一种霍尔元件三维磁场测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种霍尔元件三维磁场测试装置，包括支架和测试台，支架用于支撑测试台，测试台上设有三组线圈，三组线圈分别为X轴线圈组、Y轴线圈组和Z轴线圈组，X轴线圈组、Y轴线圈组和Z轴线圈组的磁场方向在空间内相互垂直，X轴线圈组和Y轴线圈组之间设有承台，承台用于放置需要测试的元件，测试台上设有电路板，电路板位于线圈组的下方，电路板用于反馈测试结果，本实用新型专利技术结构合理，通过三组线圈构成一个三维磁场，将原件放入到承台内后，即可以对芯片的三个方向的磁场进行测试，无需进行多次测试，提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种霍尔元件三维磁场测试装置


[0001]本技术涉及霍尔元件测试装置领域，特别涉及一种霍尔元件三维磁场测试装置。

技术介绍

[0002]霍尔元件是一种基于霍尔效应的磁传感器，因其体积小，使用简便，测量准确度高，可测量交、直流磁场等优点，已广泛用于磁场的测量，并配以其他装置用于位置、位移、转速、角度等物理的测量和自动控制。
[0003]现有的转塔机对霍尔元件进行测试时，将三组磁场分成两组装置对霍尔元件进行测试，降低了测试的效率。针对以上问题，以下提出一种解决方式。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种霍尔元件三维磁场测试装置，具有将三组磁场结合到一个测试装置上，在一个测试装置上形成一个三维磁场，从而使一次即可完成对芯片的磁场内的性能测试，提高检测效率的优点。
[0005]本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
[0006]一种霍尔元件三维磁场测试装置，包括支架和测试台，所述支架用于支撑测试台，所述测试台上设有三组线圈，三组所述线圈分别为X轴线圈组、Y轴线圈组和Z轴线圈组，所述X轴线圈组、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种霍尔元件三维磁场测试装置，包括支架(1)和测试台(2)，其特征在于，所述支架(1)用于支撑测试台(2)，所述测试台(2)上设有三组线圈，三组所述线圈分别为X轴线圈组(3)、Y轴线圈组(4)和Z轴线圈组(5)，所述X轴线圈组(3)、Y轴线圈组(4)和Z轴线圈组(5)的磁场方向在空间内相互垂直，所述X轴线圈组(3)和Y轴线圈组(4)之间设有承台(6)，所述承台(6)用于放置需要测试的元件，所述测试台(2)上设有电路板，所述电路板位于线圈组的下方，所述电路板用于反馈测试结果。2.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述Z轴线圈组(5)内侧设有安装块(7)，所述X轴线圈组(3)和Y轴线圈均位于安装块(7)内，且与安装块(7)配合。3.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述支架(1)的一侧设有提升装置，所述提升装置包括固定板(8)和提升板(9)，所述固定板(8)与支架(1)的一侧固定连接，所述提升板(9)与测试台(2)的一侧固定连接，所述固定板(8)内设有气缸(10)，所述气缸(10)用于带动提升板(9)移动。4.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述支架(1)的一侧设有下位传感器(11)，所述下位传感器(11)用于限制测试台(...

【专利技术属性】
技术研发人员：茹建成，
申请(专利权)人：绍兴千欣电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：