一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法，所述方法包括如下步骤：每隔4个月对待测光源进行一次光功率测试，得到n个光功率，根据n个光功率得到待测光源的功率衰减因子；得到待测光源的M年衰减指标η；得到光源衰减因子Δ；若待测光源的功率衰减因子不大于光源衰减因子Δ，则待测光源合格。本发明专利技术利用电应力、环境应力，向光源施加合理的应力，将其内部潜在的工艺缺陷、材料缺陷加速暴露出来，通过光功率检测发现并排除，从而将度过早期失效期、到达使用寿命期的光源筛选出来。来。来。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法及系统


[0001]本专利技术属于惯性
，尤其涉及一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法及系统。

技术介绍

[0002]目前，光纤陀螺在空间领域的应用越来越多，鉴于空间应用产品的不可修复特性，所以保证光纤陀螺性能稳定的技术则越来越重要。光纤陀螺中比较关键的器件之一就是超辐射发光二极管(SLD)，属于半导体光源。SLD光源光功率的输出并不是稳定不变的，随着电应力、环境应力等因素影响，输出光功率的数值是有一定变化规律的，如果使用的合理，则可以最大程度的保证光纤陀螺的整体性能。
[0003]经地面试验，4个光源子样，常温通电状态下连续工作3年，其光功率衰减范围为18.7％～34.5％。某型号在轨600天，光路光功率衰减幅度与之相当，具体表现为前期衰减速度快，后期变缓。
[0004]光纤陀螺用光源的光功率输出曲线，表现为前期快、后期缓。由于光源的早期失效期时间跨度比较长，一般为几年，而且必须为通电状态，筛选成本比较高。目前光源的筛选方法，无论是厂家的出场筛选，还是用户的二次筛选均无法避过光源的光功率快速衰减期。并且用户无法通过短期试验，确定某一特定光源到底处于光功率输出的哪一段寿命期。一旦光源驱动板完成调试，确定了驱动电流，光功率的输出也就确定，如果光源的功率出现短期光功率的快速下降，则对整机的性能有较大影响。

