显示基板及其测试方法技术

一种显示基板及其测试方法。该显示基板包括：衬底基板(10)、多条数据线(13)、多条数据引线(14)、第一测试电路(50)以及第二测试电路(60)。衬底基板(10)包括显示区(11)以及周边区(12)，显示区(11)包括像素阵列(30)，像素阵列(30)包括多个子像素(310)；第一测试电路(50)配置为在第一测试阶段对多个子像素(310)施加第一测试信号以进行第一测试；第二测试电路(60)配置为在第二测试阶段对多个子像素(310)施加第二测试信号以进行第二测试，第一测试电路(50)包括第一测试开关电路(510)以及第一测试控制信号施加电路(520)，第一测试控制信号施加电路(520)的第一测试控制信号垫(521)以及第一测试控制信号旁路(523)分别与第一测试开关电路(510)的控制端电连接，第一测试控制信号旁路(523)配置为与外接信号施加电路(70)电连接。电连接。电连接。电连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵吉平，都蒙蒙，董向丹，马宏伟，
申请(专利权)人：成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：