评估X射线管性能的方法及装置制造方法及图纸

本公开涉及一种评估X射线管性能的方法、装置、电子产品、非瞬时计算机可读介质以及计算机程序产品，其中评估X射线管性能的方法包括：记录X射线管在使用过程中发生的打火事件；对打火事件按严重程度进行分类；基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式；基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配，判断X射线管内气泡水平。根据本公开的评估X射线管性能的方法能够通过远程预测X射线管内气泡水平的增长趋势或模式，以及时对X射线管进行检查、更换，无需仅依赖于现场检查。无需仅依赖于现场检查。无需仅依赖于现场检查。

【技术实现步骤摘要】
评估X射线管性能的方法及装置


[0001]本公开涉及X射线发生技术，特别涉及一种评估X射线管性能的方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。

技术介绍

[0002]用于产生X射线的X射线源包括X射线管，是一种将电源输入转换为X射线的真空管。可利用的X射线的可控源造就了放射性成像技术的诞生，即一种对部分不透明的物体通过穿透的射线进行成像。与其它离子辐射源不同，X射线只有当X射线管通电后产生。X射线管被广泛使用于计算机断层扫描(CT)设备，X射线衍射设备，X射线医学影像成像设备以及工业探伤领域。
[0003]X射线管中使用的真空管包括一用于将电子发射到真空的阴极灯丝，以及一用于接收被发射电子的阳极，从而在X射线管中形成被称为线束的电子流。在阳极与阴极之间通常提供被称为管电压的高电压电源，该管电压通常在30至200kV之间，以加速电子。
[0004]X射线管在使用过程中用于冷却的绝缘油会产生气泡，并随着使用时间气泡产生的数量积累，而气泡会致使绝缘油降低绝缘度。气泡会随着绝缘油在冷却装置的作用下到达X射线管，从而导致X射线管在高电压工作环境下产生打火，损坏X射线管。

