一种低温同轴激光瞄准红外测温装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出了一种低温同轴激光瞄准红外测温装置，包括壳体、镜座单元、激光单元、物镜单元和光电测温单元；壳体内部中空，其延伸方向的一端设置有贯通的第一窗口；镜座单元设置在壳体内部靠近第一窗口的一端，镜座单元的一端还穿过第一窗口向外伸出；镜座单元的中心轴上设置有折射镜；激光单元设置在壳体内部，且其发光部嵌设在第二窗口处并朝向折射镜的中心；物镜单元设置在第一窗口外侧，物镜单元与镜座单元伸出第一窗口的部分固定连接；物镜单元内嵌设有第一透镜，第一透镜的中心处设有通孔，该通孔处嵌设有第二透镜；光电测温单元固定设置在壳体内部，物镜单元、镜座单元和光电测温单元构成了连续的红外光路。光电测温单元构成了连续的红外光路。光电测温单元构成了连续的红外光路。

【技术实现步骤摘要】
一种低温同轴激光瞄准红外测温装置


[0001]本技术涉及红外温度检测设备
，尤其涉及一种低温同轴激光瞄准红外测温装置。

技术介绍

[0002]红外测温是一种常见的非接触式测温方法。高于绝对零度的物体不停的向周围空间发出不可见的红外辐射。红外辐射的强度及其波长的分布与物体本身的温度有十分密切的关系。因此通过对物体辐射的红外能力的测量，能间接获取物体的表面温度。红外测温设备是通过光学系统汇聚其视场内的红外光，聚焦后将光信号转换为相应的电信号，经处理后获取相应的温度。
[0003]低温红外测量的温度范围通常在
‑
50℃—500℃，受现有设备的结构影响，不适用体积较小的物体表面测温；而且为了提高测温精度，需要使低温红外测温设备离被测物体非常近才行，而且使用者不能直观观察测温的部位，限制了测温设备的应用场景。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术提出了一种能提高测量距离和红外测量效果、具有测量点指示能力的低温同轴激光瞄准红外测温设备。
[0005]本技术的技术方案是这样实现的：本技术提供了一种低温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低温同轴激光瞄准红外测温装置，其特征在于：包括壳体(1)，其内部中空；壳体(1)延伸方向的一端设置有第一窗口(10)，第一窗口(10)与壳体(1)内部连通；镜座单元(2)，设置在壳体(1)内部靠近第一窗口(10)的一端，镜座单元(2)的一端还穿过第一窗口(10)并固定设置在该侧的壳体(1)上；镜座单元(2)内部中空，镜座单元(2)的表面设置有贯通的第二窗口(20)，第二窗口(20)与镜座单元(2)内部连通；镜座单元(2)的中心轴上设置有一折射镜(100)，折射镜(100)一端的边缘位于镜座单元(2)的中心轴上，其另一端朝着镜座单元(2)的内表面方向延伸；激光单元(3)，设置在壳体(1)内部且与镜座单元(2)固定连接，激光单元(3)的发光部嵌设在第二窗口(20)处的镜座单元(2)上并朝向折射镜(100)的中心；物镜单元(4)，设置在第一窗口(10)外侧，物镜单元(4)与镜座单元(2)伸出第一窗口(10)的部分固定连接；物镜单元(4)内部中空，物镜单元(4)内嵌设有第一透镜(41)，第一透镜(41)的中心处设有通孔，该通孔处嵌设有第二透镜(42)；光电测温单元(5)，固定设置在壳体(1)内部，且位于镜座单元(2)远离第一窗口(10)的一端；物镜单元(4)、镜座单元(2)和光电测温单元(5)构成了连续的红外光路；其中，激光单元(3)的发光部发出可见波段激光照向折射镜(100)的表面，激光经折射后选择性的从物镜单元(4)的第二透镜(42)射出并照射在待测温物体的表面；待测温物体发出的红外光穿过物镜单元(4)的第一透镜(41)和第二透镜(42)，经过镜座单元(2)的内部并进入光电测温单元(5)中。2.根据权利要求1所述的一种低温同轴激光瞄准红外测温装置，其特征在于：所述镜座单元(2)包括顺次连接且内部中空的颈部(21)、台阶部(22)和延伸部(23)；颈部(21)为环形，颈部(21)的外径与第一窗口(10)的内径相吻合；台阶部(22)的侧表面设置有第二窗口(20)，激光单元(3)固定设置在台阶部(22)开设第二窗口(20)处的侧表面上；台阶部(22)远离第一窗口(10)的一端设置有延伸部(23)，延伸部(23)沿着远离第一窗口(10)的方向朝壳体(1)内部延伸。3.根据权利要求2所述的一种低温同轴激光瞄准红外测温装置，其特征在于：所述台阶部(22)的内表面还设置有支撑部(24)，支撑部(...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓海，
申请(专利权)人：武汉讯泰智能制造有限公司，
类型：新型
国别省市：