本发明专利技术涉及android设备过压开机保护方法，包括以下步骤：在电源与android设备的PCB板的电源输入端之间添加一个单片机，android设备接入电源后，电源为单片机供电并进行单片机初始化动作，此时电源与PCB板被单片机隔离无法接通；单片机控制其上的ADC控制器进行接入的电源检测，判断接入的电源电压是否符合设定范围值；若符合则接通电源与PCB板并等待按键开机，若不符合则保持电源与PCB板断开状态，断开状态下按键无法开机；利用单片机来隔离电源和PCB板，在电源接入时，先利用单片机的ADC控制器做电压检测，在输入电压波动过大，或则误插入高电压电源时，保持电源与设备不接通，进而实现保护设备的电路板不被烧坏。进而实现保护设备的电路板不被烧坏。进而实现保护设备的电路板不被烧坏。
【技术实现步骤摘要】
android设备过压开机保护方法、系统、终端及存储介质
[0001]本专利技术涉及android系统
，更具体地说，涉及一种android设备过压开机保护方法、系统、终端及存储介质。
技术介绍
[0002]目前，android产品已经广泛的运用在各个行业的各个领域中，如互联网终端，工业控制系统终端，虚拟服务器客户终端等，尤其是工业控制领域，其运行环境电压波动非常大，而且android设备为适应不同需求，电源的输入电压是不同的，当高电压电源插入低输入电压的设备时，极易造成设备应过压而烧坏板子，导致产品故障。
技术实现思路
[0003]本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种android设备过压开机保护方法，还提供了一种android设备过压开机保护系统、一种android设备过压开机保护终端及一种计算机可读存储介质。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]构造一种android设备过压开机保护方法，其中，包括以下步骤：
[0006]第一步：在电源与android设备的PCB板的电源输入端之间添加一个单片机，android设备接入电源后，电源为单片机供电并进行单片机初始化动作，此时电源与PCB板被单片机隔离无法接通；
[0007]第二步：单片机控制其上的ADC控制器进行接入的电源检测，判断接入的电源电压是否符合设定范围值；
[0008]第三步：若符合则接通电源与PCB板并等待按键开机，若不符合则保持电源与PCB板断开状态，断开状态下按键无法开机。
[0009]本专利技术所述的android设备过压开机保护方法，其中，所述单片机开机后执行以下步骤：
[0010]检测脚gpio初始化；
[0011]ADC时钟初始化；
[0012]启动ADC控制器。
[0013]本专利技术所述的android设备过压开机保护方法，其中，所述第二步中，所述单片机从所述ADC控制器的寄存器读取检测的所述电源的电压值，然后进行电压比对。
[0014]本专利技术所述的android设备过压开机保护方法，其中，所述单片机进行电压值比对的步骤包括：
[0015]从ADC寄存器中读取检测的电压值；
[0016]当电压值大于设定值时，单片机进入循环检测状态，此时通过设置一个gpio的状态，断开电源与PCB板的连接；
[0017]当电压值小于设定值时，此时通过设置一个gpio的状态，接通电源与PCB板的连
接。
[0018]一种android设备过压开机保护系统，用于实现如上述的android设备过压开机保护方法，其中，包括android设备的PCB板和连接在所述PCB板的电源输入端的单片机；所述android设备接入电源后，电源为单片机供电并进行单片机初始化动作，此时电源与PCB板被单片机隔离无法接通；
[0019]所述单片机，用于控制其上的ADC控制器进行接入的电源检测，判断接入的电源电压是否符合设定范围值；若符合则接通电源与PCB板并等待按键开机，若不符合则保持电源与PCB板断开状态，断开状态下按键无法开机。
[0020]本专利技术所述的android设备过压开机保护系统，其中，所述单片机开机后执行以下步骤：
[0021]检测脚gpio初始化；
[0022]ADC时钟初始化；
[0023]启动ADC控制器。
[0024]本专利技术所述的android设备过压开机保护系统，其中，所述单片机从所述ADC控制器的寄存器读取检测的所述电源的电压值，然后进行电压比对。
[0025]本专利技术所述的android设备过压开机保护系统，其中，所述单片机进行电压值比对的步骤包括：
[0026]从ADC寄存器中读取检测的电压值；
[0027]当电压值大于设定值时，单片机进入循环检测状态，此时通过设置一个gpio的状态，断开电源与PCB板的连接；
