一种利用金属材料内耗测定再结晶温度的方法技术

本发明专利技术公开了一种利用金属材料内耗测定再结晶温度的方法，涉及金属材料无损检测技术领域，包括以下步骤：将冷变形金属材料试样安装到内耗测量仪上；将试样以恒定升温速率连续升温再随炉冷却，测试不同频率下的内耗值，绘制温度内耗曲线，得到再结晶内耗峰峰温；改变恒定升温速率，重复上述步骤，获得不同恒定升温速率下的再结晶内耗峰峰温；利用Kissinger方程对恒定升温速率及其对应的再结晶内耗峰峰温拟合分析，确定再结晶动力学参数；通过再结晶过程中，恒定升温速率与退火时间的等效关系，并结合前述确定的再结晶动力学参数，利用Kissinger方程得到传统等温退火的再结晶温度。本发明专利技术只需少量样品即可测定金属材料的再结晶温度，测试更简便、快速、可靠。可靠。可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种利用金属材料内耗测定再结晶温度的方法


[0001]本专利技术涉及金属材料无损检测
，尤其涉及一种利用金属材料内耗测定再结晶温度的方法。

技术介绍

[0002]金属或合金材料由于冷变形加工，其晶格会发生畸变，甚至出现晶粒细化，产生较大内应力，形成加工硬化。材料特性和性能在很大程度上取决于微观结构，细晶粒或纳米晶材料表现出优异的性能，例如高强度和硬度。然而，变形和细晶材料暴露在高温下时，不可避免地会发生再结晶过程，其中小的或变形的晶粒通过形核和晶界迁移成长为大的等轴晶粒，从而改变材料性能。因此，确定再结晶温度对于材料的生产和应用具有重要意义。
[0003]目前，人们普遍采用金相法或硬度值法测定材料的再结晶温度。以下就这两种方法做一些简单介绍和优缺点分析。
[0004]金相法测定再结晶温度是将样品在不同的温度下在一定时间内等温退火，随后对退火后的样品进行化学腐蚀，再通过金相显微镜(或扫描电子显微镜)观察退火后样品的再结晶情况，并统计体积分数，以再结晶体积分数达到95％以上为标准确定该等温退火时间下的再结晶温度点。其优点：可以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种利用金属材料内耗测定再结晶温度的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取冷变形金属材料试样，将其安装到内耗测量仪上；S2、将冷变形金属材料试样由室温以恒定升温速率进行连续升温再随炉冷却至室温，测试在不同频率下冷变形金属材料试样的内耗值，以温度为X轴、内耗值为Y轴，绘制不同频率下的升温和降温过程中的温度内耗曲线，确定再结晶内耗峰，得到该恒定升温速率下的再结晶内耗峰峰温；S3、改变恒定升温速率，重复S2步骤，得到不同恒定升温速率下的温度内耗曲线，得到不同恒定升温速率下的再结晶内耗峰峰温；S4、利用Kissinger方程对多组恒定升温速率及其对应的再结晶内耗峰峰温进行拟合分析，确定金属材料的再结晶动力学参数；S5、通过再结晶过程中，内耗测定过程中连续升温的恒定升温速率与金相法或硬度法测定过程中等温退火的退火时间之间的等效关系，结合S4步骤中确定的再结晶动力学参数，利用Kissinger方程，得到传统等温退火的再结晶温度。2.根据权利要求1所述的利用金属材料内耗测定再结晶温度的方法，其特征在于，S2中，再结晶内耗峰的确定是依据内耗峰的非弛豫性特征和降温过程中该内耗峰消失的特征确定的；所述内耗峰的非弛豫性是指内耗峰峰温不随测量频率而变化的特性。3.根据权利要求1所述的利用金属材料内耗测定再结晶温度的方法，其特征在于，S2和S3中的恒定升温速率≥1℃/min。4.根据权利要求1所述的利用金属材料内耗...

【专利技术属性】
技术研发人员：方前锋，陈天禄，刘瑞，孙孟，谢卓明，蒋卫斌，王先平，吴学邦，刘长松，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：