本实用新型专利技术提供一种工业级激光器的测试装置，包括PIV耦合电源、光谱仪、波长计、光分路器；还包括高低温箱、温控仪、热电偶和电插芯。被测激光器插在电插芯上，被测激光器与电插芯置于高低温箱内；热电偶缠绕在被测激光器的壳体上，并通过导线连接热电偶温度显示器；PIV耦合电源与温控仪均通过电插芯与被测激光器实现电气连接；被测激光器还通过光分路器分别与光谱仪、波长计以及PIV耦合电源实现光路连接。该测试装置不但可以通过读取壳体温度来判断是否满足工业级要求，而且可以测试出多个出厂参数，可以节省人工，提升效率。提升效率。提升效率。
【技术实现步骤摘要】
一种工业级激光器的测试装置
[0001]本技术涉及光通信
，特别涉及一种工业级激光器的测试装置。
技术介绍
[0002]目前，随着激光器技术的发展，市场应用领域不断扩宽，对激光器的性能提出了很高的要求，往往激光器只需要满足商业级温度即可满足客户使用，但商业级激光器只能在
ꢀ‑
5℃
‑
75℃温度下使用，在一些环境温差大、温度过高或过低的环境下使用寿命很低甚至无法使用，所以需要使用满足工业级温度的激光器，工业级温度为
‑
40℃
‑
85℃，除了在设计上满足工业级要求的同时，亟需专利技术一种测试激光器是否满足工业级要求的装置。
技术实现思路
[0003]为了克服
技术介绍
中的不足，本技术提供一种工业级激光器的测试装置，该测试装置不但可以通过读取壳体温度来判断是否满足工业级要求，而且可以测试出多个出厂参数，可以节省人工，提升效率。
[0004]为了达到上述目的，本技术采用以下技术方案实现：
[0005]一种工业级激光器的测试装置，包括PIV耦合电源、光谱仪、波长计、光分路器；还包括高低温箱、温控仪、热电偶和电插芯。
[0006]被测激光器插在电插芯上，被测激光器与电插芯置于高低温箱内；热电偶缠绕在被测激光器的壳体上，并通过导线连接热电偶的温度显示器；PIV耦合电源与温控仪均通过电插芯与被测激光器实现电气连接；被测激光器还通过光分路器分别与光谱仪、波长计以及 PIV耦合电源实现光路连接。
[0007]进一步地，所述的电插芯为柱体结构，内部设有8个导电铜柱，根据激光器引脚定义， PIV耦合电源的LD正负极、PD正负极接入电插芯的4个导电铜柱，温控仪的TEC输入端口、Rth输出端口的4根导线分别接入电插芯9的另外4个导电铜柱。
[0008]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0009]1)本技术的工业级激光器测试装置中将器件放置在高低温箱体中，通过高低温箱温度设置，将激光器外部环境处于工业级温度环境环境下进行测试；
[0010]2)通过热电偶读取器件激光器的壳体温度，通过温控仪控制被测激光器的测试温度，可以判定激光器是否满足工业级要求，在此环境下测试其它出厂参数，数据更加符合客户使用时的参数，避免了与客户存在较大误差，导致的退货，很大程度提高产品良率；
[0011]3)通过电插芯实现了PIV耦合电源与温控仪与被测激光器电气连接，操作方便可靠。
附图说明
[0012]图1是本技术的整体连接结构示意图；
[0013]图2是本技术的电插芯立体结构图；
[0014]图3是本技术的电插芯与激光器的连接结构图；
[0015]图4是图3的局部放大图。
[0016]图中：1
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PIV耦合电源 2
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激光器 3
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热电偶 4
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热电偶的温度显示器 5
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第一个光分路器 6
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光谱仪 7
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波长计 8
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第二个光分路器 9
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电插芯 10
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温控仪 11
