一种用于检验轴承的测试装置及方法制造方法及图纸

技术编号:31322917 阅读:19 留言:0更新日期:2021-12-13 00:10
本发明专利技术涉及一种用于检验轴承的测试装置及方法,包括机架、校正组件、测试组件,其中,所述测试组件包括支撑架,所述支撑架上设置连接套,所述连接套为空腔结构且两端均设置滚动轴承,所述滚动轴承的内圈均固定于旋转轴上,所述旋转轴的一端设置有测试模具,所述测试模具上设置有呈圆周分布的若干凹槽,所述凹槽上均设置有移动块,所述移动块用于固定需要测试的轴承的内圈表面。本发明专利技术通过调节移动块的位置来实现测试不同内圈直径的轴承,而且可以调节移动块的位置来模拟轴承在各种不同的温度场景中轴承内圈与轴之间产生的相对位移,对于轴承在实际的工作场景中具有指导性意义。承在实际的工作场景中具有指导性意义。承在实际的工作场景中具有指导性意义。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检验轴承的测试装置及方法


[0001]本专利技术涉及轴承测试领域,尤其涉及一种用于检验轴承的测试装置及方法。

技术介绍

[0002]滚动轴承作为旋转机械中使用最为广泛且最易损伤的零部件之一,其失效直接导致约30%的机械故障,因此开展滚动轴承故障诊断与预测对确保机械设备安全平稳运行,预防因轴承损伤引起的停机、停产和设备损坏等具有十分重大的意义。滚动轴承常常受到装配不当、润滑不良、水分或异物入侵、腐蚀和过载疲劳等作用发生疲劳剥落、磨损、塑性变形、锈蚀与电蚀、裂纹与断裂、胶合以及保持架损坏等失效形式。
[0003]其次,随着现代机械向着高速度、高可靠性、低能耗等方向的发展, 作为传动部件的滚动轴承也要求向低摩擦、长寿命、高转速等方向发展。而转速的不断提高, 相应地带来了轴承摩擦生热加剧、疲劳寿命降低、保持架及滚动体打滑、滚动表面损伤和保持架不稳定等一系列问题,由于轴承高速运转而产生的问题,这将直接影响主轴—轴承系统的工作性能和寿命。特别是摩擦生热的急剧增加将导致轴承工作温度异常升高, 而高速轴承的温度分布是轴承用户普遍关心的问题,只有掌握了在不同工况下轴承系统内部的温度分布及其影响, 才能对轴承进行合理的润滑与冷却。
[0004]另外, 在新机械的设计中,如果能预测出轴承传动系统的发热机理、传热过程及温度分布, 知道某一工况下轴承传动系统究竟处于什么样的温度场、哪些零部件或部位是温度较高而易于失效的危险部件或危险部位,这样就可以对设计方案、工艺流程或结构材料进行合理的改进, 以提高新机械的寿命和可靠性。

