重复测试电组件的方法和机器技术

一种方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００）自动测试电子组件（１２，１２０）的参数以确定该组件（１２，１２０）是否具有可接受的值。方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００）采用自动电子组件测试机（２），其具有至少第一和第二测量位置，可在这些测量位置测量参数。当值实际上是可接受的时候，测试程序本身可能错误地导致该值看起来不可接受。方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００）将组件（１２，１２０）放置在第一测量位置并在第一测量位置测量参数，由此生成第一被测参数值。方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００）也将组件（１２，１２０）放置在第二测量位置并在第二测量位置测量参数，由此生成第二被测参数值。只有当所有被测值都不可接受时，方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００）才拒绝组件（１２，１２０），从而使错误拒绝组件（１２，１２０）的概率比如果只执行单个测量步骤而错误拒绝组件（１２，１２０）的概率要小。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
0002本公开主要涉及电子组件测试，更具体地，涉及对电容 器的测试。
技术介绍
0003电容器，其存储电荷，是电子电路的基本构建模块之一。 在其最基本的形式中，电容器包含两个相互分开一小段距离的导电表 面，其中，非导电电介质材料位于导电表面之间。这种排列的电容C 与KA/d成比例，其中K是中间材料的介电常数，A是相对导电表面 的面积，d是导电表面之间的距离。0004图1是多层电容器120的侧面剖面等距视图。电容器120 具有两个外部连接或电极124和128，它们分别示出于左侧和右侧。许 多基本平行的导电片或板130连接至电极124。同样地，许多基本平行 的导电片或板140连接至电极128。导电板130和140如图所示般地相 互配合。导电板130和140之间是电介质材料150。可选的外壳160 可用于覆盖在电极124和128之间的电容器120的外面。多层排列引 起电容与互相配合的板的数量成比例地倍增。事实上，用于这种排列 的电容的公式与nKA/d成比例，其中n是来自于每个电极的板的数量。0005当电介质材料150是陶瓷时，电容器120是多层陶瓷电 容器(MLCC)。 MLCC广受欢迎本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于自动测试电子组件（１２，１２０）的参数以确定所述组件（１２，１２０）是否具有可接受的参数值的方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００），其采用自动电子组件测试机（２），该自动电子组件测试机（２）具有至少第一和第二测量位置，可在这些位置测量所述电子组件（１２，１２０）的参数，其中，当所述参数值实际上是可接受的时候，测试程序本身可能错误地导致所述参数值看起来不可接受，所述方法包括：　　　　将所述组件（１２，１２０）放置在所述第一测量位置；　　　　在所述第一测量位置测量所述组件（１２，１２０）的所述参数，由此生成第一被测参数值；　　　　将所述组件（１２，１２０）放置在所述第二测...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2004-11-22 60/630,2611.一种用于自动测试电子组件(12，120)的参数以确定所述组件(12，120)是否具有可接受的参数值的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其采用自动电子组件测试机(2)，该自动电子组件测试机(2)具有至少第一和第二测量位置，可在这些位置测量所述电子组件(12，120)的参数，其中，当所述参数值实际上是可接受的时候，测试程序本身可能错误地导致所述参数值看起来不可接受，所述方法包括将所述组件(12，120)放置在所述第一测量位置；在所述第一测量位置测量所述组件(12，120)的所述参数，由此生成第一被测参数值；将所述组件(12，120)放置在所述第二测量位置；在所述第二测量位置测量所述组件(12，120)的所述参数，由此生成第二被测参数值；只有当所有被测参数值都不可接受时，才拒绝所述组件(12，120)，由此，所述方法错误拒绝所述组件(12，120)的总概率比如果只执行单个测试步骤而错误拒绝所述组件(12，120)的总概率要小。2. 根据权利要求1所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)， 其中所述组件(12， 120)是电容器。3. 根据权利要求2所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400), 其中所述电容器是MLCC。4. 根据权利要求2所述的方法(1000, 1100, 1200， 1300， 1400)， 其中所述参数是AC损耗参数。5. 根据权利要求4所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)， 其中所述AC损耗参数是耗散因数。6. 根据权利要求1所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)， 其中给定的单个测量可能错误指出所述组件(12, 120)是不可接受的 概率可归因于所述测量步骤引入的附加电阻。7. 根据权利要求1所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)，进一步包括重复所述放置和测量步骤，以使得这些步骤总共被执行N次，其中N大于等于3。8. 根据权利要求1所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)，其中所述放置步骤包括在两个电触点之间，定位所述组件(12， 120); 通过所述电触点检测电量，其中所述电量与被测参数相关；和从所检测的电量得出被测参数值。9. 根据权利要求8所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)，其中所述第一放置步骤期间所使用的所述电触点中的至少一个触点不 同于所述第二放置步骤期间所使用的所述电触点中的至少一个触点。10. 根据权利要求8所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)，其中所述第一放置步骤期间所使用的所述电触点中的至少一个触点不同于所述第二放置步骤期间所使用的所述电触点中的至少一个触点，并且其中所述方法进一步包括在所述第一和所述第二测量步骤之间清洁所述电触点中的一 个或更多个。11. 根据权利要求8所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)，其中当所述参数值实际上是可接受的时候，所述两个电触点中的一个 或两个上的污物可使得测量步骤错误地导致所述被测参数值看起来不 可接受。12. 根据权利要求1所述的方法(IOOO， 1100， 1200， 1300， 1400)， 其中所述第一和第二测量位置彼此略微偏离开。13. 根据权利要求12所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)，其中所述第一和第二测量位置大致相同并且所述方法进一步包含在所述测量步骤之间略微振动所述组件(12， 120)。14. 根据权利要求12所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)，其中所述第一和第二测量位置大致相同并且所述方法进一步包括在所述第二测量位置上测量所述组件(12， 120)的所述参数 的步骤期间，在所述测量步骤之间略微振动所述组件(12， 120)，由 此生成第二被测参数值。15. 根据权利要求12所述的方法(1000， 1100， 1200， 1300， 1400)， 其中，在所述组件向着所述第二测量位置运动的同时，在所述第一测 量位置测量所述组件的所述参数，由此生成第一被测参数值的步骤发 生；并且在所述组件是静止时，在所述第二测量位置上测量所述组件 的所述参数，由此生成第二被测参数值的步骤发生。16. —种计算机可读介质，其上嵌有执行权利要求1所述的方法 (IOQO， 1100， 1200， 1300， 1400)的程序。17. —种自动电子组件测试机...

【专利技术属性】
技术研发人员：DJ加西亚，金京英，L洛曼，
申请(专利权)人：电子科学工业公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]