【技术实现步骤摘要】
用于电阻抗成像的测量装置
[0001]本技术具体涉及一种用于电阻抗成像的测量装置。
技术介绍
[0002]电阻抗成像技术是通过在待成像对象表面布置的电极组,向被测物体施加一定频率和幅度的电流,并同时测量响应电压,最后利用相应的成像算法得到能够反映待成像对象内部电阻抗分布信息的图像。
[0003]传统的电阻抗成像技术通常是对成像目标施加正弦电流激励信号,然后用高速模数转换器对响应正弦电压信号进行高速采样,再对采样信号进行数字正交解调的方法获取成像目标的电阻抗信息。而在传统的电阻抗成像技术中,通常需要采用现场可编程逻辑门阵列、高速ADC 等高功耗的芯片、以及功耗较大的处理器,才能满足数字正交解调方法的需要。
技术实现思路
[0004]本技术是有鉴于上述的状况而提出的,其目的在于提供一种具有较高精度和较低功耗的用于电阻抗成像的测量装置。
[0005]为此,本技术提供了一种用于电阻抗成像的测量装置,其特征在于,包括:用于对待成像对象施加激励信号并测量响应信号的采集模块、以及与所述采集模块连接且用于对所述响 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电阻抗成像的测量装置,其特征在于,包括:用于对待成像对象施加激励信号并测量响应信号的采集模块、以及与所述采集模块连接且用于对所述响应信号进行处理的处理模块,所述采集模块包括测量单元、以及用于为所述测量单元提供所述激励信号的激励源,所述测量单元用于对待成像对象施加所述激励信号,并测量因所述激励信号产生的所述响应信号,所述处理模块包括与所述测量单元连接并接收所述响应信号的第一处理单元、以及与所述第一处理单元连接的第二处理单元,所述第一处理单元接收所述响应信号并进行处理以获得目标响应信号,所述第二处理单元接收所述目标响应信号并进行处理以获得目标信息,所述第一处理单元包括第一运算放大器、第二运算放大器、差分放大器、可编程增益放大器、以及模数转换器,所述第一处理单元被配置为所述第一运算放大器的输入端和所述第二运算放大器的输入端分别与所述测量单元连接,所述第一运算放大器和所述第二运算放大器的输出端分别连接差分放大器的输入端,所述差分放大器的输出端经由阻容隔直滤波电路连接至所述可编程增益放大器的输入端,所述可编程增益放大器的输出端连接至所述模数转换器的输入端,所述第二处理单元被配置为接收所述目标响应信号且在目标周期内以预设频率从所述目标响应信号中采样以获取目标序列,并基于所述目标响应信号构造所述目标序列对应的同向分量和正交分量,从而基于所述目标序列、以及所述同向分量和所述正交分量获得所述目标信息。2.根据权利要求1所述的用...
【专利技术属性】
技术研发人员:陆彧,
申请(专利权)人:点奇生物医疗科技北京有限公司,
类型:新型
国别省市:
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