技术实现思路

[0005]根据本公开的一个方面，提供一种评估X射线管性能的方法，可以非接触的、及时评估预测X射线管内的气泡水平，以获取及时维护、更换X射线管的信息。该评估X射线管性能的方法包括：记录X射线管在使用过程中发生的打火事件；对打火事件按严重程度进行分类；基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式；基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配，判断X射线管内气泡水平。
[0006]本公开的另一方面，提供了一种评估X射线管性能的装置，包括：感测部，配置为记录X射线管在使用过程中发生的打火事件；处理部，配置为对打火事件按严重程度进行分类，并基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式；以及计算部，配置为基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配，判断X射线管内气泡水平。
[0007]根据本公开的另一方面，提供一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序在被所述至少一个处理器执行时实现上述方面的方法。
[0008]根据本公开的另一方面，提供一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现上述方面的方法。
[0009]根据本公开的另一方面，提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现上述方面的方法。
[0010]根据本公开的一个或多个实施例，通过记录X射线管在使用过程中发生的打火事
件，并据此按打火的严重程度分类，可以按发生打火事件的事件生成数条曲线作为该X射线管发生打火事件的增长模式，通过与先验或已知的X射线管的多种增长模式之间的比较或配对可以预测X射线管内的气泡水平，从而判断X射线管的性能或是否需要及时维护、更换等，提高了X射线管产品在使用过程中的体验和保证其可靠性等。
[0011]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0012]附图示例性地示出了实施例并且构成说明书的一部分，与说明书的文字描述一起用于讲解实施例的示例性实施方式。所示出的实施例仅出于例示的目的，并不限制权利要求的范围。在所有附图中，相同的附图标记指代类似但不一定相同的要素。
[0013]下面将通过参照附图详细描述本公开的实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本公开的上述及其它特征和优点，附图中：
[0014]图1为根据本公开实施例的评估X射线管性能的方法的流程图；
[0015]图2为根据本公开另一个实施例的评估X射线管性能的方法的流程图；
[0016]图3为根据本公开实施例的打火事件按严重程度进行分类后生成的曲线的示意图；
[0017]图4为根据本公开实施例的评估X射线管性能的装置的结构框图；以及
[0018]图5为能够用于实现本公开实施例的示例性电子设备的结构框图。
[0019]其中，附图标记如下：
[0020]200a I级第一曲线
[0021]200b II级第一曲线
[0022]200c III级第一曲线
[0023]300 评估X射线管性能的装置
[0024]302 感测部
[0025]304 处理部
[0026]306 计算部
具体实施方式
[0027]为了对本公开的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本公开的具体实施方式，在各图中相同的标号表示相同的部分。
[0028]在本文中，“示意性”表示“充当实例、例子或说明”，不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。
[0029]为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本公开相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。
[0030]在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。在本文中，“第一”、“第二”等仅用于彼此的区分，而非表示它们的重要程度及顺序、以及互为存在的前提等。
[0031]在X射线管在使用过程中起冷却作用的绝缘油随使用时间，产生并积累气泡。产生气泡的来源例如高能X射线在轰击绝缘油后，导致绝缘油裂解进而产生气体；另外，外界的气体通过用于泵送绝缘油的循环管路使扩散到绝缘油中，从而产生并积累气泡。
[0032]打火也称为放电或拉弧，在X射线管中发生打火时，X射线管的管电压之间伴随电阻变小，该电压会发生快速压降。通过探测电压的压降程度可以可判断是否发生了打火，根据电压下降率、幅度以区分打火的严重程度。
[0033]由于X射线管的阴极、阳极两端通常施加较高的电压，即为X射线管的管电压，以加速X射线管的真空区域中电子的速度从而轰击阳极靶盘以产生X射线。但是，当绝缘油中因积累气泡从而破坏其绝缘性，由于较高的电压作用产生的电场会因气泡破环了绝缘油的绝缘性，从而产生电场击穿效应，发生打火或拉弧事件。据此，发生打火事件与X射线管内的气泡水平之间具有关联性，X射线管内的气泡水平即可作为评价X射线管的性能的一个指标。
[0034]现有的X射线管系统中未提供排除气体的功能或装置。当X射线管中含有一定程度的气泡污染的绝缘油，导致X射线管在工作中发生打火，破坏原有电势场，甚至导致X射线管无法产生X射线。为排除因气泡导致X射线管的故障，通常需要专业操作者到达现场，拆卸X射线管或冷却装置(通常基于绝缘油的循环泵送装置)，退回工厂并安装在专用检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评估X射线管性能的方法，其特征在于，包括：记录X射线管在使用过程中发生的打火事件；对打火事件按严重程度进行分类；基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式；基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的多个第二增长模式进行匹配，判断X射线管内气泡水平。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对打火事件按严重程度进行分类还包括：获取与X射线管在使用过程中相关的报错日志，判断X射线管的扫描工作状态。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式匹配包括：比较第一增长模式与第二增长模式的相似性。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式匹配包括：比较第一增长模式与第二增长模式的增长率。5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对打火事件按严重程度分类包括：通过判断X射线管在使用过程中其管电压的幅度变化判断发生打火事件的严重程度，并按所述幅度变化设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。6.根据权利要求1或5所述的方法，其中，所述对打火事件按严重程度分类包括：通过判断X射线管在使用过程中其管电压的变化率判断发生打火事件的严重程度，并按所述变换率设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。7.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其中，所述第一增长模式包括基于分类的打火事件生成多条第一曲线，以及所述第二增长模式至少包括对应数量的第二曲线。8.一种评估X射线管性能的装置，其特征在于，包括：感测部，配置为记录X射线管在使用过程中发生的打火事件；处理部，配置为对打火事件按严重程度进行分类，并基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式；以及计算部，配置为...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨鑫渊，潘蕴文，聂西鹏，
申请(专利权)人：西门子爱克斯射线真空技术无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：