一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机技术方案

技术编号:31281452 阅读:33 留言:0更新日期:2021-12-08 21:37
本实用新型专利技术公开了一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机,包括底座和夹持组件,卡槽,其安装于所述底座的两侧,且卡槽内部安装有机架,所述机架一侧安装有伺服电机,且伺服电机输出端连接有滚珠丝杠,所述滚珠丝杠外部设置有螺母座,且螺母座表面连接有夹持组件;检测台,其连接于所述底座顶部中心位置;上料台,其安装于所述检测台的两侧。该具有双测试系统的模拟集成电路测试机通过上料台、滑槽、行程气缸与载料台之间的相互配合设置,使得能够通过控制行程气缸来准确的实现载料台的位移距离,配合伺服电机、滚珠丝杠、螺母座与夹持组件,使其能够稳定精准的夹持载料台表面的集成电路,提升其上料效率,缩短了检测时间。缩短了检测时间。缩短了检测时间。

【技术实现步骤摘要】
一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机


[0001]本技术涉及集成电路
,具体为一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机。

技术介绍

[0002]模拟集成电路主要是指由电容、电阻、晶体管等组成的模拟电路集成在一起用来处理模拟信号的集成电路。有许多的模拟集成电路,如运算放大器、模拟乘法器、锁相环、电源管理芯片等,集成电路在使用时均需要用到检测仪器。
[0003]市场上的模拟集成电路测试机不具有需要人工上料,导致检测效率低下的问题,为此,我们提出一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机,以解决上述
技术介绍
中提出的市场上的模拟集成电路测试机不具有需要人工上料,导致检测效率低下的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机,包括:
[0006]底座;
[0007]还包括:
[0008]卡槽,其安装于所述底座的两侧,且卡槽内部安装有机架,所述机架一侧安装有伺服电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机,包括:底座(1);其特征在于,还包括:卡槽(2),其安装于所述底座(1)的两侧,且卡槽(2)内部安装有机架(3),所述机架(3)一侧安装有伺服电机(4),且伺服电机(4)输出端连接有滚珠丝杠(5),所述滚珠丝杠(5)外部设置有螺母座(6),且螺母座(6)表面连接有夹持组件(7);检测台(8),其连接于所述底座(1)顶部中心位置;上料台(9),其安装于所述检测台(8)的两侧,所述上料台(9)中部开设有滑槽(10),且滑槽(10)内部安装有行程气缸(11),所述行程气缸(11)的输出端连接有载料台(12),且载料台(12)表面开设有置物槽(13)。2.根据权利要求1所述的一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机,其特征在于,所述夹持组件(7)通过螺母座(6)、滚珠丝杠(5)与伺服电机(4)之间构成传动结构,且夹持组件(7)与螺母座(6)之间呈固定连接。3.根据权利要求1所述的一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机,其特征在于,所述夹持组件(7)包括:基座(701);步进电机(702),其安装于所述基座(701)内部,且步进电机(702)的输出端连接有电动伸缩杆(703),所述电动伸缩杆(703)输出端连接有吸盘(704);...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱培韩炳伟
申请(专利权)人:深圳市华测半导体设备有限公司
类型:新型
国别省市:

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