用于配置光谱测定装置的方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于借助于参考光谱测定装置来配置目标光谱测定装置的方法(1)，每个光谱仪包括光源和检测器，所述检测器适于检测由所述源发出并由对象反射或透射的光辐射，由此生成光谱测量结果，所述光谱测量结果包括针对每个对象的一系列n个光谱和针对每个系列的光谱所测量的平均光谱，所述方法包括以下步骤：

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于配置光谱测定装置的方法


[0001]本专利技术涉及一种用于借助于参考光谱测定装置来配置目标光谱测定装置的方法。本专利技术还涉及一种根据该方法配置的光谱测定装置。
[0002]本专利技术的领域非限制性地是光谱测定方法的领域。

技术介绍

[0003]光谱测定法是识别、定量和表征物质、化合物或分子的必要工具。它用于许多科学领域中，诸如物理学、有机化学、制药领域或医学。光谱测定法在工业领域中也是非常重要的，例如用于生产质量控制、检查混合物、在线清洁或机械化中心中的监测。
[0004]其主要优点之一是非常快速的检测时间。
[0005]光谱测定装置的响应由电信号组成，所述电信号与朝向待分析的样品或对象发射并被该待分析的样品或对象吸收或反射的光束的吸收或反射的幅度成比例。待分析的样品的性质可以包括例如任何化学元素(糖、脂质、污染物等)的浓度、小麦基质中或小麦中蛋白质的湿度水平、碳水化合物、糖等的质地或温度。为了将该电信号与样品的性质相关联，必须在测量的信号与样品的性质之间建立关系。这些校准关系被直接存储在光谱测定装置中或者与光谱仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于借助于参考光谱测定装置来配置目标光谱测定装置的方法(1)，每个光谱测定装置包括光谱仪，每个光谱仪包括光源和检测器，所述检测器适于检测由所述源发射并由对象反射或透射的光辐射，由此生成光谱测量结果，所述光谱测量结果包括针对每个对象的一系列n个光谱和针对每个系列的光谱而测量的平均光谱，所述方法包括以下步骤：
‑
通过所述参考光谱仪获取(10)参考样品集合的参考光谱测量结果，并将所述光谱测量结果存储在参考数据库中；
‑
通过所述目标光谱仪获取(12)所述参考样品的子集的目标光谱测量结果，并将所述光谱测量结果存储在目标数据库中；
‑
从所述参考和所述目标光谱测量结果确定(14)每个参考样品的平均光谱s
S
，包括用于确定所述目标光谱仪的光学传递函数的步骤、以及将所述光学传递函数应用于由所述参考光谱仪测量的每个平均光谱的步骤；
‑
针对每个平均光谱s
S
确定(16)一系列n个光谱s
i
(i＝1
…
n)；以及
‑
将每个参考样品的所述平均光谱和该系列n个光谱存储(18)在所述目标数据库中，其中，所述确定步骤(14、16)借助于计算模块来实施。2.根据权利要求1所述的方法(1)，其特征在于，所述方法(1)还包括以下步骤：针对所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：A，
申请(专利权)人：格林特罗皮斯姆公司，
类型：发明
国别省市：