导轨上沿第一方向移动，以调整所述第一信号发射器对应的刻度值，所述第一信号发射器用于发射第一射电信号；所述第二信号发射器，用于发射第二射电信号，所述第一射电信号和所述第二射电信号相干；所述偏振组件位于所述第一射电信号和所述第二射电信号的传输路径上，所述偏振组件用于将所述第一射电信号调制为沿第二方向振动的第一线偏振信号，所述第二射电信号调制为沿第三方向振动的第二线偏振信号，所述第二方向与所述第三方向垂直，且所述第二方向和所述第三方向均与所述第一方向垂直；所述信号接收器位于所述第一信号发射器沿所述第一方向的延长线上，用于接收所述第一线偏振信号和所述第二线偏振信号的相干叠加信号；所述处理器与所述信号接收器电连接，所述处理器用于将所述相干叠加信号转换为电信号，并根据所述电信号的电压值的变化趋势，确定射电信号的波长，所述变化趋势为所述电压值随所述刻度值变化的趋势。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述偏振组件包括同一平面内的第一偏振器和第二偏振器；所述第一偏振器位于所述第一射电信号的传输路径上，用于将所述第一射电信号调制为所述第一线偏振信号；所述第二偏振器位于所述第二射电信号的传输路径上，用于将所述第二射电信号调制为所述第二线偏振信号。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第一偏振器包括多个沿所述第三方向延伸沿所述第二方向分布的金属丝；所述第二偏振器包括多个沿所述第二方向延伸沿所述第三方向分布的金属丝。4.根据权利要求1
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3任一项所述的系统，其特征在于，还包括：第一功率放大器、第二功率放大器和信号发生器；所述信号发生器的输出端分别与所述第一功率放大器的输入端和所述第二功率放大器的输入端电连接，所述第一功率放大器的输出端与所述第一信号发射器电连接，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯锋，赵贤觉，赵诗华，杨磊，贾帅岭，吴文秀，马森洁，习洪川，
申请(专利权)人：中国矿业大学北京，
类型：发明
国别省市：