一种容器盛载介质复相对介电常数测量方法技术

本发明专利技术涉及一种容器盛载介质复相对介电常数测量方法，该方法包括测得后端未放置金属板时容器前端的反射系数Γ

【技术实现步骤摘要】
一种容器盛载介质复相对介电常数测量方法


[0001]本专利技术涉及材料复介电常数探测领域。特别涉及一种容器盛载介质复相对介电常数测量方法。

技术介绍

[0002]自然界的大多数物质在电磁场的作用下都会发生极化现象，工程上常用相对介电常数ε
r
来衡量介质的极化程度。大多数介质的相对介电常数ε
r
为复数，其相对介电常数ε
r
通常写成复数形式ε
r
＝ε
′
r
‑
jε
″
r
。伴随着介电材料在微波射频领域的广泛使用，电磁参数测量技术现已成为微波电子领域的一个重要组成部分。准确、方便地测量介电材料的复相对介电常数在科学工程领域具有重要意义。
[0003]经过长时间的发展，人们提出了多种测量介电材料复相对介电常数的方法，例如，谐振腔法、波导法、同轴探头法、自由空间法等。每种复相对介电常数测量方法都有其优点和缺点，并适用于特定的测量场景。在众多介电材料复相对介电常数测量方法中，自由空间法是最简单、无损的测量方法。应用最本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种容器盛载介质复相对介电常数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，将待测介质置于测量容器内，测得容器后端未放置金属板时容器前端的反射系数Γ
in1
′
；步骤二，测得容器后端紧接金属板时容器前端的反射系数Γ
in1
″
；步骤三，根据公式(1)、公式(2)对容器前壁进行去嵌入，得到反射系数Γ
in
′
、Γ
in
″
；具体步骤为：容器后端未放置金属板时，使用公式(1)可由容器前端的反射系数Γ
in1
′
求得容器
‑
待测介质分界面的反射系数Γ
in
′
；容器后端紧接金属板时，使用公式(2)可由容器前端的反射系数Γ
in1
″
求得容器
‑
待测介质分界面的反射系数Γ
in
″
；；式中，γ
容器
为容器的传播常熟，d
容器
为容器壁的厚度，Γ1为空气
‑
容器分界面的菲涅尔反射系数；步骤四，计算容器内介质的复相对介电常数ε
r介质
根据公式(3)、公式(4)，可由反射系数Γ
in
′<...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦瑶，卫彬，王其富，李明星，蔡成欣，侯天罡，刘硕，
申请(专利权)人：河南工业大学，
类型：发明
国别省市：