一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机技术方案

本实用新型专利技术公开了一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，包括底座和夹持组件，卡槽，其安装于所述底座的两侧，且卡槽内部安装有机架，所述机架一侧安装有伺服电机，且伺服电机输出端连接有滚珠丝杠，所述滚珠丝杠外部设置有螺母座，且螺母座表面连接有夹持组件；检测台，其连接于所述底座顶部中心位置；上料台，其安装于所述检测台的两侧。该具有双测试系统的模拟集成电路测试机通过上料台、滑槽、行程气缸与载料台之间的相互配合设置，使得能够通过控制行程气缸来准确的实现载料台的位移距离，配合伺服电机、滚珠丝杠、螺母座与夹持组件，使其能够稳定精准的夹持载料台表面的集成电路，提升其上料效率，缩短了检测时间。缩短了检测时间。缩短了检测时间。

【技术实现步骤摘要】
一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机。

技术介绍

[0002]模拟集成电路主要是指由电容、电阻、晶体管等组成的模拟电路集成在一起用来处理模拟信号的集成电路。有许多的模拟集成电路，如运算放大器、模拟乘法器、锁相环、电源管理芯片等，集成电路在使用时均需要用到检测仪器。
[0003]市场上的模拟集成电路测试机不具有需要人工上料，导致检测效率低下的问题，为此，我们提出一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，以解决上述
技术介绍
中提出的市场上的模拟集成电路测试机不具有需要人工上料，导致检测效率低下的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，包括：
[0006]底座；
[0007]还包括：
[0008]卡槽，其安装于所述底座的两侧，且卡槽内部安装有机架，所述机架一侧安装有伺服电机，且伺服电机输出端连接有滚珠丝杠，所述滚珠丝杠外部设置有螺母座，且螺母座表面连接有夹持组件；
[0009]检测台，其连接于所述底座顶部中心位置；
[0010]上料台，其安装于所述检测台的两侧，所述上料台中部开设有滑槽，且滑槽内部安装有行程气缸，所述行程气缸的输出端连接有载料台，且载料台表面开设有置物槽。
[0011]优选的，所述夹持组件通过螺母座、滚珠丝杠与伺服电机之间构成传动结构，且夹持组件与螺母座之间呈固定连接。
[0012]优选的，所述夹持组件包括：
[0013]基座；
[0014]步进电机，其安装于所述基座内部，且步进电机的输出端连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆输出端连接有吸盘；
[0015]检测架，其连接于所述基座底部，且检测架底部安装有检测摄像头。
[0016]优选的，所述吸盘通过电动伸缩杆、步进电机与基座之间构成转动结构，且吸盘通过电动伸缩杆与基座之间构成可伸缩结构。
[0017]优选的，所述载料台通过行程气缸、滑槽与上料台之间构成滑动结构，且载料台共设有两组。
[0018]优选的，所述检测台表面安装有插槽，且插槽中部安装有辅助组件；
[0019]所述辅助组件包括：
[0020]微型推杆；
[0021]基板，其连接于所述微型推杆的输出端，且基板表面连接有石墨烯贴片。
[0022]优选的，所述石墨烯贴片和基板通过微型推杆与检测台之间构成活动结构，且基板呈圆形状结构。
[0023]本技术提供了一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，具备以下有益效果：该具有双测试系统的模拟集成电路测试机，采用自动化上料机构，使得能够提升工作效率，且在上料的过程中还能够对集成电路进行检测，保证其外表与引脚的完好性，通过在检测台内部安装的辅助组件，使其在检测完成后能快速将其推出，提升其退料效率。
[0024]1、本技术通过上料台、滑槽、行程气缸与载料台之间的相互配合设置，使得能够通过控制行程气缸来准确的实现载料台的位移距离，配合伺服电机、滚珠丝杠、螺母座与夹持组件，使其能够稳定精准的夹持载料台表面的集成电路，提升其上料效率，缩短了检测时间。
[0025]2、本技术通过夹持组件底部的检测摄像头，使其在夹持集成电路时能够对其表面进行检测，保证集成电路在进入检测台内部前外壳的完好性，同时通过电动伸缩杆与吸盘，使其能够吸附夹持集成电路，减小其受到夹损的情况，由于电动伸缩杆的顶部还设置有步进电机，使其能够驱动电动伸缩杆与吸盘转动，从而使得检测摄像头能够检测集成电路的引脚部分，提升其实用性。
[0026]3、本技术通过检测台表面的插槽能够对集成电路进行检测，同时通过插槽中的辅助组件的设置，在检测时能够使得集成电路的底部与石墨烯贴片贴合，保证其散热能力，在检测结束后，通过驱动微型推杆推动基板与石墨烯贴片从而将集成电路从插槽内顶出再配合夹持组件取出，提升其退料效率，有效的保护了引脚的完好性。