[0028]当电压值小于设定值时，此时通过设置一个gpio的状态，接通电源与PCB板的连接。
[0029]一种android设备过压开机保护终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述方法的步骤。
[0030]一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述方法的步骤。
[0031]本专利技术的有益效果在于：应用本申请的方式方法，额外的在PCB板的前端添加一个单片机，利用单片机来隔离电源和PCB板，在电源接入时，先利用单片机的ADC控制器做电压检测，在输入电压波动过大，或则误插入高电压电源时，保持电源与设备不接通，进而实现保护设备的电路板不被烧坏，保护效果显著且成本极低。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图：
[0033]图1是本专利技术较佳实施例的android设备过压开机保护方法流程图；
[0034]图2是本专利技术较佳实施例的android设备过压开机保护系统原理框图。
具体实施方式
[0035]为了使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的部分实施例，而不是全部实施例。基于本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术的保护范围。
[0036]本专利技术较佳实施例的android设备过压开机保护方法，如图1所示，包括以下步骤：
[0037]S01：在电源与android设备的PCB板的电源输入端之间添加一个单片机，android设备接入电源后，电源为单片机供电并进行单片机初始化动作，此时电源与PCB板被单片机隔离无法接通；
[0038]S02：单片机控制其上的ADC控制器进行接入的电源检测，判断接入的电源电压是否符合设定范围值；
[0039]S03：若符合则接通电源与PCB板并等待按键开机，若不符合则保持电源与PCB板断开状态，断开状态下按键无法开机；
[0040]应用本申请的方式方法，额外的在PCB板的前端添加一个单片机，利用单片机来隔离电源和PCB板，在电源接入时，先利用单片机的ADC控制器做电压检测，在输入电压波动过大，或则误插入高电压电源时，保持电源与设备不接通，进而实现保护设备的电路板不被烧坏，保护效果显著且成本极低。
[0041]优选的，单片机开机后执行以下步骤：
[0042]检测脚gpio初始化，可采用指令：
[0043]SYS
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种android设备过压开机保护方法，其特征在于，包括以下步骤：第一步：在电源与android设备的PCB板的电源输入端之间添加一个单片机，android设备接入电源后，电源为单片机供电并进行单片机初始化动作，此时电源与PCB板被单片机隔离无法接通；第二步：单片机控制其上的ADC控制器进行接入的电源检测，判断接入的电源电压是否符合设定范围值；第三步：若符合则接通电源与PCB板并等待按键开机，若不符合则保持电源与PCB板断开状态，断开状态下按键无法开机。2.根据权利要求1所述的android设备过压开机保护方法，其特征在于，所述单片机开机后执行以下步骤：检测脚gpio初始化；ADC时钟初始化；启动ADC控制器。3.根据权利要求1或2所述的android设备过压开机保护方法，其特征在于，所述第二步中，所述单片机从所述ADC控制器的寄存器读取检测的所述电源的电压值，然后进行电压比对。4.根据权利要求3所述的android设备过压开机保护方法，其特征在于，所述单片机进行电压值比对的步骤包括：从ADC寄存器中读取检测的电压值；当电压值大于设定值时，单片机进入循环检测状态，此时通过设置一个gpio的状态，断开电源与PCB板的连接；当电压值小于设定值时，此时通过设置一个gpio的状态，接通电源与PCB板的连接。5.一种android设备过压开机保护系统，用于实现如权利要求1
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4任一所述的android设备过压开机保护方法，其特征在于，包括android设备的PCB板和连接在所述PCB板的电源输入端的单片...
【专利技术属性】
技术研发人员：张博昱，
申请(专利权)人：深圳市智微智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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