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高低温箱 12
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导电铜柱。
具体实施方式
[0017]以下结合附图对本技术提供的具体实施方式进行详细说明。
[0018]如图1
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4所示，一种工业级激光器的测试装置，包括PIV耦合电源1、光谱仪6、波长计7、第一个光分路器5和第二个光分路器8；还包括高低温箱11、温控仪10、热电偶 3和电插芯9。
[0019]被测激光器2插在电插芯9上，被测激光器2与电插芯9置于高低温箱11内。
[0020]热电偶3缠绕在被测激光器2的壳体上，周围涂抹导热泥，并通过导线连接热电偶的温度显示器4。热电偶3用于检测被测激光器2的壳体温度。
[0021]PIV耦合电源1与温控仪10均通过电插芯9与被测激光器2实现电气连接；如图2
‑
4 所示，所述的电插芯9为柱体结构，内部设有8个导电铜柱12，根据激光器引脚定义，PIV 耦合电源1的LD正负极、PD正负极接入电插芯的4个导电铜柱12，温控仪10的TEC输入端口、Rth输出端口的4根导线分别接入电插芯9的另外4个导电铜柱10。8个导电铜柱12均连接至被测激光器2的对应引脚上。温控仪10用于检测和控制激光器自身的温度。
[0022]被测激光器2还通过光分路器分别与光谱仪6、波长计7以及PIV耦合电源1实现光路连接。装置中有两个光分路器：第一个光分路器5和第二个光分路器8，第一个光分路器5的输入端与被测激光器2输出端相连，第一个光分路器5的两个输出端，一个与PIV 耦合电源1的激光功率探头相连，另一个与第二个光分路器8的输入端相连，第二个光分路器8的两个输出端，一个与光谱仪6相连，另一个与波长计7相连。
[0023]本技术的工作过程是这样的：
[0024](1)将被测激光器2的引脚放入电插芯9，将被测激光器2的光路输出端接入第一个光分路器5的输入端；
[0025](2)将热电偶3的一端缠绕在被测激光器2的壳体上，周围涂抹导热泥，放置在高低温箱11内的金属板上；
[0026](3)将高低温箱体11设置成100℃；
[0027](4)在热电偶的温度显示器4显示25℃时，将PIV耦合电源1加电；
[0028](5)调整温控仪10的温度数值，控制被测激光器2的温度，调整所需波长，记录此时的温度；也可以设定某个温度，测试被测激光器2波长，记录此时的温度与波长；
[0029](6)PIV耦合电源1带有检测被测激光器2功率的探头，调整至所需的波长后，自动测试该波长温度下的被测激光器2功率数值，并读取PIV耦合电源1上显示的该温度下的背光数值；
[0030](7)按下光谱仪6测试按钮，测试被测激光器2的SMSR数值，记录此SMSR数值；
[0031](8)PIV耦合电源1持续供电，热电偶3温度每间隔5℃，记录一次所有参数；
[0032](9)持续观察温控仪10状态，如温控仪10无法持续保持所需波长对应的温度，立刻
关闭PIV耦合电源1、温控仪10，读取此时的热电偶3读数，此时读数为被测激光器2 可以承受的最大壳体温度。
[0033](10)将高低温箱11控制在
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50℃，重复4
‑
9步骤，测得被测激光器2可以承受的最低壳体温度。
[0034]测试数据表如下：
[0035][0036]以上实施例在以本技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本技术的保护范围不限于上述的实施例。上述实施例中所用方法如无特别说明均为常规方法。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种工业级激光器的测试装置，包括PIV耦合电源、光谱仪、波长计、光分路器；其特征在于，还包括高低温箱、温控仪、热电偶和电插芯；被测激光器插在电插芯上，被测激光器与电插芯置于高低温箱内；热电偶缠绕在被测激光器的壳体上，并通过导线连接热电偶的温度显示器；PIV耦合电源与温控仪均通过电插芯与被测激光器实现电气连接；被测激光器还通过光分路器分...
【专利技术属性】
技术研发人员：李志超，廖传武，李杨，李浩凡，黄芙蓉，
申请(专利权)人：辽宁优迅科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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