一种内存信号质量评估方法、系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种内存信号质量评估方法、系统及装置，在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作；根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量。可见，本申请通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。估准确性较高。估准确性较高。

【技术实现步骤摘要】
一种内存信号质量评估方法、系统及装置


[0001]本专利技术涉及存储领域，特别是涉及一种内存信号质量评估方法、系统及装置。

技术介绍

[0002]目前，对于DDR(Double Data Rate，双倍速率)内存，通常采用示波器探头点测内存信号的方式来测试内存信号的质量。但是，这种方法受制于测试人员的手法和测试设备，容易影响测试结果的准确性；且示波器、探头等物理设备的价格昂贵，导致测试成本较高。
[0003]因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域的技术人员目前需要解决的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种内存信号质量评估方法、系统及装置，通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种内存信号质量评估方法，包括：
[0006]在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；
[0007]将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作；
[0008]根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量。
[0009]优选地，将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作，包括：
[0010]将所述读写参考电平值从所述第一取值范围的最大值开始，按照预设第一步进值依次取值，直至取到所述第一取值范围的最小值；
[0011]以每次所述读写参考电平值的取值为基础，将所述读写时序电平值从所述第二取值范围的最小值开始，按照预设第二步进值依次取值，直至取到所述第二取值范围的最大值，并分别在不同取值的所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作。
[0012]优选地，所述预设第一步进值和所述预设第二步进值的确定过程，包括：
[0013]预先设置第一步进值、第二步进值与评估准确度要求之间的步进准确度对应关系；
[0014]根据所述步进准确度对应关系，确定与所述内存的实际评估准确度要求对应的所述预设第一步进值及所述预设第二步进值。
[0015]优选地，在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范
围及读写时序电平值对应的第二取值范围，包括：
[0016]通过定制BIOS，使所述内存所在的系统主板开机后停止在所述内存的初始化过程结束后，以进入确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围的步骤。
[0017]优选地，所述内存信号质量评估方法还包括：
[0018]以所述读写时序电平值为横坐标、以所述读写参考电平值为纵坐标，分别建立读信号图和写信号图；其中，在任一取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下，若读操作失败，则将所述读信号图上对应的取值区域标记为失败区域、若写操作失败，则将所述写信号图上对应的取值区域标记为失败区域。
[0019]优选地，所述内存信号质量评估方法还包括：
[0020]分别在所述读信号图和所述写信号图的中心区域划分出第一信号标准区域，并在所述第一信号标准区域的外围区域划分出第二信号标准区域；
[0021]则根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量，包括：
[0022]在目标信号图上，若所述失败区域在所述第二信号标准区域的外围，则确定所述内存的目标信号质量为高质量；其中，所述目标信号图为所述读信号图或所述写信号图；
[0023]若所述失败区域在所述第一信号标准区域的外围且与所述第二信号标准区域有重合区域，则确定所述内存的目标信号质量为中等质量；
[0024]若所述失败区域与所述第一信号标准区域和所述第二信号标准区域均有重合区域，则确定所述内存的目标信号质量为低质量。
[0025]优选地，所述内存信号质量评估方法还包括：
[0026]将所述目标信号图上的失败区域、第一信号标准区域及第二信号标准区域分别标记为不同颜色。
[0027]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种内存信号质量评估系统，包括：
[0028]确定模块，用于在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；
[0029]读写模块，用于将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作；
[0030]评估模块，用于根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量。
[0031]优选地，所述内存信号质量评估系统还包括：
[0032]建立模块，用于以所述读写时序电平值为横坐标、以所述读写参考电平值为纵坐标，分别建立读信号图和写信号图；其中，在任一取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下，若读操作失败，则将所述读信号图上对应的取值区域标记为失败区域、若写操作失败，则将所述写信号图上对应的取值区域标记为失败区域。
[0033]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种内存信号质量评估装置，包括：
[0034]存储器，用于存储计算机程序；
[0035]处理器，用于在执行所述计算机程序时实现上述任一种内存信号质量评估方法的步骤。
[0036]本专利技术提供了一种内存信号质量评估方法，在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作；根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量。可见，本申请通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。
[0037]本专利技术还提供了一种内存信号质量评估系统及装置，与上述质量评估方法具有相同的有益效果。
附图说明
[0038]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0039]图1为本专利技术实施例提供的一种内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存信号质量评估方法，其特征在于，包括：在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作；根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量。2.如权利要求1所述的内存信号质量评估方法，其特征在于，将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作，包括：将所述读写参考电平值从所述第一取值范围的最大值开始，按照预设第一步进值依次取值，直至取到所述第一取值范围的最小值；以每次所述读写参考电平值的取值为基础，将所述读写时序电平值从所述第二取值范围的最小值开始，按照预设第二步进值依次取值，直至取到所述第二取值范围的最大值，并分别在不同取值的所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作。3.如权利要求2所述的内存信号质量评估方法，其特征在于，所述预设第一步进值和所述预设第二步进值的确定过程，包括：预先设置第一步进值、第二步进值与评估准确度要求之间的步进准确度对应关系；根据所述步进准确度对应关系，确定与所述内存的实际评估准确度要求对应的所述预设第一步进值及所述预设第二步进值。4.如权利要求1所述的内存信号质量评估方法，其特征在于，在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围，包括：通过定制BIOS，使所述内存所在的系统主板开机后停止在所述内存的初始化过程结束后，以进入确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围的步骤。5.如权利要求1
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4任一项所述的内存信号质量评估方法，其特征在于，所述内存信号质量评估方法还包括：以所述读写时序电平值为横坐标、以所述读写参考电平值为纵坐标，分别建立读信号图和写信号图；其中，在任一取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下，若读操作失败，则将所述读信号图上对应的取值区...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴忠良，闫波，李岩，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：