浅层地表的品质因子的估计方法、系统及存储介质技术方案

本发明专利技术涉及勘探技术领域，具体涉及一种浅层地表的品质因子的估计方法、系统及存储介质，包括：获取地震波参数，其中，地震波参数包括第一反射波、第二反射波、球面波反射系数、第一反射波的频率以及时间差，时间差为第一传播时长与第二传播时长之间的差值，第一传播时长为从形成第一反射波到第一反射波被接收的时长，第二传播时长为从形成第二反射波到第二反射波被接收的时长，第一反射波的频率与第二反射波的频率相同；根据地震波参数以及第一对应关系，得到品质因子，提高了品质因子计算的准确率。确率。确率。

【技术实现步骤摘要】
浅层地表的品质因子的估计方法、系统及存储介质


[0001]本专利技术涉及勘探
，特别地涉及一种浅层地表的品质因子的估计方法、系统及存储介质。

技术介绍

[0002]介质(例如岩土、空气、水等)对地震波能量的吸收效应是客观存在的物理现象。由于介质的吸收效应，导致地震波在介质中传播时其能量的衰减。介质的吸收效应通常使用品质因子Q(Quality，品质)进行度量。品质因子Q不仅是度量地震波在介质中衰减特性的重要参数，也是指示地层油气含量的重要属性之一，因此，对品质因子Q的研究尤为重要。
[0003]在现有技术中，求取浅层地表品质因子Q通常是利用井间地震资料中不同传播距离的直达波，基于谱比法估计出品质因子Q。然而，在浅层地表下，由于直达波传播距离较近、覆盖面积小以及直达波射线穿射过的区域小等因素，可能会导致品质因子Q估计不准确，甚至是无法被估计。
[0004]因此，在现有技术中，存在品质因子Q估计不准确，甚至无法被估计的技术问题。

技术实现思路

[0005]针对上述问题，本专利技术提供一种浅层地表的品质因子的估计方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种浅层地表的品质因子的估计方法，其特征在于，所述方法包括：获取地震波参数，其中，所述地震波参数包括：第一反射波、第二反射波、球面波反射系数、第一反射波的频率以及时间差，所述第一反射波为第一入射波从激发井中的第一炮点位置发出后，经过地层反射界面形成的反射波，所述第二反射波为第二入射波从激发井中的第二炮点位置发出后，经过地层反射界面形成的反射波，所述时间差为第一传播时长与第二传播时长之间的差值，所述第一传播时长为从形成所述第一反射波到所述第一反射波被接收的时长，所述第二传播时长为从形成所述第二反射波到所述第二反射波被接收的时长，所述第一反射波的频率与第二反射波的频率相同；根据所述地震波参数以及第一对应关系，得到品质因子，其中，所述第一对应关系为所述地震波参数与所述品质因子之间的对应关系。2.根据权利要求1所述的浅层地表的品质因子的估计方法，其特征在于，所述第一对应关系为：其中，A
R
为所述第二反射波，C
′
为常数系数，为所述球面波反射系数，A
s
为所述第一反射波，e为自然常数，π为圆周率，f为所述第一反射波的频率，
△
t为所述时间差，Q为品质因子。3.根据权利要求1所述的浅层地表的品质因子的估计方法，其特征在于，所述获取地震波参数的步骤，包括：获取接收井底部的接收器发送的所述第一反射波。4.根据权利要求3所述的浅层地表的品质因子的估计方法，其特征在于，所述获取地震波参数的步骤，还包括：获取所述接收井底部的接收器发送的所述第二反射波。5.根据权利要求1所述的浅层地表的品质因子的估计方法，其特征在于，所述获取地震波参数的步骤，包括：获取球面波参数，其中，所述球面波参数包括第三入射波的角频率、上层介质的纵波速度、下层介质的纵波速度、上层介质的密度、下层介质的密度、第一距离、第二距离、偏移距离、传播距离以及入射角，所述第一距离为震源到反射平面的距离，所述第二距离为检波点到所述反射平面的距离，所述反射平面为上层介质与下层介质之间的平面，所述偏移距离为震源在所述反射平面上的投影与所述检波点在所述反射平面上的投影之间的距离，所述传播距离为所述第三入射波传播路径...

【专利技术属性】
技术研发人员：张渝悦，纪永祯，齐晴，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院，
类型：发明
国别省市：