技术实现思路

[0005]本专利技术克服了现有技术的不足,提供了一种用于检验轴承的测试装置及方法。
[0006]为达上述目的,本专利技术采用的技术方案为:本专利技术第一方面提供了一种用于检验轴承的测试装置,包括机架、校正组件、测试组件,所述校正组件设置于所述机架的侧部,所述校正组件包括支撑杆,所述支撑杆的一端设置有第一连接块,另一端设置有第二连接块,所述支撑杆上还设置有第一导轨滑块,所述第一导轨滑块上设置有固定块,所述固定块上固定有第二导轨滑块,所述第二导轨滑块上设置有凸形块;所述测试组件包括支撑架,所述支撑架上设置连接套,所述连接套为空腔结构且两端均设置滚动轴承,所述滚动轴承的内圈均固定于旋转轴上,所述旋转轴的一端设置有测试模具,所述测试模具上设置有呈圆周分布的若干凹槽,所述凹槽上均设置有移动块,所述移动块用于固定需要测试的轴承的内圈表面。
[0007]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,所述凸形块在所述第二导轨滑块的作用下做直线运动以微调凸形块的位置。
[0008]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,所述凸形块在所述第一导轨滑块的作用下做直线运动以粗调凸形块的位置。
[0009]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,所述凸形块上还设置有活动连杆,所述活动连杆上设置有摄像头。
[0010]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,所述旋转轴的另一端连接第一齿轮,所述第一齿轮与第二齿轮进行啮合,所述第二齿轮连接驱动电机的输出端。
[0011]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,所述第一连接块固定于所述机架上,所述第二连接块固定于所述支撑架的侧部。
[0012]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,所述移动块还连接弹簧,所述弹簧设置于所述凹槽内。
[0013]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,所述移动块上均设置有压力传感器,所述压力传感器用于收集在预设时间内需要测试的轴承的内圈表面所受到的压力值,并标记该压力值所作用的内圈表面的位置。
[0014]本专利技术第二方面提供了一种用于检验轴承的测试方法应用于权利要求任一项所述的用于检验轴承的测试装置,包括以下步骤:a.调整摄像头的摄像位置,以获得最佳的摄像位置,并在该摄像位置在预设时间内采集需要测试的多张轴承图像;b.对所述多张轴承图像进行相互对比,得到第一偏差距离;c.判断第一偏差距离是否大于预设第一偏差距离;d.若大于,则说明该轴承为不合格产品。
[0015]进一步地,本专利技术的一个较佳实施例中,还包括以下步骤:e.获取在预设时间内需要测试的轴承的内圈表面压力作用位置,并根据该表面压力作用位置得出实际的偏差距离,得到第二偏差距离;f.当所述第二偏差距离大于预设第二偏差距离时,记录下当前环境温度值;g.调整当前环境温度值,记录在该温度值下的第二偏差距离,重复f步骤,直至所述第二偏差距离不大于预设偏差距离,并记录下该环境温度值。
[0016]本专利技术解决了
技术介绍
中存在的缺陷,本专利技术具备以下有益效果:本专利技术通过调节移动块的位置来实现测试不同内圈直径的轴承,而且可以调节移动块的位置来模拟轴承在各种不同的温度场景中轴承内圈与轴之间产生的相对位移,对于轴承在实际的工作场景中具有指导性意义。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。
[0018]图1示出了一种用于检验轴承的测试装置的立体结构示意图;图2示出了一种用于检验轴承的测试装置的部分结构示意图;图3示出了校正组件的部分结构示意图;
图4示出了测试组件的部分结构示意图;图5示出了测试组件的局部结构示意图;图6示出了测试组件的剖面结构示意图;图中:1.机架,2.校正组件,3.测试组件,201. 支撑杆,202. 第一连接块,203. 第二连接块,204. 第一导轨滑块,205. 固定块,206. 第二导轨滑块,207. 凸形块,208.活动连杆,209.摄像头,301.支撑架,302.连接套,303. 滚动轴承,304. 旋转轴,305.测试模具,306.移动块,307. 第一齿轮,308.第二齿轮,309.驱动电机,310.弹簧。
具体实施方式
[0019]为了能够更加清楚地理解本专利技术的上述目的、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述,这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本专利技术的基本结构,因此其仅显示与本专利技术有关的构成,需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0020]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术,但是本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本专利技术的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
[0021]在本申请的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检验轴承的测试装置,包括机架、校正组件、测试组件,其特征在于,所述校正组件设置于所述机架的侧部,所述校正组件包括支撑杆,所述支撑杆的一端设置有第一连接块,另一端设置有第二连接块,所述支撑杆上还设置有第一导轨滑块,所述第一导轨滑块上设置有固定块,所述固定块上固定有第二导轨滑块,所述第二导轨滑块上设置有凸形块;所述测试组件包括支撑架,所述支撑架上设置连接套,所述连接套为空腔结构且两端均设置滚动轴承,所述滚动轴承的内圈均固定于旋转轴上,所述旋转轴的一端设置有测试模具,所述测试模具上设置有呈圆周分布的若干凹槽,所述凹槽上均设置有移动块,所述移动块用于固定需要测试的轴承的内圈表面。2.根据权利要求1所述的一种用于检验轴承的测试装置,其特征在于,所述凸形块在所述第二导轨滑块的作用下做直线运动以微调凸形块的位置。3.根据权利要求1所述的一种用于检验轴承的测试装置,其特征在于,所述凸形块在所述第一导轨滑块的作用下做直线运动以粗调凸形块的位置。4.根据权利要求1所述的一种用于检验轴承的测试装置,其特征在于,所述凸形块上还设置有活动连杆,所述活动连杆上设置有摄像头。5.根据权利要求1所述的一种用于检验轴承的测试装置,其特征在于,所述旋转轴的另一端连接第一齿轮,所述第一齿轮与第二齿轮进行啮合,所述第二齿轮连接驱动电机的输出端。6.根据权利要求1所述的一种用于检验轴承的测试装置,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:于学明辛巧芝
申请(专利权)人:辽博信息科技山东有限公司
类型:发明
国别省市:

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