环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量方法技术

本发明专利技术公开了一种环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量方法，属于环境检测领域，利用大气颗粒物模拟系统和水雾环境模拟系统模拟表面覆盖有水雾介质的大气颗粒物环境，同时进行垂直方向穆勒矩阵测试和水平方向干扰环境的出射偏振态测试，通过确保均匀水雾环境模拟系统长和高相等的方式，将水平路径上干扰环境出射偏振态等效为垂直路径上干扰环境出射偏振态，解决干扰环境无法测量的缺陷，本发明专利技术能够测试被遮挡颗粒物环境的穆勒矩阵，解决了穆勒矩阵测试过程中环境干扰抑制的问题。穆勒矩阵测试过程中环境干扰抑制的问题。穆勒矩阵测试过程中环境干扰抑制的问题。

【技术实现步骤摘要】
环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量方法


[0001]本专利技术属于环境检测领域，更具体地，涉及一种环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量方法。

技术介绍

[0002]严重的大气污染对公众健康、生态环境和社会经济都会产生巨大的威胁与损害。近年来，随着我国经济高速发展，城市化和工业化进程不断加快，由于汽车尾气、道路扬尘和建筑施工扬尘、工厂的二次污染、冬季取暖燃烧煤炭低空排放的污染物等原因，城市空气中的液滴和固体小颗粒浓度大幅升高，而占主要地位的环境问题多是人为活动产生的颗粒物，而且室内的废气污染也比人们想象地要严重地多，由于人类活动和自然过程引起室外某些物质进入室内，达到足够的浓度，持续足够的时间，对人体产生危害。因此，对大气颗粒物进行有效地实时测量监控，进而控制和减少颗粒物的排放，是一项具有重大经济价值和社会价值的任务。
[0003]大气颗粒物测量研究主要集中于两个方面，一个方面是测量颗粒物的粒径分布，从而获取颗粒物在选定的粒径区间的浓度，另外一个方面是分析颗粒物的成分组成来解析颗粒物的污染源，颗粒物的成分组成具有粒径分布的相关性。基于不本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤，且以下步骤顺序进行：步骤一、前期准备
①
将穆勒矩阵测试起偏系统(2)和穆勒矩阵测试接收系统(3)置于同一光路上，穆勒矩阵测试起偏系统(2)位于多层环境模拟系统(1)的垂直路径光入射侧，穆勒矩阵测试接收系统(3)位于多层环境模拟系统(1)的垂直路径光出射侧；
②
将环境干扰抑制起偏系统(4)和环境干扰抑制接收系统(5)置于同一光路上，环境干扰抑制起偏系统(4)位于多层环境模拟系统(1)的水平路径光入射侧，环境干扰抑制接收系统(5)位于多层环境模拟系统(1)的水平路径光出射侧；其中：多层环境模拟系统(1)呈上下两层，下层为大气颗粒物模拟系统(11)，上层为水雾环境模拟系统(12)；穆勒矩阵测试起偏系统(2)由沿着光的传播方向依次布置的第一激光器(21)、第一衰减片(22)、扩束器(23)、第一线偏振片(24)和第一四分之一波片(25)组成；穆勒矩阵测试接收系统(3)由沿着光的传播方向依次布置的第二四分之一波片(31)、第二线偏振片(32)和CCD探测器(33)组成；环境干扰抑制起偏系统(4)由沿着光的传播方向依次布置的第二激光器(41)、第二衰减片(42)、第三线偏振片(43)和第三四分之一波片(44)组成；环境干扰抑制接收系统(5)包括偏振态测量仪(51)；步骤二、打开穆勒矩阵测试起偏系统(2)中第一激光器(21)，调节第一衰减片(22)的亮度，移除第一四分之一波片(25)，调节第一线偏振片(24)产生水平线偏振光；步骤三、打开环境干扰抑制起偏系统(4)中第二激光器(41)，调节第二衰减片(42)产生的亮度与步骤一中第一衰减片(22)产生的亮度相同，移除第三四分之一波片(44)，调节第三线偏振片(43)产生水平线偏振光；步骤四、移除穆勒矩阵测试接收系统(3)中第二四分之一波片(31)，调节第二线偏振片(32)，使其与步骤一中穆勒矩阵测试起偏系统(2)的偏振态相同，测试水平起偏、水平检偏时所接收的光斑图样；步骤五、在多层环境模拟系统(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：张肃，战俊彤，付强，李英超，宋俊宏，王鹏程，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：发明
国别省市：