附图说明
[0027]图1为本技术一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机的整体结构示意图；
[0028]图2为本技术一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机的载料台俯视结构示意图；
[0029]图3为本技术一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机图1中A处放大结构示意图；
[0030]图4为本技术一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机的检测台俯视结构示意图；
[0031]图5为本技术一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机辅助组件立体结构示意图。
[0032]图中：1、底座；2、卡槽；3、机架；4、伺服电机；5、滚珠丝杠；6、螺母座；7、夹持组件；701、基座；702、步进电机；703、电动伸缩杆；704、吸盘；705、检测架；706、检测摄像头；8、检测台；9、上料台；10、滑槽；11、行程气缸；12、载料台；13、置物槽；14、插槽；15、辅助组件；1501、微型推杆；1502、基板；1503、石墨烯贴片。
具体实施方式
[0033]如图1
‑
2所示，一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，包括：底座1；还包括：卡槽2，其安装于底座1的两侧，且卡槽2内部安装有机架3，机架3一侧安装有伺服电机4，且伺服电机4输出端连接有滚珠丝杠5，滚珠丝杠5外部设置有螺母座6，且螺母座6表面连接有夹持组件7；检测台8，其连接于底座1顶部中心位置；上料台9，其安装于检测台8的两侧，上料台9中部开设有滑槽10，且滑槽10内部安装有行程气缸11，行程气缸11的输出端连接有载料台12，且载料台12表面开设有置物槽13，夹持组件7通过螺母座6、滚珠丝杠5与伺服电机4之间构成传动结构，且夹持组件7与螺母座6之间呈固定连接，载料台12通过行程气缸11、滑槽10与上料台9之间构成滑动结构，且载料台12共设有两组，通过上料台9、滑槽10、行程气缸11与载料台12之间的相互配合设置，使得能够通过控制行程气缸11推动载料台12沿滑槽10表面移动，来准确的实现载料台12的位移距离，配合伺服电机4、滚珠丝杠5、螺母座6与夹持组件7，使其能够稳定精准的夹持载料台12表面的集成电路，提升其上料效率，缩短了检测时间。
[0034]如图1和图3所示，夹持组件7包括：基座701；步进电机702，其安装于基座701内部，且步进电机702的输出端连接有电动伸缩杆703，电动伸缩杆703输出端连接有吸盘704；检测架705，其连接于基座701底部，且检测架705底部安装有检测摄像头706，吸盘704通过电动伸缩杆703、步进电机702与基座701之间构成转动结构，且吸盘704通过电动伸缩杆703与基座701之间构成可伸缩结构，在夹持吸附集成电路时，通过夹持组件7底部的检测摄像头706，使其在夹持集成电路时能够对其表本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，包括：底座(1)；其特征在于，还包括：卡槽(2)，其安装于所述底座(1)的两侧，且卡槽(2)内部安装有机架(3)，所述机架(3)一侧安装有伺服电机(4)，且伺服电机(4)输出端连接有滚珠丝杠(5)，所述滚珠丝杠(5)外部设置有螺母座(6)，且螺母座(6)表面连接有夹持组件(7)；检测台(8)，其连接于所述底座(1)顶部中心位置；上料台(9)，其安装于所述检测台(8)的两侧，所述上料台(9)中部开设有滑槽(10)，且滑槽(10)内部安装有行程气缸(11)，所述行程气缸(11)的输出端连接有载料台(12)，且载料台(12)表面开设有置物槽(13)。2.根据权利要求1所述的一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，其特征在于，所述夹持组件(7)通过螺母座(6)、滚珠丝杠(5)与伺服电机(4)之间构成传动结构，且夹持组件(7)与螺母座(6)之间呈固定连接。3.根据权利要求1所述的一种具有双测试系统的模拟集成电路测试机，其特征在于，所述夹持组件(7)包括：基座(701)；步进电机(702)，其安装于所述基座(701)内部，且步进电机(702)的输出端连接有电动伸缩杆(703)，所述电动伸缩杆(703)输出端连接有吸盘(704)；...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱培，韩炳伟，
申请(专利权)人：深圳市华测半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：