技术实现思路

[0005]本专利技术解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法及系统，利用电应力、环境应力，向光源施加合理的应力，将其内部潜在的工艺缺陷、材料缺陷加速暴露出来，通过光功率检测发现并排除，从而将度过早期失效期、到达使用寿命期的光源筛选出来。
[0006]本专利技术目的通过以下技术方案予以实现：一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法，所述方法包括如下步骤：步骤一：将待测光源设置于环境试验装置内，多路光源驱动系统与待测光源相连接，待测光源通过光纤端子与光功率测试仪相连接，光功率测试仪与数据处理终端相连接；其中，多路光源驱动系统给待测光源提供驱动电流和温控电流，环境试验装置给待测光源提供热环境条件；步骤二：试验初始时对待测光源进行一次光功率测试，光功率测试仪通过光纤端子采集待测光源的光功率，将待测光源的光功率传输给数据处理终端，数据处理终端将该待测光源的光功率记为第一次光功率步骤三：重复步骤二，每隔4个月对待测光源进行一次光功率测试，得到n个光功率，根据n个光功率得到待测光源的功率衰减因子Δ
nm
；步骤四：根据预设的光纤陀螺的要求精度对应的待测光源的光功率值P
m
和预设的待测光源的光功率P
a
得到待测光源的M年衰减指标η；根据待测光源的M年衰减指标η得到光源衰减因子Δ；步骤五：若待测光源的功率衰减因子Δ
nm
不大于光源
衰减因子Δ，则待测光源合格。
[0007]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法中，在步骤一中，热环境条件为：在温度
‑
25℃时保持3个小时，然后以3
‑
5℃/min的变温速度升至60℃，在60℃保持3个小时。
[0008]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法中，在步骤三中，n个光功率为其中，m＝n
‑
1，m和n均为光功率测试测试次数。
[0009]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法中，在步骤三中，待测光源的功率衰减因子Δ
nm
为：
[0010]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法中，在步骤四中，待测光源的M年衰减指标η为：
[0011]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法中，在步骤四中，光源衰减因子Δ为：
[0012]一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选系统，包括：多路光源驱动系统、环境试验装置、光功率测试仪与数据处理终端；其中，待测光源设置于环境试验装置内，多路光源驱动系统与待测光源相连接，待测光源通过光纤端子与光功率测试仪相连接，光功率测试仪与数据处理终端相连接；其中，多路光源驱动系统给待测光源提供驱动电流和温控电流，环境试验装置给待测光源提供热环境条件。
[0013]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选系统中，热环境条件为：在温度
‑
25℃时保持3个小时，然后以3
‑
5℃/min的变温速度升至60℃，在60℃保持3个小时。
[0014]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选系统中，试验初始时对待测光源进行一次光功率测试，光功率测试仪通过光纤端子采集待测光源的光功率，将待测光源的光功率传输给数据处理终端，数据处理终端将该待测光源的光功率记为第一次光功率每隔4个月对待测光源进行一次光功率测试，得到n个光功率，根据n个光功率得到待测光源的功率衰减因子Δ
nm
；根据预设的光纤陀螺的要求精度对应的待测光源的光功率值P
m
和预设的待测光源的光功率P
a
得到待测光源的M年衰减指标η；根据待测光源的M年衰减指标η得到光源衰减因子Δ；若待测光源的功率衰减因子Δ
nm
不大于光源衰减因子Δ，则待测光源合格。
[0015]上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选系统中，n个光功率为上述光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选系统中，n个光功率为其中，m＝n
‑
1，m和n均为光功率测试测试次数；待测光源的功率衰减因子Δ
nm
为：
[0016]本专利技术与现有技术相比具有如下有益效果：
[0017]本专利技术利用电应力、环境应力，向光源施加合理的应力，将其内部潜在的工艺缺陷、材料缺陷加速暴露出来，通过光功率检测发现并排除，从而将度过早期失效期、到达使用寿命期的光源筛选出来，这类光源的光功率比较稳定，短期内不会出现大的功率衰减，比较适合用来作为光纤陀螺的光源。
附图说明
[0018]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
[0019]图1是本专利技术实施例提供的光源失效浴盆曲线图；
[0020]图2是本专利技术实施例提供的光功率输出曲线示意图；
[0021]图3是本专利技术实施例提供的光源筛选系统框图。
具体实施方式
[0022]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：步骤一：将待测光源设置于环境试验装置内，多路光源驱动系统与待测光源相连接，待测光源通过光纤端子与光功率测试仪相连接，光功率测试仪与数据处理终端相连接；其中，多路光源驱动系统给待测光源提供驱动电流和温控电流，环境试验装置给待测光源提供热环境条件；步骤二：试验初始时对待测光源进行一次光功率测试，光功率测试仪通过光纤端子采集待测光源的光功率，将待测光源的光功率传输给数据处理终端，数据处理终端将该待测光源的光功率记为第一次光功率步骤三：重复步骤二，每隔4个月对待测光源进行一次光功率测试，得到n个光功率，根据n个光功率得到待测光源的功率衰减因子Δ
nm
；步骤四：根据预设的光纤陀螺的要求精度对应的待测光源的光功率值P
m
和预设的待测光源的光功率P
a
得到待测光源的M年衰减指标η；根据待测光源的M年衰减指标η得到光源衰减因子Δ；步骤五：若待测光源的功率衰减因子Δ
nm
不大于光源衰减因子Δ，则待测光源合格。2.根据权利要求1所述的光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法，其特征在于：在步骤一中，热环境条件为：在温度
‑
25℃时保持3个小时，然后以3
‑
5℃/min的变温速度升至60℃，在60℃保持3个小时。3.根据权利要求1所述的光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法，其特征在于：在步骤三中，n个光功率为其中，m＝n
‑
1，m和n均为光功率测试测试次数。4.根据权利要求3所述的光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法，其特征在于：在步骤三中，待测光源的功率衰减因子Δ
nm
为：5.根据权利要求1所述的光纤陀螺用输出光功率稳定的光源筛选方法，其特征在于：在步骤四中，待测光源的M年衰...

【专利技术属性】
技术研发人员：张金保，崔斌，周晓娜，林松，刘静，李恺，周晶淼，张沛勇，王晓玲，李杰彦，
申请(专利权)人：北京控制工程研究所，
类型：发明
国别省市：